Бор (B)
ПолуметаллТвёрдое тело
Стандартный атомный вес
10.81 u [10,806, 10,821]Электронная конфигурация
[He] 2s2 2p1Температура плавления
2074.85 °C (2348 K)Температура кипения
3999.85 °C (4273 K)Плотность
2370 kg/m³Степени окисления
−5, −1, 0, +1, +2, +3Электроотрицательность (Полинг)
2.04Энергия ионизации (1-я)
Год открытия
1808Атомный радиус
85 pmДополнительно
Бор — легкий металлоид группы 13, примечательный электронодефицитным связыванием и богатой кластерной химией. В природе он встречается только в соединениях, главным образом в виде боратов в эвапоритовых минералах и рассолах. Элементарный бор трудно получать высокой чистоты, и он существует в нескольких аллотропных модификациях, построенных из икосаэдров B₁₂. В технологическом отношении наибольшее значение бор имеет через боратные минералы, боросиликатное стекло, detergents, ceramics, fertilizers, and neutron-absorbing materials.
Элемент группы 13 периодической таблицы. Существуют две аллотропные формы: аморфный бор — коричневый порошок, а металлический бор — чёрный. Металлическая форма твёрдая (9.3 по шкале Мооса) и является плохим проводником при комнатной температуре. В свободном виде в природе не встречается. Бор-10 используется в управляющих стержнях и экранах ядерных реакторов. Был открыт в 1808 г. сэром Хамфри Дэви, а также Ж.-Л. Гей-Люссаком и Л.-Ж. Тенаром.
Название происходит от арабского buraq — «белый». Хотя его соединения были известны на протяжении тысячелетий, элемент не был выделен до 1808 года французскими химиками Луи-Жозефом Гей-Люссаком и Луи-Жаком Тенаром.
Бор был открыт Жозефом-Луи Гей-Люссаком и Луи-Жаком Тенаром, французскими химиками, а независимо — сэром Хамфри Дэви, английским химиком, в 1808 году. Все они выделили бор путем соединения борной кислоты (H3BO3) с калием. Сегодня бор получают путем нагревания буры (Na2B4O7·10H2O) с углеродом, хотя при необходимости получения бора высокой чистоты используют и другие методы.
От арабского слова Buraq, персидского Burah. Соединения бора были известны на протяжении тысячелетий, но сам элемент был открыт лишь в 1808 году сэром Хамфри Дэви, а также Гей-Люссаком и Тенаром.
Изображения
Свойства
Физические
Химические
Термодинамические
Ядерные
Распространённость
Реакционная способность
N/A
Кристаллическая структура
Электронная структура
Идентификаторы
Электронная конфигурация Measured
B: 2s² 2p¹[He] 2s² 2p¹1s² 2s² 2p¹Модель атома
Изотопы меняют число нейтронов, массу и стабильность — но не электронную конфигурацию нейтрального атома.
Схематическая модель атома, не в масштабе.
Атомный отпечаток
Спектр испускания / поглощения
Распределение изотопов
| Массовое число | Атомная масса (а.е.м.) | Природная распространённость | Период полураспада |
|---|---|---|---|
| 10 Стабильный | 10,01293695 ± 0,00000041 | 19.9000% | Стабильный |
| 11 Стабильный | 11,00930536 ± 0,00000045 | 80.1000% | Стабильный |
Фазовое состояние
Причина: на 2049.8 °C ниже точки плавления (2074.85 °C)
Схематично, не в масштабе
Точки фазовых переходов
Энергии переходов
Энергия для плавления 1 моля при tплав
Энергия для испарения 1 моля при tкип
Энергия для возгонки 1 моля при tвозг
Плотность
При нормальных условиях
При нормальных условиях
Атомные спектры
Состав спектральных линий ?
| Ion | Заряд | Total lines | Transition probabilities | Level designations |
|---|---|---|---|---|
| B I | 0 | 371 | 269 | 371 |
| 11B I Изотоп | 0 | 53 | 0 | 53 |
| 10B I Изотоп | 0 | 11 | 0 | 11 |
| B II | +1 | 592 | 435 | 592 |
| 10B II Изотоп | +1 | 9 | 0 | 9 |
| 11B II Изотоп | +1 | 9 | 0 | 9 |
| B III | +2 | 390 | 106 | 390 |
| B IV | +3 | 478 | 234 | 478 |
| B V | +4 | 258 | 240 | 258 |
Состав энергетических уровней ?
