Гафний (Hf)
Переходный металлТвёрдое тело
Стандартный атомный вес
178.49 uЭлектронная конфигурация
[Xe] 6s2 4f14 5d2Температура плавления
2232.85 °C (2506 K)Температура кипения
4602.85 °C (4876 K)Плотность
1.330000e+4 kg/m³Степени окисления
−2, 0, +1, +2, +3, +4Электроотрицательность (Полинг)
1.3Энергия ионизации (1-я)
Год открытия
1911Атомный радиус
155 pmДополнительно
Гафний — плотный, коррозионно-стойкий переходный металл группы 4, химически близкий к цирконию. Он почти полностью встречается вместе с циркониевыми минералами и труден для разделения, поскольку оба элемента имеют сходные ионные размеры и химию. Определяющей технологической особенностью является очень большое сечение захвата тепловых нейтронов, что контрастирует с низким поглощением у циркония и делает важным высокочистое разделение для ядерных применений.
Гафний — ковкий металл с ярким серебристым блеском. Его свойства в значительной степени зависят от наличия примесей циркония. Из всех элементов цирконий и гафний являются двумя наиболее трудноразделимыми. Хотя их химия почти идентична, плотность циркония примерно вдвое меньше плотности гафния. Был получен очень чистый гафний, в котором основную примесь составлял цирконий.
Гафний успешно сплавляли с железом, титаном, ниобием, танталом и другими металлами. Карбид гафния — самое тугоплавкое из известных бинарных соединений, а нитрид — самый тугоплавкий из всех известных нитридов металлов (t.пл. 3310C). При 700 degrees C гафний быстро поглощает водород с образованием состава HfH1.86.
Гафний устойчив к концентрированным щелочам, но при повышенных температурах реагирует с кислородом, азотом, углеродом, бором, серой и кремнием. Галогены непосредственно реагируют с образованием тетрагалогенидов.
Название происходит от латинского hafnia, означающего Копенгаген. Элемент под названием целтий был ошибочно объявлен открытым в 1911 году французским химиком Жоржем Урбеном в образцах редкоземельных элементов, пока датский физик Нильс Бор, используя свою теорию электронной конфигурации элементов, не предсказал свойства гафния. Бор утверждал, что гафний не будет редкоземельным элементом, а будет найден в циркониевой руде. Гафний был открыт голландским физиком Дирком Костером и венгерским физиком Георгом фон Хевеши в 1923 году, когда они работали в институте Бора в Копенгагене.
Гафний был открыт Дирком Костером, датским химиком, и Джорджем Чарльзом де Хевеши, венгерским химиком, в 1923 году. Они использовали метод, известный как рентгеновская спектроскопия, для изучения расположения внешних электронов атомов в образцах циркониевой руды. Электронная структура гафния была предсказана Нильсом Бором, и Костер с Хевеши обнаружили соответствующий ей характерный рисунок. Гафний трудно отделить от циркония, и он присутствует во всех его рудах. Его получают теми же методами, которые используются для извлечения циркония.
От Hafinia, латинского названия Копенгагена. За много лет до открытия в 1923 году (приписываемого Д. Костеру и Г. фон Хевеши) считалось, что гафний присутствует в различных минералах и в разных концентрациях. На основании теории Бора ожидалось, что новый элемент будет связан с цирконием.
Окончательно он был идентифицирован в цирконе из Норвегии с помощью рентгеноспектроскопического анализа. Он был назван в честь города, в котором было сделано открытие. Большинство циркониевых минералов содержат 1–5 процентов гафния.
Изначально его отделяли от циркония многократной перекристаллизацией двойных фторидов аммония или калия, проведённой фон Хевеши и Янценом. Металлический гафний впервые был получен ван Аркелем и де Бором пропусканием паров тетраиодида над нагретой вольфрамовой нитью. Почти весь производимый сегодня металлический гафний получают восстановлением тетрахлорида магнием или натрием (процесс Кролла).
Изображения
Свойства
Физические
Химические
Термодинамические
Ядерные
Распространённость
Реакционная способность
N/A
Кристаллическая структура
Электронная структура
Идентификаторы
Электронная конфигурация Measured
Hf: 4f¹⁴ 5d² 6s²[Xe] 4f¹⁴ 5d² 6s²1s² 2s² 2p⁶ 3s² 3p⁶ 3d¹⁰ 4s² 4p⁶ 4d¹⁰ 5s² 5p⁶ 4f¹⁴ 5d² 6s²Модель атома
Изотопы меняют число нейтронов, массу и стабильность — но не электронную конфигурацию нейтрального атома.
