Теллур (Te)
ПолуметаллТвёрдое тело
Стандартный атомный вес
127.6 uЭлектронная конфигурация
[Kr] 5s2 4d10 5p4Температура плавления
449.51 °C (722.66 K)Температура кипения
987.85 °C (1261 K)Плотность
6232 kg/m³Степени окисления
−2, −1, 0, +1, +2, +3, +4, +5, +6Электроотрицательность (Полинг)
2.1Энергия ионизации (1-я)
Год открытия
1782Атомный радиус
140 pmДополнительно
Теллур — хрупкий металлоид группы 16, расположенный ниже селена и выше полония. Он химически родственен сере и селену, но более металлический, менее распространенный и легче восстанавливается. В природе он встречается главным образом как теллуридные минералы и как minorный компонент медных руд. Его технологическое значение связано с полупроводниковыми и термоэлектрическими соединениями, фотоэлектрическими элементами на основе теллурида кадмия и малыми легирующими добавками, изменяющими обрабатываемость и коррозионное поведение.
Кристаллический теллур имеет серебристо-белый вид и в чистом виде обладает металлическим блеском. Он хрупок и легко растирается в порошок. Аморфный теллур получают осаждением теллура из раствора теллуровой или теллуристой кислоты. Вопрос о том, действительно ли эта форма является аморфной или состоит из мельчайших кристаллов, остаётся открытым. Теллур является p-типа полупроводником и проявляет большую проводимость в определённых направлениях в зависимости от ориентации атомов.
Его проводимость несколько увеличивается при воздействии света. Его можно легировать серебром, медью, золотом, оловом или другими элементами. На воздухе теллур горит зеленовато-синим пламенем, образуя диоксид. Расплавленный теллур разъедает железо, медь и нержавеющую сталь.
Название происходит от латинского Tellus, римской богини Земли. Теллур был открыт Францем Иосифом Мюллером фон Рейхенштайном в 1782 году и был оставлен без внимания в течение 15 лет, пока не был выделен немецким химиком Мартином-Хайнрихом Клапротом в 1798 году. Венгерский химик Пал Китайбель независимо открыл теллур в 1789 году, до работы Клапрота, но после фон Рейхенштайна.
Теллур был открыт Францем Иосифом Мюллером фон Рейхенштайном, румынским горным чиновником, в 1782 году. Рейхенштайн был главным инспектором всех рудников, плавильных заводов и солеварен в Трансильвании. Он также интересовался химией и выделил новый металл из золотой руды, известной как aurum album, который он считал сурьмой. Вскоре он понял, что полученный им металл вовсе не сурьма, а ранее неизвестный элемент. Работа Рейхенштайна была забыта до 1798 года, когда Мартин Хайнрих Клапрот, немецкий химик, упомянул это вещество в статье. Клапрот назвал новый элемент теллуром, но полностью приписал его открытие Рейхенштайну. Теллур встречается в свободном виде в природе, но чаще всего обнаруживается в рудах сильванита (AgAuTe4), калаверита (AuTe2) и креннерита (AuTe2). Сегодня большую часть теллура получают как побочный продукт добычи и переработки меди.
От латинского слова tellus, земля. Открыт Мюллером фон Рейхенштайном в 1782 году; назван Клапротом, который выделил его в 1798 году.
Изображения
Свойства
Физические
Химические
Термодинамические
Ядерные
Распространённость
Реакционная способность
N/A
Кристаллическая структура
Электронная структура
Идентификаторы
Электронная конфигурация Measured
Te: 4d¹⁰ 5s² 5p⁴[Kr] 4d¹⁰ 5s² 5p⁴1s² 2s² 2p⁶ 3s² 3p⁶ 3d¹⁰ 4s² 4p⁶ 4d¹⁰ 5s² 5p⁴Модель атома
Изотопы меняют число нейтронов, массу и стабильность — но не электронную конфигурацию нейтрального атома.
Схематическая модель атома, не в масштабе.
Атомный отпечаток
Спектр испускания / поглощения
Распределение изотопов
| Массовое число | Атомная масса (а.е.м.) | Природная распространённость | Период полураспада |
|---|---|---|---|
| 122 Стабильный | 121,9030435 ± 0,0000016 | 2.5500% | Стабильный |
| 124 Стабильный | 123,9028171 ± 0,0000016 | 4.7400% | Стабильный |
| 125 Стабильный | 124,9044299 ± 0,0000016 | 7.0700% | Стабильный |
| 126 Стабильный | 125,9033109 ± 0,0000016 | 18.8400% | Стабильный |
Фазовое состояние
Причина: на 424.5 °C ниже точки плавления (449.51 °C)
Схематично, не в масштабе
Точки фазовых переходов
Энергии переходов
Энергия для плавления 1 моля при tплав
Энергия для испарения 1 моля при tкип
Энергия для возгонки 1 моля при tвозг
Плотность
При нормальных условиях
При нормальных условиях
Дополнительно
Атомные спектры
Показано 10 из 52 Атомные спектры. Сортировка по заряду иона (по возрастанию).