| Ion | Заряд | Levels |
|---|---|---|
| B I | 0 | 125 |
| 11B I Изотоп | 0 | 69 |
| 10B I Изотоп | 0 | 29 |
| B II | +1 | 157 |
| 10B II Изотоп | +1 | 10 |
| 11B II Изотоп | +1 | 10 |
| B III | +2 | 150 |
| B IV | +3 | 174 |
| B V | +4 | 101 |
Ионные радиусы
| Заряд | Координация | Спин | Радиус |
|---|---|---|---|
| +3 | 3 | N/A | 1 пм |
| +3 | 4 | N/A | 11 пм |
| +3 | 6 | N/A | 27 пм |
Соединения
Изотопы (2)
| Массовое число | Атомная масса (а.е.м.) | Природная распространённость | Период полураспада | Режим распада | |
|---|---|---|---|---|---|
| 10 Стабильный | 10,01293695 ± 0,00000041 | 19.9000% ± 0.7000% | Стабильный | stable | |
| 11 Стабильный | 11,00930536 ± 0,00000045 | 80.1000% ± 0.7000% | Стабильный | stable |
Спектральные линии
| Длина волны (нм) | Интенсивность | Стадия ионизации | Тип | Переход | Точность | Источник | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 391.482 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.2p 1P* → 1s2.2p2 3P | Измерено | NIST | |
| 391.687 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.2p 1P* → 1s2.2p2 3P | Измерено | NIST | |
| 391.817 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.2p 1P* → 1s2.2p2 3P | Измерено | NIST | |
| 394.447 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2p.3d 3F* → 1s2.2p.4f 3F | Измерено | NIST | |
| 394.587 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2p.3d 3F* → 1s2.2p.4f 3F | Измерено | NIST | |
| 394.82 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2p.3d 3F* → 1s2.2p.4f 3F | Измерено | NIST | |
| 395.038 нм | 18 | B II | emission | 1s2.2p.3d 1D* → 1s2.2p.4f 1F | Измерено | NIST | |
| 395.1698 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2p2 1D → 1s2.2p2 1S | Измерено | NIST | |
| 399.024 нм | 70 | B II | emission | 1s2.2s.4p 1P* → 1s2.2s.8d 1D | Измерено | NIST | |
| 400.017 нм | 136 | B III | emission | 1s.2s.(3S).4d 4D → 1s.2s.(3S).5f 4F* | Измерено | NIST | |
| 412.1928 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.3d 3D → 1s2.2s.4f 3F* | Измерено | NIST | |
| 412.1928 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.3d 3D → 1s2.2s.4f 3F* | Измерено | NIST | |
| 412.1928 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.3d 3D → 1s2.2s.4f 3F* | Измерено | NIST | |
| 412.1928 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.3d 3D → 1s2.2s.4f 3F* | Измерено | NIST | |
| 412.1928 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.3d 3D → 1s2.2s.4f 3F* | Измерено | NIST | |
| 412.1928 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.3d 3D → 1s2.2s.4f 3F* | Измерено | NIST | |
| 414.697 нм | N/A | B III | emission | 1s2.5d 2D → 1s2.8f 2F* | Измерено | NIST | |
| 414.708 нм | N/A | B III | emission | 1s2.5d 2D → 1s2.8f 2F* | Измерено | NIST | |
| 414.708 нм | N/A | B III | emission | 1s2.5d 2D → 1s2.8f 2F* | Измерено | NIST | |
| 415.284 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4p 3P* → 1s2.2p.3p 3P | Измерено | NIST | |
| 415.284 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4p 3P* → 1s2.2p.3p 3P | Измерено | NIST | |
| 415.471 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4p 3P* → 1s2.2p.3p 3P | Измерено | NIST | |
| 415.471 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4p 3P* → 1s2.2p.3p 3P | Измерено | NIST | |
| 415.471 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4p 3P* → 1s2.2p.3p 3P | Измерено | NIST | |
| 415.584 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4p 3P* → 1s2.2p.3p 3P | Измерено | NIST | |
| 417.896 нм | N/A | B I | emission | 2s2.3p 2P* → 2s.2p2 2P | Измерено | NIST | |
| 417.927 нм | N/A | B I | emission | 2s2.3p 2P* → 2s.2p2 2P | Измерено | NIST | |
| 418.099 нм | N/A | B I | emission | 2s2.3p 2P* → 2s.2p2 2P | Измерено | NIST | |
| 418.13 нм | N/A | B I | emission | 2s2.3p 2P* → 2s.2p2 2P | Измерено | NIST | |