Схематическая модель атома, не в масштабе.
Атомный отпечаток
Спектр испускания / поглощения
Распределение изотопов
| Массовое число | Атомная масса (а.е.м.) | Природная распространённость | Период полураспада |
|---|---|---|---|
| 176 Стабильный | 175,9414076 ± 0,0000022 | 5.2600% | Стабильный |
| 178 Стабильный | 177,9437058 ± 0,000002 | 27.2800% | Стабильный |
| 179 Стабильный | 178,9458232 ± 0,000002 | 13.6200% | Стабильный |
| 180 Стабильный | 179,946557 ± 0,000002 | 35.0800% | Стабильный |
Фазовое состояние
Причина: на 2207.8 °C ниже точки плавления (2232.85 °C)
Схематично, не в масштабе
Точки фазовых переходов
Энергии переходов
Энергия для плавления 1 моля при tплав
Энергия для испарения 1 моля при tкип
Энергия для возгонки 1 моля при tвозг
Плотность
При нормальных условиях
При нормальных условиях
Атомные спектры
Показано 10 из 72 Атомные спектры. Сортировка по заряду иона (по возрастанию).
Состав спектральных линий ?
| Ion | Заряд | Total lines | Transition probabilities | Level designations |
|---|---|---|---|---|
| Hf I | 0 | 5341 | 187 | 3821 |
| Hf II | +1 | 218 | 2 | 10 |
| Hf III | +2 | 37 | 0 | 0 |
| Hf IV | +3 | 27 | 0 | 0 |
| Hf V | +4 | 82 | 0 | 0 |
Состав энергетических уровней ?
| Ion | Заряд | Levels |
|---|---|---|
| Hf I | 0 | 333 |
| Hf II | +1 | 125 |
| Hf III | +2 | 2 |
| Hf IV | +3 | 2 |
| Hf V | +4 | 2 |
| Hf VI | +5 | 2 |
| Hf VII | +6 | 2 |
| Hf VIII | +7 | 2 |
| Hf IX | +8 | 2 |
| Hf X | +9 | 2 |
Ионные радиусы
| Заряд | Координация | Спин | Радиус |
|---|---|---|---|
| +4 | 4 | N/A | 57.99999999999999 пм |
| +4 | 6 | N/A | 71 пм |
| +4 | 7 | N/A | 76 пм |
| +4 | 8 | N/A | 83 пм |
Соединения
Изотопы (4)
| Массовое число | Атомная масса (а.е.м.) | Природная распространённость | Период полураспада | Режим распада | |
|---|---|---|---|---|---|
| 176 Стабильный | 175,9414076 ± 0,0000022 | 5.2600% ± 0.0700% | Стабильный | stable | |
| 178 Стабильный | 177,9437058 ± 0,000002 | 27.2800% ± 0.0700% | Стабильный | stable | |
| 179 Стабильный | 178,9458232 ± 0,000002 | 13.6200% ± 0.0200% | Стабильный | stable | |
| 180 Стабильный | 179,946557 ± 0,000002 | 35.0800% ± 0.1600% | Стабильный | stable |
Спектральные линии
Показано 50 из 1890 Спектральные линии. По умолчанию показаны только спектральные линии с измеренной интенсивностью.
