Цезий (Cs)
Щелочной металлТвёрдое тело
Стандартный атомный вес
132.905452 uЭлектронная конфигурация
[Xe] 6s1Температура плавления
28.44 °C (301.59 K)Температура кипения
670.85 °C (944 K)Плотность
1930 kg/m³Степени окисления
−1, +1Электроотрицательность (Полинг)
0.79Энергия ионизации (1-я)
Год открытия
1860Атомный радиус
260 pmДополнительно
Цезий — это мягкий щелочной металл с очень низкой энергией ионизации и необычно низкой температурой плавления для металла. В природе он встречается как единственный стабильный изотоп ¹³³Cs, главным образом в редких минералах гранитных пегматитов. Химически это самый тяжёлый стабильный элемент группы 1 и он почти исключительно образует соли Cs⁺. Его наиболее известная технологическая роль — в определении секунды, основанном на микроволновом переходе атома ¹³³Cs.
Металл характеризуется спектром, содержащим две яркие линии в синей области, а также несколько других в красной, жёлтой и зелёной областях спектра. Он серебристо-белый, мягкий и пластичный. Это самый электроотрицательный и самый щелочной элемент.
Цезий, галлий и ртуть — единственные три металла, которые являются жидкими при комнатной температуре. Цезий взрывоопасно реагирует с холодной водой и реагирует со льдом при температурах выше -116C. Гидроксид цезия, самая сильная известная основа, разъедает стекло.
Название происходит от латинского caesius, означающего «небесно-голубой», что было цветом линии цезия в спектроскопе. Цезий был открыт немецким химиком Робертом Вильгельмом Бунзеном и немецким физиком Густавом Робертом Кирхгофом в 1860 году. Впервые он был выделен немецким химиком Карлом Зеттербергом в 1882 году.
Цезий был открыт Робертом Вильгельмом Бунзеном и Густавом Робертом Кирхгофом, немецкими химиками, в 1860 году посредством спектроскопического анализа минеральной воды из Дюркгейма. Они назвали цезий по синим линиям, которые наблюдали в его спектре. Сегодня цезий в основном получают из минерала поллуцита (CsAlSi2O6). Получение чистого цезия затруднено, поскольку цезиевые руды часто загрязнены рубидием, элементом, химически сходным с цезием. Для получения чистого цезия руды цезия и рубидия дробят и нагревают с металлическим натрием до 650°C, образуя сплав, который затем можно разделить процессом, известным как фракционная перегонка. Металлический цезий слишком реакционноспособен, чтобы с ним было легко обращаться, и обычно продается в виде азида цезия (CsN3). Цезий получают из азида цезия путем нагревания.
От латинского слова caesius, небесно-голубой. Цезий был спектроскопически открыт в 1860 году Бунзеном и Кирхгофом в минеральной воде из Дюркгейма.
Изображения
Свойства
Физические
Химические
Термодинамические
Ядерные
Распространённость
Реакционная способность
N/A
Кристаллическая структура
Электронная структура
Идентификаторы
Электронная конфигурация Measured
Cs: 6s¹[Xe] 6s¹1s² 2s² 2p⁶ 3s² 3p⁶ 3d¹⁰ 4s² 4p⁶ 4d¹⁰ 5s² 5p⁶ 6s¹Модель атома
Изотопы меняют число нейтронов, массу и стабильность — но не электронную конфигурацию нейтрального атома.
Схематическая модель атома, не в масштабе.
Атомный отпечаток
Спектр испускания / поглощения
Распределение изотопов
| Массовое число | Атомная масса (а.е.м.) | Природная распространённость | Период полураспада |
|---|---|---|---|
| 133 Стабильный | 132,905451961 ± 0,000000008 | 100.0000% | Стабильный |
Фазовое состояние
Причина: на 3.4 °C ниже точки плавления (28.44 °C)
Схематично, не в масштабе
Точки фазовых переходов
Энергии переходов
Энергия для плавления 1 моля при tплав
Энергия для испарения 1 моля при tкип
Энергия для возгонки 1 моля при tвозг
Плотность
При нормальных условиях
При нормальных условиях
Дополнительно
Атомные спектры
Показано 10 из 55 Атомные спектры. Сортировка по заряду иона (по возрастанию).