| 419.4792 нм | 180 | B II | emission | 1s2.2s.3p 1P* → 1s2.2s.4s 1S | Измерено | NIST | |
| 419.773 нм | 30 | B IV | emission | 1s.5s 3S → 1s.6p 3P* | Измерено | NIST | |
| 424.3 нм | 300 | B III | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.5d 2D | Измерено | NIST | |
| 424.359 нм | N/A | B III | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.5d 2D | Измерено | NIST | |
| 424.37 нм | N/A | B III | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.5d 2D | Измерено | NIST | |
| 427.274 нм | 50 | B II | emission | 1s2.2s.4s 3S → 1s2.2s.6p 3P* | Измерено | NIST | |
| 429.571 нм | 50 | B II | emission | 1s2.2s.4p 1P* → 1s2.2s.7d 1D | Измерено | NIST | |
| 436.147 нм | 60 | B III | emission | 1s.2p.(3P*).4f 2F → 1s.2p.(3P*).5g 2G* | Измерено | NIST | |
| 436.61 нм | 100 | B III | emission | 1s.2p.(3P*).4f 4F → 1s.2p.(3P*).5g 4G* | Измерено | NIST | |
| 443.11 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2p.3d 3D* → 1s2.2p.4f 3F | Измерено | NIST | |
| 443.185 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2p.3d 3D* → 1s2.2p.4f 3F | Измерено | NIST | |
| 443.291 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2p.3d 3D* → 1s2.2p.4f 3F | Измерено | NIST | |
| 445.943 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5p 3P* → 1s.6d 3D | Измерено | NIST | |
| 445.943 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5p 3P* → 1s.6d 3D | Измерено | NIST | |
| 445.943 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5p 3P* → 1s.6d 3D | Измерено | NIST | |
| 447.112 нм | N/A | B III | emission | 1s2.5s 2S → 1s2.7p 2P* | Измерено | NIST | |
| 447.112 нм | N/A | B III | emission | 1s2.5s 2S → 1s2.7p 2P* | Измерено | NIST | |
| 447.2029 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.4s 3S | Измерено | NIST | |
| 447.2151 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.4s 3S | Измерено | NIST | |
| 447.2862 нм | 470 | B II | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.4s 3S | Измерено | NIST | |
| 448.692 нм | N/A | B III | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.5f 2F* | Измерено | NIST | |
| 448.71 нм | N/A | B III | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.5f 2F* | Измерено | NIST | |
| 449.09 нм | 20 | B IV | emission | 1s.2s 1S → 1s.2p 1P* | Измерено | NIST | |
| 449.773 нм | 1700 | B III | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.5g 2G | Измерено | NIST | |
| 449.853 нм | N/A | B III | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.5f 2F* | Измерено | NIST | |
| 449.859 нм | N/A | B III | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.5f 2F* | Измерено | NIST | |
| 450.481 нм | N/A | B III | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.5d 2D | Измерено | NIST | |
| 450.482 нм | N/A | B III | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.5d 2D | Измерено | NIST | |
| 451.9912773 нм | N/A | B V | emission | 7i 2I → 9k 2K* | Измерено | NIST | |
| 451.9946377 нм | N/A | B V | emission | 7i 2I → 9k 2K* | Измерено | NIST | |
| 453.229 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4f 1F* → 1s2.2p.3p 1D | Измерено | NIST | |
| 459.72 нм | N/A | B III | emission | 1s.2s.(3S).4d 4D → 1s.2s.(3S).5p 4P* | Измерено | NIST | |
| 459.73 нм | N/A | B III | emission | 1s.2p.(3P*).4p 4P → 1s.2p.(3P*).5s 4P* | Измерено | NIST | |
| 461.114 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4p 3P* → 1s2.2p.3p 3S | Измерено | NIST | |
| 461.114 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4p 3P* → 1s2.2p.3p 3S | Измерено | NIST | |
| 461.114 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4p 3P* → 1s2.2p.3p 3S | Измерено | NIST | |
| 461.32 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5d 3D → 1s.6p 1P* | Измерено | NIST | |
| 463.217 нм | N/A | B III | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.5p 2P* | Измерено | NIST | |