Состав спектральных линий ?
| Ion | Заряд | Total lines | Transition probabilities | Level designations |
|---|---|---|---|---|
| Te I | 0 | 133 | 6 | 112 |
| Te II | +1 | 345 | 0 | 310 |
Состав энергетических уровней ?
| Ion | Заряд | Levels |
|---|---|---|
| Te I | 0 | 120 |
| Te II | +1 | 129 |
| Te III | +2 | 55 |
| Te IV | +3 | 16 |
| Te V | +4 | 45 |
| Te VI | +5 | 9 |
| Te VII | +6 | 60 |
| Te VIII | +7 | 2 |
| Te IX | +8 | 2 |
| Te X | +9 | 2 |
Ионные радиусы
| Заряд | Координация | Спин | Радиус |
|---|---|---|---|
| -2 | 6 | N/A | 221 пм |
| +4 | 3 | N/A | 52 пм |
| +4 | 4 | N/A | 66 пм |
| +4 | 6 | N/A | 97 пм |
| +6 | 4 | N/A | 43 пм |
| +6 | 6 | N/A | 56.00000000000001 пм |
Соединения
Изотопы (4)
Thirty isotopes of tellurium are known, with atomic masses ranging from 108 to 137. Natural tellurium consists of eight isotopes.
| Массовое число | Атомная масса (а.е.м.) | Природная распространённость | Период полураспада | Режим распада | |
|---|---|---|---|---|---|
| 122 Стабильный | 121,9030435 ± 0,0000016 | 2.5500% ± 0.1200% | Стабильный | stable | |
| 124 Стабильный | 123,9028171 ± 0,0000016 | 4.7400% ± 0.1400% | Стабильный | stable | |
| 125 Стабильный | 124,9044299 ± 0,0000016 | 7.0700% ± 0.1500% | Стабильный | stable | |
| 126 Стабильный | 125,9033109 ± 0,0000016 | 18.8400% ± 0.2500% | Стабильный | stable |
Спектральные линии
Показано 50 из 74 Спектральные линии. По умолчанию показаны только спектральные линии с измеренной интенсивностью.
| Длина волны (нм) | Интенсивность | Стадия ионизации | Тип | Переход | Точность | Источник | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 486.623 нм | 2300 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).6p 4D* → 5s2.5p2.(3P).6d 4F | Измерено | NIST | |
| 557.636 нм | 2100 | Te II | emission | 5s2.5p2.(1D).6s 2D → 5s2.5p2.(1D).6p 2F* | Измерено | NIST | |
| 570.812 нм | 1900 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).6s 4P → 5s2.5p2.(3P).6p 4D* | Измерено | NIST | |
| 483.13 нм | 1600 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).6p 4D* → 5s2.5p2.(3P).6d 4P | Измерено | NIST | |
| 564.926 нм | 1500 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).6s 4P → 5s2.5p2.(3P).6p 4D* | Измерено | NIST | |
| 575.586 нм | 1500 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).6s 4P → 5s2.5p2.(3P).6p 4D* | Измерено | NIST | |
| 544.984 нм | 1400 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).6s 4P → 5s2.5p2.(3P).6p 4P* | Измерено | NIST | |
| 468.691 нм | 1310 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).6p 4P* → 5s2.5p2.(3P).6d 4D | Измерено | NIST | |
| 476.605 нм | 1300 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).6p 2D* → 5s2.5p2.(3P).6d 2F | Измерено | NIST | |
| 490.442 нм | 1300 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).6p 2D* → 5s2.5p2.(3P).6d 2F | Измерено | NIST | |
| 566.622 нм | 1200 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).6s 2P → 5s2.5p2.(3P).6p 2D* | Измерено | NIST | |
| 597.468 нм | 1200 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).6s 4P → 5s2.5p2.(3P).6p 4P* | Измерено | NIST | |
| 548.795 нм | 1100 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).5d 2P → 5s2.5p2.(3P).6p 4D* | Измерено | NIST | |
| 484.29 нм | 1000 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).5d 2D → 5s2.5p2.(3P).4f 4D* | Измерено | NIST | |
| 486.513 нм | 1000 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).6p 4D* → 5s2.5p2.(3P).6d 4D | Измерено | NIST | |
| 482.712 нм | 900 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).6p 4P* → 5s2.5p2.(3P).6d 4D | Измерено | NIST | |
| 447.865 нм | 830 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).6p 4P* → 5s2.5p2.(3P).6d 4D | Измерено | NIST | |
| 500.081 нм | 810 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).6s 4P → 5s2.5p2.(3P).6p 2D* | Измерено | NIST | |