| Длина волны (нм) | Интенсивность | Стадия ионизации | Тип | Переход | Точность | Источник | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 417.433998 нм | 48000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p z 5D* | Измерено | NIST | |
| 380.03629 нм | 36000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p z 5D* | Измерено | NIST | |
| 382.072307 нм | 34000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p y 3F* | Измерено | NIST | |
| 723.71003 нм | 34000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d.6s2.(a 2D).6p z 3D* | Измерено | NIST | |
| 384.917811 нм | 32000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 1D → 5d2.(a 3F).6s.(a 2F).6p y 1D* | Измерено | NIST | |
| 713.1807 нм | 32000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d.6s2.(a 2D).6p z 3D* | Измерено | NIST | |
| 389.993003 нм | 29000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p z 5D* | Измерено | NIST | |
| 395.181289 нм | 26000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p y 3F* | Измерено | NIST | |
| 385.830632 нм | 25000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p y 3D* | Измерено | NIST | |
| 724.0873 нм | 21000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d.6s2.(a 2D).6p z 3D* | Измерено | NIST | |
| 393.137246 нм | 19000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p y 3D* | Измерено | NIST | |
| 480.049829 нм | 17000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 1D → 5d.6s2.(a 2D).6p z 1P* | Измерено | NIST | |
| 397.347912 нм | 15000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p z 5D* | Измерено | NIST | |
| 706.38474 нм | 15000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 1D → 5d.6s2.(a 2D).6p z 3P* | Измерено | NIST | |
| 381.177553 нм | 14000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p z 3G* | Измерено | NIST | |
| 555.06011 нм | 14000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p z 5G* | Измерено | NIST | |
| 555.211884 нм | 14000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 1D → 5d.6s2.(a 2D).6p z 1F* | Измерено | NIST | |
| 456.593715 нм | 13000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 1D → 5d2.(a 3P).6s.(a 4P).6p y 5D* | Измерено | NIST | |
| 435.630591 нм | 12000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p z 5D* | Измерено | NIST | |
| 445.734411 нм | 12000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p z 5F* | Измерено | NIST | |
| 459.87979 нм | 12000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p z 5F* | Измерено | NIST | |
| 462.086529 нм | 12000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p z 5F* | Измерено | NIST | |
| 465.518924 нм | 12000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3P → 5d2.(a 3P).6s.(a 4P).6p z 3S* | Измерено | NIST | |
| 380.044548 нм | 11000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 1D → 5d2.(a 3P).6s.(a 4P).6p z 5S* | Измерено | NIST | |
| 429.477692 нм | 11000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p z 5D* | Измерено | NIST | |
| 681.89395 нм | 11000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3P → 5d.6s2.(a 2D).6p z 1F* | Измерено | NIST | |
| 396.799621 нм | 10000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p z 5D* | Измерено | NIST | |
| 406.28356 нм | 10000 | Hf I | emission | 5d.6s2.(a 2D).6p z 1D* → 3512 | Измерено | NIST | |
| 497.525232 нм | 10000 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p z 5F* | Измерено | NIST | |
| 454.093108 нм | 8400 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 1D → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p y 3F* | Измерено | NIST | |
| 443.80364 нм | 8300 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3P → 5d2.(a 3P).6s.(a 4P).6p z 3S* | Измерено | NIST | |
| 446.117576 нм | 8300 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 1D → 5d2.(a 3P).6s.(a 4P).6p z 3S* | Измерено | NIST | |
| 459.891547 нм | 8300 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p z 5D* | Измерено | NIST | |
| 408.33549 нм | 8000 | Hf I | emission | 5d.6s2.(a 2D).6p z 1D* → 3499 | Измерено | NIST | |
| 571.91718 нм | 7300 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3P → 5d.6s2.(a 2D).6p z 1P* | Измерено | NIST | |
| 403.225898 нм | 7200 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p y 3F* | Измерено | NIST | |
| 478.27405 нм | 7100 | Hf I | emission | 5d.6s2.(a 2D).6p z 3F* → 6p2.(3P).5d.(2D).6s c 3D | Измерено | NIST | |
| 383.001314 нм | 6700 | Hf I | emission | 5d3.(b 4F).6s a 5F → 5d2.(b 1D).6s.(b 2D).6p v 3F* | Измерено | NIST | |
| 504.743848 нм | 6500 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3P → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p y 3D* | Измерено | NIST | |
| 485.92338 нм | 6400 | Hf I | emission | 5d.6s2.(a 2D).6p z 3F* → 3512 | Измерено | NIST | |
| 386.09058 нм | 6300 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3P → 5d2.(a 3F).6s.(a 2F).6p y 1F* | Измерено | NIST | |
| 441.790242 нм | 6200 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 1D → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p y 3D* | Измерено | NIST | |
| 388.935622 нм | 5900 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 1D → 5d2.(a 3P).6s.(a 4P).6p y 5D* | Измерено | NIST | |
| 469.90048 нм | 5900 | Hf I | emission | 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p z 5G* → 5d2.(3F).6s.(a 4F).7s b 5F | Измерено | NIST | |
| 678.92714 нм | 5900 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p z 5G* | Измерено | NIST | |
| 433.027751 нм | 5800 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p y 3F* | Измерено | NIST | |
| 410.65431 нм | 5600 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 1G → 5d2.(a 3F).6s.(a 2F).6p y 1F* | Измерено | NIST | |
| 426.34428 нм | 5400 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p z 5F* | Измерено | NIST | |
| 477.37157 нм | 5400 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3P → 5d.6s2.(a 2D).6p z 1P* | Измерено | NIST | |
| 590.29382 нм | 5400 | Hf I | emission | 5d2.6s2 a 3F → 5d2.(a 3F).6s.(a 4F).6p z 5G* | Измерено | NIST |
Расширенные свойства
Ковалентные радиусы (расш.)