| 463.243 нм | N/A | B III | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.5p 2P* | Измерено | NIST | |
| 463.263 нм | N/A | B III | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.5p 2P* | Измерено | NIST | |
| 464.69 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5d 3D → 1s.6f 1F* | Измерено | NIST | |
| 464.69 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5d 3D → 1s.6f 1F* | Измерено | NIST | |
| 464.701 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5d 3D → 1s.6f 3F* | Измерено | NIST | |
| 464.701 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5d 3D → 1s.6f 3F* | Измерено | NIST | |
| 464.701 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5d 3D → 1s.6f 3F* | Измерено | NIST | |
| 464.701 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5d 3D → 1s.6f 3F* | Измерено | NIST | |
| 464.701 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5d 3D → 1s.6f 3F* | Измерено | NIST | |
| 464.701 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5d 3D → 1s.6f 3F* | Измерено | NIST | |
| 465.58 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5d 1D → 1s.6f 1F* | Измерено | NIST | |
| 465.786 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5f 3F* → 1s.6g 3G | Измерено | NIST | |
| 465.786 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5f 3F* → 1s.6g 3G | Измерено | NIST | |
| 465.786 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5f 3F* → 1s.6g 3G | Измерено | NIST | |
| 465.8 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5f 1F* → 1s.6g 3G | Измерено | NIST | |
| 465.815 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5g 3G → 1s.6h 3H* | Измерено | NIST | |
| 465.815 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5g 3G → 1s.6h 3H* | Измерено | NIST | |
| 465.815 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5g 3G → 1s.6h 3H* | Измерено | NIST | |
| 465.815 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5g 1G → 1s.6h 3H* | Измерено | NIST | |
| 465.92 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5g 1G → 1s.6f 1F* | Измерено | NIST | |
| 465.92 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5g 3G → 1s.6f 1F* | Измерено | NIST | |
| 465.92 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5g 3G → 1s.6f 1F* | Измерено | NIST | |
| 465.927 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5g 3G → 1s.6f 3F* | Измерено | NIST | |
| 465.927 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5g 3G → 1s.6f 3F* | Измерено | NIST | |
| 465.927 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5g 3G → 1s.6f 3F* | Измерено | NIST | |
| 465.927 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5g 1G → 1s.6f 3F* | Измерено | NIST | |
| 468.31 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5p 1P* → 1s.6p 1P* | Измерено | NIST | |
| 468.481 нм | N/A | B IV | emission | 1s.6g 3G → 1s.8h 3H* | Измерено | NIST | |
| 468.489 нм | N/A | B IV | emission | 1s.6f 3F* → 1s.8g 3G | Измерено | NIST | |
| 468.489 нм | N/A | B IV | emission | 1s.6f 3F* → 1s.8g 3G | Измерено | NIST | |
| 468.489 нм | N/A | B IV | emission | 1s.6f 3F* → 1s.8g 3G | Измерено | NIST | |
| 468.5 нм | N/A | B IV | emission | 1s.6h 3H* → 1s.8i 3I | Измерено | NIST | |
| 471.612 нм | 15 | B II | emission | 1s2.2p.3d 1D* → 1s2.2p.4p 1P | Измерено | NIST | |
| 471.99 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5p 1P* → 1s.6d 1D | Измерено | NIST | |
| 477.384 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5d 3D → 1s.6p 3P* | Измерено | NIST | |
| 477.384 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5d 3D → 1s.6p 3P* | Измерено | NIST | |
| 477.384 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5d 3D → 1s.6p 3P* | Измерено | NIST | |
| 478.42 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.3d 3D → 1s2.2s.4p 3P* | Измерено | NIST | |
