Бериллий (Be)
Щелочноземельный металлТвёрдое тело
Стандартный атомный вес
9.012183 uЭлектронная конфигурация
[He] 2s2Температура плавления
1286.85 °C (1560 K)Температура кипения
2470.85 °C (2744 K)Плотность
1850 kg/m³Степени окисления
0, +1, +2Электроотрицательность (Полинг)
1.57Энергия ионизации (1-я)
Год открытия
1797Атомный радиус
105 pmДополнительно
Бериллий — легкий щелочноземельный металл с необычно высокой жесткостью, низкой плотностью и высокой для своей массы температурой плавления. Его химия определяется степенью окисления +2, однако малый ион Be²⁺ придает многим соединениям выраженный ковалентный характер. Элемент редок в доступных рудах, главным образом получают из берилла и бертрандита, и он технологически важен там, где ценны малая масса, размерная стабильность и прозрачность для рентгеновских лучей.
Металл стально-серого цвета обладает многими ценными свойствами. Будучи одним из самых лёгких металлов, он имеет одну из самых высоких температур плавления среди лёгких металлов. Его модуль упругости примерно на одну треть больше, чем у стали. Он устойчив к действию концентрированной азотной кислоты, обладает превосходной теплопроводностью и немагнитен. Он обладает высокой проницаемостью для рентгеновских лучей, а при бомбардировке α-частицами, например от радия или полония, образуется нейтронов в количестве около 30 нейтронов/миллион α-частиц.
При обычных температурах бериллий сопротивляется окислению на воздухе, хотя его способность царапать стекло, вероятно, обусловлена образованием тонкого слоя оксида.
Название происходит от греческого слова beryllos — «берилл», драгоценного камня, в котором он и был обнаружен (3BeO×Al2O3×6SiO2).
Бериллий был открыт французским химиком и фармацевтом Николя-Луи Вокленом в берилле и изумруде в 1797 году. Впервые элемент был выделен в 1828 году французским химиком Антуаном-Александром-Брутюсом Бюсси и независимо немецким химиком Фридрихом Вёлером. Поскольку соли бериллия имеют сладкий вкус, элемент также был известен как глюциний от греческого glykys — «сладкий», до тех пор, пока IUPAC не выбрал название beryllium в 1949 году.
Хотя изумруды и берилл были известны древним цивилизациям, впервые их распознали как один и тот же минерал (Be3Al2(SiO3)6) аббатом Гаюи в 1798 году. Позднее в том же году Луи-Николя Воклен, французский химик, обнаружил, что в изумрудах и берилле присутствует неизвестный элемент. Попытки выделить новый элемент окончательно увенчались успехом в 1828 году, когда два химика, немец Фридрих Вёлер и француз А. Бюсси, независимо получили бериллий путем восстановления хлорида бериллия (BeCl2) калием в платиновом тигле. Сегодня бериллий в основном получают из минералов берилла (Be3Al2(SiO3)6) и бертрандита (4BeO·2SiO2·H2O) химическим способом или электролизом смеси расплавленного хлорида бериллия (BeCl2) и хлорида натрия (NaCl).
От греческого слова beryllos — берилл; также назывался glucinium или glucinum, от греческого glykys — сладкий. Открыт в форме оксида Вокленом в берилле и изумрудах в 1798 году. Металл был выделен в 1828 году Вёлером и Бюсси независимо действием калия на хлорид бериллия.
Изображения
Свойства
Физические
Химические
Термодинамические
Ядерные
Распространённость
Реакционная способность
N/A
Кристаллическая структура
Электронная структура
Идентификаторы
Электронная конфигурация Measured
Be: 2s²[He] 2s²1s² 2s²Модель атома
Изотопы меняют число нейтронов, массу и стабильность — но не электронную конфигурацию нейтрального атома.
Схематическая модель атома, не в масштабе.