Радиусы Ван-дер-Ваальса
Атомные и металлические радиусы
Шкалы нумерации
Шкалы электроотрицательности
Поляризуемость и дисперсия
Параметры Мидемы
Фазовые переходы и аллотропы
| Температура плавления | 2506.15 K |
| Температура кипения | 4873.15 K |
Категории степеней окисления
Расширенные справочные данные
Константы экранирования (14)
| n | Орбиталь | σ |
|---|---|---|
| 1 | s | 1.3984 |
| 2 | p | 4.4012 |
| 2 | s | 18.8102 |
| 3 | d | 13.5702 |
| 3 | p | 21.0168 |
| 3 | s | 21.6885 |
| 4 | d | 36.476 |
| 4 | f | 39.7904 |
| 4 | p | 34.0704 |
| 4 | s | 33.0228 |
Детализация кристаллических радиусов (4)
| Заряд | CN | Спин | rcrystal (pm) | Источник |
|---|---|---|---|---|
| 4 | IV | 72 | from r^3 vs V plots, | |
| 4 | VI | 85 | from r^3 vs V plots, | |
| 4 | VII | 90 | ||
| 4 | VIII | 97 |
Режимы распада изотопов (46)
| Изотоп | Режим | Интенсивность |
|---|---|---|
| 153 | B+ | — |
| 154 | B+ | 100% |
| 154 | A | 0% |
| 155 | B+ | 100% |
| 155 | A | — |
| 156 | A | 100% |
| 156 | B+ | — |
| 157 | A | 94% |
| 157 | B+ | 14% |
| 158 | B+ | 55.7% |
Факторы рассеяния X‑лучей (514)
| Энергия (eV) | f₁ | f₂ |
|---|---|---|
| 10 | — | 2.62338 |
| 10.1617 | — | 2.71485 |
| 10.3261 | — | 2.80951 |
| 10.4931 | — | 2.90326 |
| 10.6628 | — | 2.98247 |
| 10.8353 | — | 3.06384 |
| 11.0106 | — | 3.14744 |
| 11.1886 | — | 3.21346 |
| 11.3696 | — | 3.27509 |
| 11.5535 | — | 3.33789 |
Дополнительные данные
Estimated Crustal Abundance
The estimated element abundance in the earth's crust.
3.0 milligrams per kilogram
Источники (1)
Estimated Oceanic Abundance
The estimated element abundance in the earth's oceans.
7×10-6 milligrams per liter
Источники (1)
Источники
(9)
Data deposited in or computed by PubChem
The half-life and atomic mass data was provided by the Atomic Mass Data Center at the International Atomic Energy Agency.
Element data are cited from the Atomic weights of the elements (an IUPAC Technical Report). The IUPAC periodic table of elements can be found at https://iupac.org/what-we-do/periodic-table-of-elements/. Additional information can be found within IUPAC publication doi:10.1515/pac-2015-0703 Copyright © 2020 International Union of Pure and Applied Chemistry.
The information are cited from Pure Appl. Chem. 2018; 90(12): 1833-2092, https://doi.org/10.1515/pac-2015-0703.
Thomas Jefferson National Accelerator Facility (Jefferson Lab) is one of 17 national laboratories funded by the U.S. Department of Energy. The lab's primary mission is to conduct basic research of the atom's nucleus using the lab's unique particle accelerator, known as the Continuous Electron Beam Accelerator Facility (CEBAF). For more information visit https://www.jlab.org/
The periodic table at the LANL (Los Alamos National Laboratory) contains basic element information together with the history, source, properties, use, handling and more. The provenance data may be found from the link under the source name.
The periodic table contains NIST's critically-evaluated data on atomic properties of the elements. The provenance data that include data for atomic spectroscopy, X-ray and gamma ray, radiation dosimetry, nuclear physics, and condensed matter physics may be found from the link under the source name. Ref: https://www.nist.gov/pml/atomic-spectra-database
This section provides all form of data related to element Hafnium.
The element property data was retrieved from publications.