| 478.42 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.3d 3D → 1s2.2s.4p 3P* | Измерено | NIST | |
| 478.4203 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.3d 3D → 1s2.2s.4p 3P* | Измерено | NIST | |
| 478.4203 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.3d 3D → 1s2.2s.4p 3P* | Измерено | NIST | |
| 478.4203 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.3d 3D → 1s2.2s.4p 3P* | Измерено | NIST | |
| 478.4203 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.3d 3D → 1s2.2s.4p 3P* | Измерено | NIST | |
| 481.276 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5p 3P* → 1s.6s 3S | Измерено | NIST | |
| 481.276 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5p 3P* → 1s.6s 3S | Измерено | NIST | |
| 481.276 нм | N/A | B IV | emission | 1s.5p 3P* → 1s.6s 3S | Измерено | NIST | |
| 491.746 нм | 500 | B III | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.5s 2S | Измерено | NIST | |
| 491.84 нм | 500 | B III | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.5s 2S | Измерено | NIST | |
| 494.0365 нм | 440 | B II | emission | 1s2.2s.3d 1D → 1s2.2s.4f 1F* | Измерено | NIST | |
| 494.4788284 нм | N/A | B V | emission | 6h 2H* → 7i 2I | Измерено | NIST | |
| 494.4864305 нм | N/A | B V | emission | 6h 2H* → 7i 2I | Измерено | NIST | |
| 498.848 нм | N/A | B III | emission | 1s2.5p 2P* → 1s2.7d 2D | Измерено | NIST | |
| 498.901 нм | N/A | B III | emission | 1s2.5p 2P* → 1s2.7d 2D | Измерено | NIST | |
| 512.579 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4d 3D → 1s2.2s.7f 3F* | Измерено | NIST | |
| 512.579 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4d 3D → 1s2.2s.7f 3F* | Измерено | NIST | |
| 512.579 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4d 3D → 1s2.2s.7f 3F* | Измерено | NIST | |
| 515.776 нм | N/A | B III | emission | 1s2.5d 2D → 1s2.7f 2F* | Измерено | NIST | |
| 515.793 нм | N/A | B III | emission | 1s2.5d 2D → 1s2.7f 2F* | Измерено | NIST | |
| 516.57 нм | N/A | B III | emission | 1s2.5f 2F* → 1s2.7g 2G | Измерено | NIST | |
| 516.579 нм | N/A | B III | emission | 1s2.5f 2F* → 1s2.7g 2G | Измерено | NIST | |
| 522.65 нм | N/A | B III | emission | 1s2.5d 2D → 1s2.7p 2P* | Измерено | NIST | |
| 522.65 нм | N/A | B III | emission | 1s2.5d 2D → 1s2.7p 2P* | Измерено | NIST | |
| 522.667 нм | N/A | B III | emission | 1s2.5d 2D → 1s2.7p 2P* | Измерено | NIST | |
| 526.311 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4f 3F* → 1s2.2s.7g 3G | Измерено | NIST | |
| 526.311 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4f 3F* → 1s2.2s.7g 3G | Измерено | NIST | |
| 526.311 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4f 3F* → 1s2.2s.7g 3G | Измерено | NIST | |
| 529.28 нм | N/A | B III | emission | 1s2.5p 2P* → 1s2.7s 2S | Измерено | NIST | |
| 529.34 нм | N/A | B III | emission | 1s2.5p 2P* → 1s2.7s 2S | Измерено | NIST | |
| 534.765 нм | 15 | B II | emission | 1s2.2s.4s 1S → 1s2.2p.3s 1P* | Измерено | NIST | |
| 539.322 нм | 30 | B II | emission | 1s2.2s.4p 1P* → 1s2.2p.3p 1P | Измерено | NIST | |
| 550.4527 нм | N/A | B I | emission | 2s.2p2 2D → 2s2.11f 2F* | Измерено | NIST | |
| 550.4622 нм | N/A | B I | emission | 2s.2p2 2D → 2s2.11f 2F* | Измерено | NIST | |
| 556.3146 нм | N/A | B I | emission | 2s.2p2 2D → 2s2.10f 2F* | Измерено | NIST | |
| 556.3244 нм | N/A | B I | emission | 2s.2p2 2D → 2s2.10f 2F* | Измерено | NIST | |
| 563.30717 нм | N/A | B I | emission | 2s2.3s 2S → 2s2.4p 2P* | Измерено | NIST | |
| 563.32732 нм | N/A | B I | emission | 2s2.3s 2S → 2s2.4p 2P* | Измерено | NIST | |
| 564.4278 нм | N/A | B I | emission | 2s.2p2 2D → 2s2.9f 2F* | Измерено | NIST | |
| 564.4379 нм | N/A | B I | emission | 2s.2p2 2D → 2s2.9f 2F* | Измерено | NIST | |
| 576.1901 нм | N/A | B I | emission | 2s.2p2 2D → 2s2.8f 2F* | Измерено | NIST | |
| 576.1901 нм | N/A | B I | emission | 2s.2p2 2D → 2s2.8f 2F* | Измерено | NIST | |