Атомный отпечаток
Спектр испускания / поглощения
Распределение изотопов
| Массовое число | Атомная масса (а.е.м.) | Природная распространённость | Период полураспада |
|---|---|---|---|
| 9 Стабильный | 9,012183065 ± 0,000000082 | 100.0000% | Стабильный |
Фазовое состояние
Причина: на 1261.8 °C ниже точки плавления (1286.85 °C)
Схематично, не в масштабе
Точки фазовых переходов
Энергии переходов
Энергия для плавления 1 моля при tплав
Энергия для испарения 1 моля при tкип
Энергия для возгонки 1 моля при tвозг
Плотность
При нормальных условиях
При нормальных условиях
Дополнительно
Атомные спектры
Состав спектральных линий ?
| Ion | Заряд | Total lines | Transition probabilities | Level designations |
|---|---|---|---|---|
| Be I | 0 | 581 | 394 | 581 |
| Be II | +1 | 681 | 149 | 681 |
| Be III | +2 | 323 | 302 | 316 |
| Be IV | +3 | 142 | 142 | 142 |
Состав энергетических уровней ?
| Ion | Заряд | Levels |
|---|---|---|
| Be I | 0 | 219 |
| Be II | +1 | 258 |
| Be III | +2 | 167 |
| Be IV | +3 | 149 |
Ионные радиусы
| Заряд | Координация | Спин | Радиус |
|---|---|---|---|
| +2 | 3 | N/A | 16 пм |
| +2 | 4 | N/A | 27 пм |
| +2 | 6 | N/A | 45 пм |
Соединения
Изотопы (1)
| Массовое число | Атомная масса (а.е.м.) | Природная распространённость | Период полураспада | Режим распада | |
|---|---|---|---|---|---|
| 9 Стабильный | 9,012183065 ± 0,000000082 | 100.0000% | Стабильный | stable |
Спектральные линии
| Длина волны (нм) | Интенсивность | Стадия ионизации | Тип | Переход | Точность | Источник | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 381.3453 нм | 22 | Be I | emission | 1s2.2s.2p 1P* → 1s2.2s.4d 1D | Измерено | NIST | |
| 385.17 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3p 4D → 1s.2p.4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 385.17 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3p 4D → 1s.2p.4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 385.17 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3p 4D → 1s.2p.4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 385.17 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3p 4D → 1s.2p.4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 385.17 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3p 4D → 1s.2p.4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 385.17 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3p 4D → 1s.2p.4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 385.17 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3p 4D → 1s.2p.4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 385.17 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3p 4D → 1s.2p.4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 386.513 нм | 3 | Be I | emission | 1s2.2p2 3P → 1s2.2p.3s 3P* | Измерено | NIST | |
| 386.5427 нм | 5 | Be I | emission | 1s2.2p2 3P → 1s2.2p.3s 3P* | Измерено | NIST | |
| 386.5517 нм | 1 | Be I | emission | 1s2.2p2 3P → 1s2.2p.3s 3P* | Измерено | NIST | |
| 386.5725 нм | 2 | Be I | emission | 1s2.2p2 3P → 1s2.2p.3s 3P* | Измерено | NIST | |
| 386.6022 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2p2 3P → 1s2.2p.3s 3P* | Измерено | NIST | |
| 386.6037 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2p2 3P → 1s2.2p.3s 3P* | Измерено | NIST | |
| 388.143 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4s 3S → 1s.5p 3P* | Измерено | NIST | |
| 388.143 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4s 3S → 1s.5p 3P* | Измерено | NIST | |
| 388.143 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4s 3S → 1s.5p 3P* | Измерено | NIST | |
| 399.55 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.(3P*).3d 2D* → 1s.2p.(3P*).4f 2F | Измерено | NIST | |
| 399.55 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.(3P*).3d 2D* → 1s.2p.(3P*).4f 2F | Измерено | NIST | |
| 399.55 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.(3P*).3d 2D* → 1s.2p.(3P*).4f 2F | Измерено | NIST | |
| 403.93 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4F* → 1s.2p.4f 4D | Измерено | NIST | |
| 403.93 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4F* → 1s.2p.4f 4D | Измерено | NIST | |
| 403.93 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4F* → 1s.2p.4f 4D | Измерено | NIST | |
| 403.93 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4F* → 1s.2p.4f 4D | Измерено | NIST | |
| 403.93 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4F* → 1s.2p.4f 4D | Измерено | NIST | |
| 403.93 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4F* → 1s.2p.4f 4D | Измерено | NIST | |
| 403.93 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4F* → 1s.2p.4f 4D | Измерено | NIST | |