| 477.155 нм | 800 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).6p 4D* → 5s2.5p2.(3P).6d 4F | Измерено | NIST | |
| 593.615 нм | 730 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).6s 4P → 5s2.5p2.(3P).6p 4S* | Измерено | NIST | |
| 464.111 нм | 680 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).6p 4D* → 5s2.5p2.(3P).6d 4D | Измерено | NIST | |
| 470.654 нм | 670 | Te II | emission | 5s2.5p2.(1D).6s 2D → 5s2.5p2.(1D).6p 2P* | Измерено | NIST | |
| 436.402 нм | 650 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).5d 4P → 5s2.5p2.(3P).4f 4D* | Измерено | NIST | |
| 636.713 нм | 570 | Te II | emission | 5s.(2S).5p4.(1D) 2D → 5s2.5p2.(3P).6p 4D* | Измерено | NIST | |
| 469.638 нм | 560 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).5d 4P → 5s2.5p2.(3P).4f 2D* | Измерено | NIST | |
| 416.977 нм | 540 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).5d 2D → 5s2.5p2.(3P).4f 2F* | Измерено | NIST | |
| 463.062 нм | 540 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).6p 4S* → 5s2.5p2.(3P).7s 2P | Измерено | NIST | |
| 478.488 нм | 510 | Te II | emission | 5s2.5p2.(1D).6s 2D → 5s2.5p2.(1D).6p 2P* | Измерено | NIST | |
| 455.778 нм | 480 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).6p 4S* → 5s2.5p2.(3P).6d 4D | Измерено | NIST | |
| 683.7663 нм | 430 | Te I | emission | 5p3.(4S*).6p 5P → 5p3.(4S*).8d 5D* | Измерено | NIST | |
| 404.716 нм | 400 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).5d 4P → 5s2.5p2.(3P).4f 2D* | Измерено | NIST | |
| 428.583 нм | 370 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).6p 2S* → 5s2.5p2.(3P).6d 4D | Измерено | NIST | |
| 394.798 нм | 340 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).5d 4P → 5s2.5p2.(3P).4f 4F* | Измерено | NIST | |
| 422.572 нм | 340 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).5d 4P → 5s2.5p2.(3P).4f 4D* | Измерено | NIST | |
| 396.921 нм | 320 | Te II | emission | 5s.(2S).5p4.(1D) 2D → 5s2.5p2.(1D).6p 2D* | Измерено | NIST | |
| 410.105 нм | 320 | Te II | emission | 5s2.5p2.(1D).5d 2S → 5s2.5p2.(3P).4f 2D* | Измерено | NIST | |
| 412.732 нм | 320 | Te II | emission | 5s2.5p2.(1D).5d 2S → 5s2.5p2.(3P).4f 4D* | Измерено | NIST | |
| 496.187 нм | 320 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).6p 4P* → 5s2.5p2.(3P).6d 4D | Измерено | NIST | |
| 400.653 нм | 310 | Te II | emission | 5s.(2S).5p4.(3P) 4P → 5s2.5p2.(3P).6p 4D* | Измерено | NIST | |
| 438.51 нм | 310 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).5d 4P → 5s2.5p2.(3P).4f 2D* | Измерено | NIST | |
| 417.929 нм | 300 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).5d 4P → 5s2.5p2.(1S).6p 2P* | Измерено | NIST | |
| 427.343 нм | 300 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).6p 2S* → 5s2.5p2.(3P).7s 2P | Измерено | NIST | |
| 679.109 нм | 300 | Te I | emission | 5p3.(4S*).6p 5P → 5p3.(4S*).8d 3D* | Измерено | NIST | |
| 669.0154 нм | 290 | Te I | emission | 5p3.(4S*).6p 5P → 5p3.(4S*).8d 5D* | Измерено | NIST | |
| 453.708 нм | 260 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).5d 4P → 5s2.5p2.(3P).4f 4F* | Измерено | NIST | |
| 397.592 нм | 250 | Te II | emission | 5s.(2S).5p4.(1D) 2D → 5s2.5p2.(1D).6p 2F* | Измерено | NIST | |
| 416.356 нм | 250 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).5d 4P → 5s2.5p2.(3P).4f 4D* | Измерено | NIST | |
| 398.176 нм | 240 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).6s 2P → 5s2.5p2.(1D).6p 2P* | Измерено | NIST | |
| 425.114 нм | 240 | Te II | emission | 5s2.5p2.(3P).5d 2D → 5s2.5p2.(3P).4f 2F* | Измерено | NIST | |
| 404.888 нм | 230 | Te II | emission | 5s.(2S).5p4.(3P) 4P → 5s2.5p2.(3P).6p 4S* | Измерено | NIST |
Расширенные свойства
Ковалентные радиусы (расш.)