| 576.2006 нм | N/A | B I | emission | 2s.2p2 2D → 2s2.8f 2F* | Измерено | NIST | |
| 578.747 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4s 3S → 1s2.2s.5p 3P* | Измерено | NIST | |
| 578.747 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4s 3S → 1s2.2s.5p 3P* | Измерено | NIST | |
| 578.747 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4s 3S → 1s2.2s.5p 3P* | Измерено | NIST | |
| 581.833 нм | 60 | B I | emission | 2s.2p2 2P → 2s.2p.(3P*).3d 2D* | Измерено | NIST | |
| 582.116 нм | 100 | B I | emission | 2s.2p2 2P → 2s.2p.(3P*).3d 2D* | Измерено | NIST | |
| 582.228 нм | 10 | B I | emission | 2s.2p2 2P → 2s.2p.(3P*).3d 2D* | Измерено | NIST | |
| 594.2619 нм | N/A | B I | emission | 2s.2p2 2D → 2s2.7f 2F* | Измерено | NIST | |
| 594.2619 нм | N/A | B I | emission | 2s.2p2 2D → 2s2.7f 2F* | Измерено | NIST | |
| 594.2731 нм | N/A | B I | emission | 2s.2p2 2D → 2s2.7f 2F* | Измерено | NIST | |
| 601.35 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4p 3P* → 1s2.2s.6s 3S | Измерено | NIST | |
| 601.35 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4p 3P* → 1s2.2s.6s 3S | Измерено | NIST | |
| 601.35 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4p 3P* → 1s2.2s.6s 3S | Измерено | NIST | |
| 602.772 нм | N/A | B I | emission | 2s2.3p 2P* → 2s2.8d 2D | Измерено | NIST | |
| 602.837 нм | N/A | B I | emission | 2s2.3p 2P* → 2s2.8d 2D | Измерено | NIST | |
| 602.837 нм | N/A | B I | emission | 2s2.3p 2P* → 2s2.8d 2D | Измерено | NIST | |
| 608.039 нм | 85 | B II | emission | 1s2.2p2 1S → 1s2.2s.3p 1P* | Измерено | NIST | |
| 612.224 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2p2 1S → 1s2.2s.3p 3P* | Измерено | NIST | |
| 612.508 нм | 93 | B III | emission | 1s.2s.(3S).3s 4S → 1s.2s.(3S).3p 4P* | Измерено | NIST | |
| 612.752 нм | N/A | B III | emission | 1s.2s.(3S).3s 4S → 1s.2s.(3S).3p 4P* | Измерено | NIST | |
| 612.797 нм | N/A | B III | emission | 1s.2s.(3S).3s 4S → 1s.2s.(3S).3p 4P* | Измерено | NIST | |
| 614.891 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4d 3D → 1s2.2s.6f 3F* | Измерено | NIST | |
| 614.891 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4d 3D → 1s2.2s.6f 3F* | Измерено | NIST | |
| 614.891 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4d 3D → 1s2.2s.6f 3F* | Измерено | NIST | |
| 614.891 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4d 3D → 1s2.2s.6f 3F* | Измерено | NIST | |
| 614.891 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4d 3D → 1s2.2s.6f 3F* | Измерено | NIST | |
| 614.891 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4d 3D → 1s2.2s.6f 3F* | Измерено | NIST | |
| 617.867 нм | N/A | B I | emission | 2s2.3p 2P* → 2s2.8s 2S | Измерено | NIST | |
| 617.936 нм | N/A | B I | emission | 2s2.3p 2P* → 2s2.8s 2S | Измерено | NIST | |
| 618.638 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4f 3F* → 1s2.2p.3p 3D | Измерено | NIST | |
| 618.638 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4f 3F* → 1s2.2p.3p 3D | Измерено | NIST | |
| 618.638 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4f 3F* → 1s2.2p.3p 3D | Измерено | NIST | |
| 619.359 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4f 3F* → 1s2.2p.3p 3D | Измерено | NIST | |
| 619.359 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4f 3F* → 1s2.2p.3p 3D | Измерено | NIST | |
| 619.735 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4f 3F* → 1s2.2p.3p 3D | Измерено | NIST | |
| 622.745 нм | N/A | B I | emission | 2s2.3p 2P* → 2s2.7d 2D | Измерено | NIST | |
| 622.815 нм | N/A | B I | emission | 2s2.3p 2P* → 2s2.7d 2D | Измерено | NIST | |
| 622.815 нм | N/A | B I | emission | 2s2.3p 2P* → 2s2.7d 2D | Измерено | NIST | |
| 624.4557 нм | N/A | B I | emission | 2s.2p2 2D → 2s2.6f 2F* | Измерено | NIST | |
| 624.4557 нм | N/A | B I | emission | 2s.2p2 2D → 2s2.6f 2F* | Измерено | NIST | |