| 403.93 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4F* → 1s.2p.4f 4D | Измерено | NIST | |
| 403.93 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4F* → 1s.2p.4f 4D | Измерено | NIST | |
| 416.63 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4s 1S → 1s.5p 1P* | Измерено | NIST | |
| 419.97 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4s 1S → 1s.5d 1D | Измерено | NIST | |
| 424.41 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4p 3P* → 1s.5d 1D | Измерено | NIST | |
| 424.41 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4p 3P* → 1s.5d 1D | Измерено | NIST | |
| 424.906 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4p 3P* → 1s.5d 3D | Измерено | NIST | |
| 424.906 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4p 3P* → 1s.5d 3D | Измерено | NIST | |
| 424.906 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4p 3P* → 1s.5d 3D | Измерено | NIST | |
| 424.906 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4p 3P* → 1s.5d 3D | Измерено | NIST | |
| 424.906 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4p 3P* → 1s.5d 3D | Измерено | NIST | |
| 424.906 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4p 3P* → 1s.5d 3D | Измерено | NIST | |
| 425.2 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2s.3p 4P* → 1s.2s.4s 4S | Измерено | NIST | |
| 425.2 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2s.3p 4P* → 1s.2s.4s 4S | Измерено | NIST | |
| 425.2 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2s.3p 4P* → 1s.2s.4s 4S | Измерено | NIST | |
| 425.2987 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3d 3D → 1s2.2p.3s 3P* | Измерено | NIST | |
| 425.2987 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3d 3D → 1s2.2p.3s 3P* | Измерено | NIST | |
| 425.2987 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3d 3D → 1s2.2p.3s 3P* | Измерено | NIST | |
| 425.3707 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3d 3D → 1s2.2p.3s 3P* | Измерено | NIST | |
| 425.3707 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3d 3D → 1s2.2p.3s 3P* | Измерено | NIST | |
| 425.4085 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3d 3D → 1s2.2p.3s 3P* | Измерено | NIST | |
| 432.953 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4f 4F* | Измерено | NIST | |
| 432.953 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4f 4F* | Измерено | NIST | |
| 432.953 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4f 4F* | Измерено | NIST | |
| 432.953 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4f 4F* | Измерено | NIST | |
| 432.953 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4f 4F* | Измерено | NIST | |
| 432.953 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4f 4F* | Измерено | NIST | |
| 432.953 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4f 4F* | Измерено | NIST | |
| 432.953 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4f 4F* | Измерено | NIST | |
| 432.953 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4f 4F* | Измерено | NIST | |
| 433.302 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.10f 2F* | Измерено | NIST | |
| 433.306 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.10f 2F* | Измерено | NIST | |
| 433.306 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.10f 2F* | Измерено | NIST | |
| 436.0665 нм | 810 | Be II | emission | 1s2.3p 2P* → 1s2.4d 2D | Измерено | NIST | |
| 436.0986 нм | 960 | Be II | emission | 1s2.3p 2P* → 1s2.4d 2D | Измерено | NIST | |
| 436.1032 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.3p 2P* → 1s2.4d 2D | Измерено | NIST | |
| 437.112 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4D* → 1s.2p.4f 4F | Измерено | NIST | |
| 437.112 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4D* → 1s.2p.4f 4F | Измерено | NIST | |
| 437.112 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4D* → 1s.2p.4f 4F | Измерено | NIST | |
| 437.112 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4D* → 1s.2p.4f 4F | Измерено | NIST | |
| 437.112 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4D* → 1s.2p.4f 4F | Измерено | NIST | |
| 437.112 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4D* → 1s.2p.4f 4F | Измерено | NIST | |
| 437.112 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4D* → 1s.2p.4f 4F | Измерено | NIST | |
| 437.112 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4D* → 1s.2p.4f 4F | Измерено | NIST | |
| 437.112 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4D* → 1s.2p.4f 4F | Измерено | NIST | |
| 440.393 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.9d 2D | Измерено | NIST | |