Состав спектральных линий ?
| Ion | Заряд | Total lines | Transition probabilities | Level designations |
|---|---|---|---|---|
| Cs I | 0 | 230 | 42 | 228 |
| Cs II | +1 | 1757 | 2 | 1737 |
| Cs III | +2 | 1010 | 1010 | 1010 |
| Cs IV | +3 | 207 | 0 | 207 |
| Cs V | +4 | 143 | 0 | 143 |
| Cs VI | +5 | 67 | 0 | 67 |
| Cs VII | +6 | 185 | 0 | 185 |
| Cs VIII | +7 | 111 | 13 | 111 |
| Cs IX | +8 | 50 | 16 | 50 |
| Cs X | +9 | 86 | 86 | 86 |
Состав энергетических уровней ?
| Ion | Заряд | Levels |
|---|---|---|
| Cs I | 0 | 179 |
| Cs II | +1 | 316 |
| Cs III | +2 | 174 |
| Cs IV | +3 | 116 |
| Cs V | +4 | 50 |
| Cs VI | +5 | 32 |
| Cs VII | +6 | 79 |
| Cs VIII | +7 | 55 |
| Cs IX | +8 | 69 |
| Cs X | +9 | 79 |
Ионные радиусы
| Заряд | Координация | Спин | Радиус |
|---|---|---|---|
| +1 | 6 | N/A | 167 пм |
| +1 | 8 | N/A | 174 пм |
| +1 | 9 | N/A | 178 пм |
| +1 | 10 | N/A | 181 пм |
| +1 | 11 | N/A | 185 пм |
| +1 | 12 | N/A | 188 пм |
Соединения
Изотопы (1)
Cesium has more isotopes than any element32with masses ranging from 114 to 145.
| Массовое число | Атомная масса (а.е.м.) | Природная распространённость | Период полураспада | Режим распада | |
|---|---|---|---|---|---|
| 133 Стабильный | 132,905451961 ± 0,000000008 | 100.0000% | Стабильный | stable |
Спектральные линии
Показано 50 из 728 Спектральные линии. По умолчанию показаны только спектральные линии с измеренной интенсивностью.
| Длина волны (нм) | Интенсивность | Стадия ионизации | Тип | Переход | Точность | Источник | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 460.37908 нм | 10000000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).6s 2[3/2]* → 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[5/2] | Измерено | NIST | |
| 522.70372 нм | 7500000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).6s 2[3/2]* → 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[1/2] | Измерено | NIST | |
| 592.56312 нм | 5100000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).5d 2[7/2]* → 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[5/2] | Измерено | NIST | |
| 556.3024 нм | 3900000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).5d 2[3/2]* → 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[3/2] | Измерено | NIST | |
| 495.28523 нм | 3700000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).5d 2[1/2]* → 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[5/2] | Измерено | NIST | |
| 695.54998 нм | 3700000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).5d 2[7/2]* → 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[5/2] | Измерено | NIST | |
| 524.93849 нм | 2900000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).6s 2[3/2]* → 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[3/2] | Измерено | NIST | |
| 504.38026 нм | 2700000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).6s 2[3/2]* → 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[3/2] | Измерено | NIST | |
| 483.01864 нм | 2500000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).6s 2[3/2]* → 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[5/2] | Измерено | NIST | |
| 583.11404 нм | 2400000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).6s 2[3/2]* → 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[5/2] | Измерено | NIST | |
| 537.09876 нм | 2200000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).5d 2[1/2]* → 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[1/2] | Измерено | NIST | |
| 452.67416 нм | 2000000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).5d 2[1/2]* → 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[3/2] | Измерено | NIST | |
| 487.00392 нм | 1900000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<1/2>).6s 2[1/2]* → 5p5.(2P*<1/2>).6p 2[3/2] | Измерено | NIST | |
| 427.71303 нм | 1800000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).6s 2[3/2]* → 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[3/2] | Измерено | NIST | |
| 697.96684 нм | 1600000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).5d 2[5/2]* → 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[3/2] | Измерено | NIST | |
| 426.470255 нм | 1400000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[5/2] → 5p5.(2P*<3/2>).6d 2[7/2]* | Измерено | NIST | |
| 721.9603 нм | 1400000 | Cs III | emission | 5s2.5p5 2P* → 5s2.5p5 2P* | Измерено | NIST | |
| 714.95415 нм | 1300000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<1/2>).5d 2[5/2]* → 5p5.(2P*<1/2>).6p 2[3/2] | Измерено | NIST | |