| 624.4681 нм | N/A | B I | emission | 2s.2p2 2D → 2s2.6f 2F* | Измерено | NIST | |
| 628.551 нм | 30 | B II | emission | 1s2.2s.3d 1D → 1s2.2s.4p 1P* | Измерено | NIST | |
| 634.927 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4f 3F* → 1s2.2s.6g 3G | Измерено | NIST | |
| 634.927 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4f 3F* → 1s2.2s.6g 3G | Измерено | NIST | |
| 634.927 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4f 3F* → 1s2.2s.6g 3G | Измерено | NIST | |
| 635.676 нм | 1 | B II | emission | 1s2.2s.4f 1F* → 1s2.2s.6g 1G | Измерено | NIST | |
| 643.151 нм | N/A | B I | emission | 2s2.3p 2P* → 2s2.7s 2S | Измерено | NIST | |
| 643.225 нм | N/A | B I | emission | 2s2.3p 2P* → 2s2.7s 2S | Измерено | NIST | |
| 652.056 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4s 3S → 1s2.2p.3s 3P* | Измерено | NIST | |
| 652.959 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4s 3S → 1s2.2p.3s 3P* | Измерено | NIST | |
| 653.371 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4s 3S → 1s2.2p.3s 3P* | Измерено | NIST | |
| 656.269 нм | N/A | B I | emission | 2s2.3p 2P* → 2s2.6d 2D | Измерено | NIST | |
| 656.345 нм | N/A | B I | emission | 2s2.3p 2P* → 2s2.6d 2D | Измерено | NIST | |
| 656.345 нм | N/A | B I | emission | 2s2.3p 2P* → 2s2.6d 2D | Измерено | NIST | |
| 657.112 нм | 0.5 | B II | emission | 1s2.2s.5p 1P* → 1s2.2p.3p 1D | Измерено | NIST | |
| 671.765 нм | 0.5 | B II | emission | 1s2.2s.4d 1D → 1s2.2s.6f 1F* | Измерено | NIST | |
| 677.866 нм | N/A | B I | emission | 2s2.4p 2P* → 2s.2p2 2P | Измерено | NIST | |
| 677.895 нм | N/A | B I | emission | 2s2.4p 2P* → 2s.2p2 2P | Измерено | NIST | |
| 678.401 нм | N/A | B I | emission | 2s2.4p 2P* → 2s.2p2 2P | Измерено | NIST | |
| 678.431 нм | N/A | B I | emission | 2s2.4p 2P* → 2s.2p2 2P | Измерено | NIST | |
| 678.614 нм | 0.5 | B II | emission | 1s2.2s.4p 1P* → 1s2.2s.5d 1D | Измерено | NIST | |
| 681.95167 нм | N/A | B I | emission | 2s.2p2 2D → 2s2.5f 2F* | Измерено | NIST | |
| 681.95167 нм | N/A | B I | emission | 2s.2p2 2D → 2s2.5f 2F* | Измерено | NIST | |
| 681.96637 нм | N/A | B I | emission | 2s.2p2 2D → 2s2.5f 2F* | Измерено | NIST | |
| 697.688 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.3p 1P* | Измерено | NIST | |
| 703.027 нм | 4 | B II | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.3p 3P* | Измерено | NIST | |
| 703.203 нм | 3 | B II | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.3p 3P* | Измерено | NIST | |
| 703.233 нм | 2 | B II | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.3p 3P* | Измерено | NIST | |
| 715.955 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2p.3s 3P* → 1s2.2p.3p 3P | Измерено | NIST | |
| 716.016 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2p.3s 3P* → 1s2.2p.3p 3P | Измерено | NIST | |
| 716.511 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2p.3s 3P* → 1s2.2p.3p 3P | Измерено | NIST | |
| 716.846 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2p.3s 3P* → 1s2.2p.3p 3P | Измерено | NIST | |
| 717.045 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2p.3s 3P* → 1s2.2p.3p 3P | Измерено | NIST | |
| 717.602 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2p.3s 3P* → 1s2.2p.3p 3P | Измерено | NIST | |
| 720.593 нм | N/A | B I | emission | 2s2.3p 2P* → 2s2.5d 2D | Измерено | NIST | |
| 720.685 нм | N/A | B I | emission | 2s2.3p 2P* → 2s2.5d 2D | Измерено | NIST | |
| 720.685 нм | N/A | B I | emission | 2s2.3p 2P* → 2s2.5d 2D | Измерено | NIST | |
| 720.766 нм | N/A | B I | emission | 2s2.3p 2P* → 2s2.6s 2S | Измерено | NIST | |
| 720.859 нм | N/A | B I | emission | 2s2.3p 2P* → 2s2.6s 2S | Измерено | NIST | |
| 722.85 нм | N/A | B II | emission | 1s2.2s.4s 1S → 1s2.2s.5p 1P* | Измерено | NIST |
Расширенные свойства
Ковалентные радиусы (расш.)