| 440.408 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.9d 2D | Измерено | NIST | |
| 440.408 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.9d 2D | Измерено | NIST | |
| 440.7936 нм | 19 | Be I | emission | 1s2.2s.2p 1P* → 1s2.2s.4s 1S | Измерено | NIST | |
| 445.828 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4d 1D → 1s.5p 1P* | Измерено | NIST | |
| 446.786 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.9s 2S | Измерено | NIST | |
| 446.802 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.9s 2S | Измерено | NIST | |
| 447.669 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4s 2S → 1s2.7p 2P* | Измерено | NIST | |
| 447.672 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4s 2S → 1s2.7p 2P* | Измерено | NIST | |
| 448.651 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5f 1F* | Измерено | NIST | |
| 448.651 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5f 1F* | Измерено | NIST | |
| 448.651 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5f 3F* | Измерено | NIST | |
| 448.651 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5f 3F* | Измерено | NIST | |
| 448.651 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5f 3F* | Измерено | NIST | |
| 448.651 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5f 3F* | Измерено | NIST | |
| 448.651 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5f 3F* | Измерено | NIST | |
| 448.651 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5f 3F* | Измерено | NIST | |
| 449.54 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4d 1D → 1s.5f 1F* | Измерено | NIST | |
| 449.54 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4d 1D → 1s.5f 3F* | Измерено | NIST | |
| 449.54 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4d 1D → 1s.5f 3F* | Измерено | NIST | |
| 449.96 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4f 1F* → 1s.5d 1D | Измерено | NIST | |
| 449.96 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4f 3F* → 1s.5d 1D | Измерено | NIST | |
| 450.511 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4f 1F* → 1s.5d 3D | Измерено | NIST | |
| 450.511 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4f 1F* → 1s.5d 3D | Измерено | NIST | |
| 450.511 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4f 3F* → 1s.5d 3D | Измерено | NIST | |
| 450.511 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4f 3F* → 1s.5d 3D | Измерено | NIST | |
| 450.511 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4f 3F* → 1s.5d 3D | Измерено | NIST | |
| 450.511 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4f 3F* → 1s.5d 3D | Измерено | NIST | |
| 450.511 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4f 3F* → 1s.5d 3D | Измерено | NIST | |
| 450.511 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4f 3F* → 1s.5d 3D | Измерено | NIST | |
| 452.6406 нм | 7 | Be I | emission | 1s2.2s.4p 1P* → 1s2.2p.3p 1P | Измерено | NIST | |
| 453.543 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.9f 2F* | Измерено | NIST | |
| 453.548 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.9f 2F* | Измерено | NIST | |
| 453.548 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.9f 2F* | Измерено | NIST | |
| 453.58 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4p 1P* → 1s.5p 1P* | Измерено | NIST | |
| 454.06 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.9g 2G | Измерено | NIST | |
| 454.062 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.9g 2G | Измерено | NIST | |
| 454.062 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.9g 2G | Измерено | NIST | |
| 454.788 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.9p 2P* | Измерено | NIST | |
| 454.789 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.9p 2P* | Измерено | NIST | |
| 454.793 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.9p 2P* | Измерено | NIST | |
| 454.8055 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s2 1S → 1s2.2s.2p 3P* | Измерено | NIST | |
| 454.85379 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s2 1S → 1s2.2s.2p 3P* | Измерено | NIST | |
| 457.266603 нм | 30 | Be I | emission | 1s2.2s.2p 1P* → 1s2.2s.3d 1D | Измерено | NIST | |
| 457.55 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4p 1P* → 1s.5d 1D | Измерено | NIST | |
| 458.12 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4p 1P* → 1s.5d 3D | Измерено | NIST | |
| 459.61 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4p 4P* | Измерено | NIST | |
| 459.61 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4p 4P* | Измерено | NIST | |
| 459.61 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4p 4P* | Измерено | NIST | |