| 450.15517 нм | 1200000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).6s 2[3/2]* → 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[1/2] | Измерено | NIST | |
| 527.40539 нм | 1100000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).5d 2[1/2]* → 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[1/2] | Измерено | NIST | |
| 534.91319 нм | 1000000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<1/2>).6s 2[1/2]* → 5p5.(2P*<1/2>).6p 2[3/2] | Измерено | NIST | |
| 653.6445 нм | 1000000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).5d 2[3/2]* → 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[5/2] | Измерено | NIST | |
| 612.86072 нм | 980000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).5d 2[3/2]* → 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[5/2] | Измерено | NIST | |
| 672.44659 нм | 960000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<1/2>).5d 2[5/2]* → 5p5.(2P*<1/2>).6p 2[3/2] | Измерено | NIST | |
| 664.65663 нм | 880000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<1/2>).5d 2[3/2]* → 5p5.(2P*<1/2>).6p 2[1/2] | Измерено | NIST | |
| 400.65447 нм | 860000 | Cs III | emission | 5s2.5p4.(3P<2>).6s 2[2] → 5s2.5p4.(3P<2>).6p 2[3]* | Измерено | NIST | |
| 649.55329 нм | 830000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).5d 2[7/2]* → 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[5/2] | Измерено | NIST | |
| 497.25963 нм | 820000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[5/2] → 5p5.(2P*<3/2>).7s 2[3/2]* | Измерено | NIST | |
| 403.985602 нм | 800000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[5/2] → 5p5.(2P*<3/2>).6d 2[7/2]* | Измерено | NIST | |
| 436.329875 нм | 760000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[3/2] → 5p5.(2P*<3/2>).6d 2[5/2]* | Измерено | NIST | |
| 388.83763 нм | 740000 | Cs III | emission | 5s2.5p4.(3P<1>).5d 2[3] → 5s2.5p4.(3P<2>).6p 2[3]* | Измерено | NIST | |
| 441.02226 нм | 720000 | Cs III | emission | 5s2.5p4.(3P<2>).5d 2[3] → 5s2.5p4.(3P<2>).6p 2[2]* | Измерено | NIST | |
| 450.67197 нм | 720000 | Cs III | emission | 5s2.5p4.(3P<2>).5d 2[3] → 5s2.5p4.(3P<2>).6p 2[2]* | Измерено | NIST | |
| 476.36362 нм | 700000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<1/2>).6s 2[1/2]* → 5p5.(2P*<1/2>).6p 2[1/2] | Измерено | NIST | |
| 520.95813 нм | 650000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<1/2>).6s 2[1/2]* → 5p5.(2P*<1/2>).6p 2[3/2] | Измерено | NIST | |
| 392.55957 нм | 620000 | Cs III | emission | 5s2.5p4.(3P<2>).5d 2[3] → 5s2.5p4.(3P<2>).6p 2[3]* | Измерено | NIST | |
| 442.56759 нм | 560000 | Cs III | emission | 5s2.5p4.(3P<2>).6s 2[2] → 5s2.5p4.(3P<2>).6p 2[2]* | Измерено | NIST | |
| 428.837507 нм | 510000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[3/2] → 5p5.(2P*<3/2>).6d 2[5/2]* | Измерено | NIST | |
| 488.00516 нм | 490000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<1/2>).6s 2[1/2]* → 5p5.(2P*<1/2>).6p 2[1/2] | Измерено | NIST | |
| 581.41641 нм | 450000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).5d 2[3/2]* → 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[3/2] | Измерено | NIST | |
| 395.95055 нм | 420000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).5d 2[1/2]* → 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[1/2] | Измерено | NIST | |
| 461.61693 нм | 420000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<1/2>).6s 2[1/2]* → 5p5.(2P*<1/2>).6p 2[1/2] | Измерено | NIST | |
| 453.896566 нм | 410000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[3/2] → 5p5.(2P*<3/2>).6d 2[3/2]* | Измерено | NIST | |
| 440.525568 нм | 390000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[1/2] → 5p5.(2P*<3/2>).7s 2[3/2]* | Измерено | NIST | |
| 437.30356 нм | 370000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).5d 2[1/2]* → 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[3/2] | Измерено | NIST | |
| 452.28578 нм | 350000 | Cs III | emission | 5s2.5p4.(3P<2>).6s 2[2] → 5s2.5p4.(3P<2>).6p 2[2]* | Измерено | NIST | |
| 389.698641 нм | 340000 | Cs II | emission | 5p5.(2P*<3/2>).6p 2[1/2] → 5p5.(2P*<3/2>).6d 2[1/2]* | Измерено | NIST | |
| 404.34262 нм | 310000 | Cs III | emission | 5s2.5p4.(1D<2>).6s 2[2] → 5s2.5p4.(1D<2>).6p 2[3]* | Измерено | NIST | |
| 645.6318 нм | 310000 | Cs III | emission | 5s2.5p4.(3P<2>).7p 2[3]* → 5s2.5p4.(3P<2>).7d 2[4] | Измерено | NIST | |
| 607.9854 нм | 300000 | Cs III | emission | 5s2.5p4.(3P<2>).5f 2[2]* → 5s2.5p4.(3P<2>).5g 2[3] | Измерено | NIST |
Расширенные свойства
Ковалентные радиусы (расш.)