Радиусы Ван-дер-Ваальса
Атомные и металлические радиусы
Шкалы нумерации
Шкалы электроотрицательности
Поляризуемость и дисперсия
Параметры Мидемы
Риск поставок и экономика
Фазовые переходы и аллотропы
| Температура плавления | 2350.15 K |
| Температура кипения | 4273.15 K |
Категории степеней окисления
Расширенные справочные данные
Константы экранирования (3)
| n | Орбиталь | σ |
|---|---|---|
| 1 | s | 0.3205 |
| 2 | p | 2.5786 |
| 2 | s | 2.4238 |
Детализация кристаллических радиусов (3)
| Заряд | CN | Спин | rcrystal (pm) | Источник |
|---|---|---|---|---|
| 3 | III | 15 | ||
| 3 | IV | 25 | ||
| 3 | VI | 41 | calculated, |
Режимы распада изотопов (30)
| Изотоп | Режим | Интенсивность |
|---|---|---|
| 6 | 2p | — |
| 7 | p | 100% |
| 8 | B+ | 100% |
| 8 | B+A | 100% |
| 9 | p | 100% |
| 12 | B- | 100% |
| 12 | B-A | 0.6% |
| 13 | B- | 100% |
| 13 | B-n | 0.3% |
| 14 | B- | 100% |
Факторы рассеяния X‑лучей (502)
| Энергия (eV) | f₁ | f₂ |
|---|---|---|
| 10 | — | 1.48933 |
| 10.1617 | — | 1.48084 |
| 10.3261 | — | 1.4724 |
| 10.4931 | — | 1.46401 |
| 10.6628 | — | 1.45567 |
| 10.8353 | — | 1.44738 |
| 11.0106 | — | 1.43913 |
| 11.1886 | — | 1.43093 |
| 11.3696 | — | 1.42278 |
| 11.5535 | — | 1.41467 |
Дополнительные данные
Estimated Crustal Abundance
The estimated element abundance in the earth's crust.
1.0×101 milligrams per kilogram
Источники (1)
Estimated Oceanic Abundance
The estimated element abundance in the earth's oceans.
4.44 milligrams per liter
Источники (1)
Sources
Sources of this element.
The element is not found free in nature, but occurs as orthoboric acid usually found in certain volcanic spring waters and as borates in boron and colemantie.
Important sources of boron are ore rasorite (kernite) and tincal (borax ore). Both of these ores are found in the Mojave Desert. Tincal is the most important source of boron from the Mojave. Extensive borax deposits are also found in Turkey.
Boron exists naturally as 19.78% 10B isotope and 80.22% 11B isotope. High-purity crystalline boron may be prepared by the vapor phase reduction of boron trichloride or tribromide with hydrogen on electrically heated filaments. The impure or amorphous, boron, a brownish-black powder, can be obtained by heating the trioxide with magnesium powder.
Boron of 99.9999% purity has been produced and is available commercially. Elemental boron has an energy band gap of 1.50 to 1.56 eV, which is higher than that of either silicon or germanium.
Источники (1)
- [6] Boron https://periodic.lanl.gov/5.shtml
Источники
(9)
Data deposited in or computed by PubChem
The half-life and atomic mass data was provided by the Atomic Mass Data Center at the International Atomic Energy Agency.
Element data are cited from the Atomic weights of the elements (an IUPAC Technical Report). The IUPAC periodic table of elements can be found at https://iupac.org/what-we-do/periodic-table-of-elements/. Additional information can be found within IUPAC publication doi:10.1515/pac-2015-0703 Copyright © 2020 International Union of Pure and Applied Chemistry.
The information are cited from Pure Appl. Chem. 2018; 90(12): 1833-2092, https://doi.org/10.1515/pac-2015-0703.
Thomas Jefferson National Accelerator Facility (Jefferson Lab) is one of 17 national laboratories funded by the U.S. Department of Energy. The lab's primary mission is to conduct basic research of the atom's nucleus using the lab's unique particle accelerator, known as the Continuous Electron Beam Accelerator Facility (CEBAF). For more information visit https://www.jlab.org/
The periodic table at the LANL (Los Alamos National Laboratory) contains basic element information together with the history, source, properties, use, handling and more. The provenance data may be found from the link under the source name.
The periodic table contains NIST's critically-evaluated data on atomic properties of the elements. The provenance data that include data for atomic spectroscopy, X-ray and gamma ray, radiation dosimetry, nuclear physics, and condensed matter physics may be found from the link under the source name. Ref: https://www.nist.gov/pml/atomic-spectra-database
This section provides all form of data related to element Boron.
The element property data was retrieved from publications.