| 459.61 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4p 4P* | Измерено | NIST | |
| 459.61 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4p 4P* | Измерено | NIST | |
| 459.61 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4p 4P* | Измерено | NIST | |
| 459.61 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4p 4P* | Измерено | NIST | |
| 459.61 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4p 4P* | Измерено | NIST | |
| 461.05 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3p 4P → 1s.2p.4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 461.05 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3p 4P → 1s.2p.4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 461.05 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3p 4P → 1s.2p.4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 461.05 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3p 4P → 1s.2p.4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 461.05 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3p 4P → 1s.2p.4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 461.05 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3p 4P → 1s.2p.4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 461.05 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3p 4P → 1s.2p.4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 462.827 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5p 3P* | Измерено | NIST | |
| 462.827 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5p 3P* | Измерено | NIST | |
| 462.827 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5p 3P* | Измерено | NIST | |
| 462.827 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5p 3P* | Измерено | NIST | |
| 462.827 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5p 3P* | Измерено | NIST | |
| 462.827 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5p 3P* | Измерено | NIST | |
| 463.774 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4d 1D → 1s.5p 3P* | Измерено | NIST | |
| 463.774 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4d 1D → 1s.5p 3P* | Измерено | NIST | |
| 465.722198 нм | N/A | Be IV | emission | 5p 2P* → 6d 2D | Измерено | NIST | |
| 465.730484 нм | N/A | Be IV | emission | 5s 2S → 6p 2P* | Измерено | NIST | |
| 465.792545 нм | N/A | Be IV | emission | 5p 2P* → 6s 2S | Измерено | NIST | |
| 465.805836 нм | N/A | Be IV | emission | 5s 2S → 6p 2P* | Измерено | NIST | |
| 465.827127 нм | N/A | Be IV | emission | 5d 2D → 6f 2F* | Измерено | NIST | |
| 465.827302 нм | N/A | Be IV | emission | 5p 2P* → 6d 2D | Измерено | NIST | |
| 465.85207 нм | N/A | Be IV | emission | 5d 2D → 6p 2P* | Измерено | NIST | |
| 465.852419 нм | N/A | Be IV | emission | 5p 2P* → 6d 2D | Измерено | NIST | |
| 465.857919 нм | N/A | Be IV | emission | 5f 2F* → 6g 2G | Измерено | NIST | |
| 465.857973 нм | N/A | Be IV | emission | 5d 2D → 6f 2F* | Измерено | NIST | |
| 465.870408 нм | N/A | Be IV | emission | 5f 2F* → 6d 2D | Измерено | NIST | |
| 465.870532 нм | N/A | Be IV | emission | 5d 2D → 6f 2F* | Измерено | NIST | |
| 465.872059 нм | N/A | Be IV | emission | 5g 2G → 6h 2H* | Измерено | NIST | |
| 465.872085 нм | N/A | Be IV | emission | 5f 2F* → 6g 2G | Измерено | NIST | |
| 465.879556 нм | N/A | Be IV | emission | 5g 2G → 6f 2F* | Измерено | NIST | |
| 465.879621 нм | N/A | Be IV | emission | 5f 2F* → 6g 2G | Измерено | NIST | |
| 465.8800567 нм | N/A | Be IV | emission | 5g 2G → 6h 2H* | Измерено | NIST | |
| 465.8850804 нм | N/A | Be IV | emission | 5g 2G → 6h 2H* | Измерено | NIST | |
| 465.892111 нм | N/A | Be IV | emission | 5f 2F* → 6d 2D | Измерено | NIST | |
| 465.892116 нм | N/A | Be IV | emission | 5g 2G → 6f 2F* | Измерено | NIST | |
| 465.892578 нм | N/A | Be IV | emission | 5g 2G → 6f 2F* | Измерено | NIST | |
| 465.89548 нм | N/A | Be IV | emission | 5d 2D → 6p 2P* | Измерено | NIST | |
| 465.89553 нм | N/A | Be IV | emission | 5f 2F* → 6d 2D | Измерено | NIST | |
| 465.9228055 нм | N/A | Be IV | emission | 5p 2P* → 6s 2S | Измерено | NIST | |
| 465.927462 нм | N/A | Be IV | emission | 5d 2D → 6p 2P* | Измерено | NIST | |
| 466.346 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4p 3P* → 1s.5s 3S | Измерено | NIST | |
| 466.346 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4p 3P* → 1s.5s 3S | Измерено | NIST | |
| 466.346 нм | N/A | Be III | emission | 1s.4p 3P* → 1s.5s 3S | Измерено | NIST | |
| 466.37 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4P* → 1s.2p.4f 4D | Измерено | NIST | |
| 466.37 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4P* → 1s.2p.4f 4D | Измерено | NIST | |