Радиусы Ван-дер-Ваальса
Атомные и металлические радиусы
Шкалы нумерации
Шкалы электроотрицательности
Поляризуемость и дисперсия
Фазовые переходы и аллотропы
| Температура плавления | 722.66 K |
| Температура кипения | 1261.15 K |
| Критическая точка (температура) | 2329.15 K |
Категории степеней окисления
Расширенные справочные данные
Константы экранирования (11)
| n | Орбиталь | σ |
|---|---|---|
| 1 | s | 1.0432 |
| 2 | p | 4.14 |
| 2 | s | 13.6688 |
| 3 | d | 14.1607 |
| 3 | p | 17.9911 |
| 3 | s | 18.0019 |
| 4 | d | 32.04 |
| 4 | p | 28.878 |
| 4 | s | 27.5916 |
| 5 | p | 41.1915 |
Детализация кристаллических радиусов (6)
| Заряд | CN | Спин | rcrystal (pm) | Источник |
|---|---|---|---|---|
| -2 | VI | 207 | Pauling's (1960) crystal radius, | |
| 4 | III | 66 | ||
| 4 | IV | 80 | ||
| 4 | VI | 111 | ||
| 6 | IV | 57 | calculated, | |
| 6 | VI | 70 |
Режимы распада изотопов (67)
| Изотоп | Режим | Интенсивность |
|---|---|---|
| 104 | A | 100% |
| 105 | A | 100% |
| 106 | A | 100% |
| 107 | A | 70% |
| 107 | B+ | — |
| 107 | B+p | — |
| 108 | B+ | 51% |
| 108 | A | 49% |
| 108 | B+p | 2.4% |
| 108 | B+A | 0.1% |
Факторы рассеяния X‑лучей (508)
| Энергия (eV) | f₁ | f₂ |
|---|---|---|
| 10 | — | 9.70237 |
| 10.1617 | — | 9.72653 |
| 10.3261 | — | 9.75076 |
| 10.4931 | — | 9.77506 |
| 10.6628 | — | 9.7994 |
| 10.8353 | — | 9.77638 |
| 11.0106 | — | 9.72308 |
| 11.1886 | — | 9.67008 |
| 11.3696 | — | 9.61736 |
| 11.5535 | — | 9.54395 |
Дополнительные данные
Estimated Crustal Abundance
The estimated element abundance in the earth's crust.
1×10-3 milligrams per kilogram
Источники (1)
- [5] Tellurium https://education.jlab.org/itselemental/ele052.html
Estimated Oceanic Abundance
The estimated element abundance in the earth's oceans.
Not Applicable
Источники (1)
- [5] Tellurium https://education.jlab.org/itselemental/ele052.html
Sources
Sources of this element.
Tellurium is occasionally found native, but is more often found as the telluride of gold (calaverite), and combined with other metals. It is recovered commercially from anode muds produced during the electrolytic refining of blister copper. The U.S., Canada, Peru, and Japan are the largest Free World producers of the element.
Источники (1)
- [6] Tellurium https://periodic.lanl.gov/52.shtml
Источники
(9)
Data deposited in or computed by PubChem
The half-life and atomic mass data was provided by the Atomic Mass Data Center at the International Atomic Energy Agency.
Element data are cited from the Atomic weights of the elements (an IUPAC Technical Report). The IUPAC periodic table of elements can be found at https://iupac.org/what-we-do/periodic-table-of-elements/. Additional information can be found within IUPAC publication doi:10.1515/pac-2015-0703 Copyright © 2020 International Union of Pure and Applied Chemistry.
The information are cited from Pure Appl. Chem. 2018; 90(12): 1833-2092, https://doi.org/10.1515/pac-2015-0703.
Thomas Jefferson National Accelerator Facility (Jefferson Lab) is one of 17 national laboratories funded by the U.S. Department of Energy. The lab's primary mission is to conduct basic research of the atom's nucleus using the lab's unique particle accelerator, known as the Continuous Electron Beam Accelerator Facility (CEBAF). For more information visit https://www.jlab.org/
The periodic table at the LANL (Los Alamos National Laboratory) contains basic element information together with the history, source, properties, use, handling and more. The provenance data may be found from the link under the source name.
The periodic table contains NIST's critically-evaluated data on atomic properties of the elements. The provenance data that include data for atomic spectroscopy, X-ray and gamma ray, radiation dosimetry, nuclear physics, and condensed matter physics may be found from the link under the source name. Ref: https://www.nist.gov/pml/atomic-spectra-database
This section provides all form of data related to element Tellurium.
The element property data was retrieved from publications.