Радиусы Ван-дер-Ваальса
Атомные и металлические радиусы
Шкалы нумерации
Шкалы электроотрицательности
Поляризуемость и дисперсия
Параметры Мидемы
Фазовые переходы и аллотропы
| Температура плавления | 301.65 K |
| Температура кипения | 944.15 K |
| Критическая точка (температура) | 1938.15 K |
| Критическая точка (давление) | 9.4 MPa |
Категории степеней окисления
Расширенные справочные данные
Константы экранирования (12)
| n | Орбиталь | σ |
|---|---|---|
| 1 | s | 1.0957 |
| 2 | p | 4.1804 |
| 2 | s | 14.4884 |
| 3 | d | 14.0194 |
| 3 | p | 18.4222 |
| 3 | s | 18.6226 |
| 4 | d | 32.1616 |
| 4 | p | 29.1424 |
| 4 | s | 27.9576 |
| 5 | p | 41.349 |
Детализация кристаллических радиусов (6)
| Заряд | CN | Спин | rcrystal (pm) | Источник |
|---|---|---|---|---|
| 1 | VI | 181 | ||
| 1 | VIII | 188 | ||
| 1 | IX | 192 | ||
| 1 | X | 195 | ||
| 1 | XI | 199 | ||
| 1 | XII | 202 |
Режимы распада изотопов (74)
| Изотоп | Режим | Интенсивность |
|---|---|---|
| 111 | p | — |
| 112 | p | 100% |
| 112 | A | 0.3% |
| 113 | p | 100% |
| 114 | B+ | 100% |
| 114 | A | 0% |
| 114 | B+p | 8.7% |
| 114 | B+A | 0.2% |
| 115 | B+ | 100% |
| 115 | B+p | 0.1% |
Факторы рассеяния X‑лучей (508)
| Энергия (eV) | f₁ | f₂ |
|---|---|---|
| 10 | — | 0.04294 |
| 10.1617 | — | 0.04199 |
| 10.3261 | — | 0.04106 |
| 10.4931 | — | 0.04015 |
| 10.6628 | — | 0.03925 |
| 10.8353 | — | 0.03838 |
| 11.0106 | — | 0.04186 |
| 11.1886 | — | 0.04987 |
| 11.3696 | — | 0.06291 |
| 11.5535 | — | 0.06823 |
Дополнительные данные
Estimated Crustal Abundance
The estimated element abundance in the earth's crust.
3 milligrams per kilogram
Источники (1)
Estimated Oceanic Abundance
The estimated element abundance in the earth's oceans.
3×10-4 milligrams per liter
Источники (1)
Sources
Sources of this element.
Cesium, an alkali metal, occurs in lepidolite, pollucte (a hydrated silicate of aluminum and cesium), and in other sources. One of the world's richest sources of cesium is located at Bernic Lake, Manitoba. The deposits are estimated to contain 300,000 tons of pollucite, averaging 20% cesium.
It can be isolated by elecytrolysis of the fused cyanide and by a number of other methods. Very pure, gas-free cesium can be prepared by thermal decomposition of cesium azide.
Источники (1)
- [6] Cesium https://periodic.lanl.gov/55.shtml
Источники
(9)
Data deposited in or computed by PubChem
The half-life and atomic mass data was provided by the Atomic Mass Data Center at the International Atomic Energy Agency.
Element data are cited from the Atomic weights of the elements (an IUPAC Technical Report). The IUPAC periodic table of elements can be found at https://iupac.org/what-we-do/periodic-table-of-elements/. Additional information can be found within IUPAC publication doi:10.1515/pac-2015-0703 Copyright © 2020 International Union of Pure and Applied Chemistry.
The information are cited from Pure Appl. Chem. 2018; 90(12): 1833-2092, https://doi.org/10.1515/pac-2015-0703.
Thomas Jefferson National Accelerator Facility (Jefferson Lab) is one of 17 national laboratories funded by the U.S. Department of Energy. The lab's primary mission is to conduct basic research of the atom's nucleus using the lab's unique particle accelerator, known as the Continuous Electron Beam Accelerator Facility (CEBAF). For more information visit https://www.jlab.org/
The periodic table at the LANL (Los Alamos National Laboratory) contains basic element information together with the history, source, properties, use, handling and more. The provenance data may be found from the link under the source name.
The periodic table contains NIST's critically-evaluated data on atomic properties of the elements. The provenance data that include data for atomic spectroscopy, X-ray and gamma ray, radiation dosimetry, nuclear physics, and condensed matter physics may be found from the link under the source name. Ref: https://www.nist.gov/pml/atomic-spectra-database
This section provides all form of data related to element Cesium.
The element property data was retrieved from publications.