| 466.37 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4P* → 1s.2p.4f 4D | Измерено | NIST | |
| 466.37 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4P* → 1s.2p.4f 4D | Измерено | NIST | |
| 466.37 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4P* → 1s.2p.4f 4D | Измерено | NIST | |
| 466.37 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4P* → 1s.2p.4f 4D | Измерено | NIST | |
| 466.37 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4P* → 1s.2p.4f 4D | Измерено | NIST | |
| 466.37 нм | N/A | Be II | emission | 1s.2p.3d 4P* → 1s.2p.4f 4D | Измерено | NIST | |
| 467.3332 нм | 1060 | Be II | emission | 1s2.3d 2D → 1s2.4f 2F* | Измерено | NIST | |
| 467.342 нм | 1160 | Be II | emission | 1s2.3d 2D → 1s2.4f 2F* | Измерено | NIST | |
| 467.345 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.3d 2D → 1s2.4f 2F* | Измерено | NIST | |
| 470.234 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.8d 2D | Измерено | NIST | |
| 470.252 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.8d 2D | Измерено | NIST | |
| 470.252 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.8d 2D | Измерено | NIST | |
| 470.9391 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.8p 3P* | Измерено | NIST | |
| 470.9394 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.8p 3P* | Измерено | NIST | |
| 470.9396 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.8p 3P* | Измерено | NIST | |
| 480.759 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.8s 2S | Измерено | NIST | |
| 480.777 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.8s 2S | Измерено | NIST | |
| 482.799 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.3d 2D → 1s2.4p 2P* | Измерено | NIST | |
| 482.812 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.3d 2D → 1s2.4p 2P* | Измерено | NIST | |
| 482.818 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.3d 2D → 1s2.4p 2P* | Измерено | NIST | |
| 484.9153 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.7p 3P* | Измерено | NIST | |
| 484.9153 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.7p 3P* | Измерено | NIST | |
| 484.9156 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.7p 3P* | Измерено | NIST | |
| 485.233 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.8f 2F* | Измерено | NIST | |
| 485.238 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.8f 2F* | Измерено | NIST | |
| 485.238 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.8f 2F* | Измерено | NIST | |
| 485.6045 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.2p 3P* → 1s2.2s.2p 1P* | Измерено | NIST | |
| 485.61897 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.2p 3P* → 1s2.2s.2p 1P* | Измерено | NIST | |
| 485.61897 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.2p 3P* → 1s2.2s.2p 1P* | Измерено | NIST | |
| 485.6741 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.2p 3P* → 1s2.2s.2p 1P* | Измерено | NIST | |
| 485.6741 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.2p 3P* → 1s2.2s.2p 1P* | Измерено | NIST | |
| 485.82 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.8g 2G | Измерено | NIST | |
| 485.823 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.8g 2G | Измерено | NIST | |
| 485.823 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.8g 2G | Измерено | NIST | |
| 508.7714 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.6p 3P* | Измерено | NIST | |
| 508.7714 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.6p 3P* | Измерено | NIST | |
| 508.7719 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.6p 3P* | Измерено | NIST | |
| 515.2 нм | N/A | Be III | emission | 1s.5d 1D → 1s.7p 1P* | Измерено | NIST | |
| 515.778 нм | N/A | Be III | emission | 1s.5d 3D → 1s.7f 3F* | Измерено | NIST | |
| 515.778 нм | N/A | Be III | emission | 1s.5d 3D → 1s.7f 3F* | Измерено | NIST | |
| 515.778 нм | N/A | Be III | emission | 1s.5d 3D → 1s.7f 3F* | Измерено | NIST | |
| 515.778 нм | N/A | Be III | emission | 1s.5d 3D → 1s.7f 3F* | Измерено | NIST | |
| 515.778 нм | N/A | Be III | emission | 1s.5d 3D → 1s.7f 3F* | Измерено | NIST | |
| 515.778 нм | N/A | Be III | emission | 1s.5d 3D → 1s.7f 3F* | Измерено | NIST | |
| 516.51 нм | N/A | Be III | emission | 1s.5d 1D → 1s.7f 3F* | Измерено | NIST | |
| 516.51 нм | N/A | Be III | emission | 1s.5d 1D → 1s.7f 3F* | Измерено | NIST | |
| 521.8119 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.7d 2D | Измерено | NIST | |
| 521.834 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.7d 2D | Измерено | NIST | |
| 521.834 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.7d 2D | Измерено | NIST | |
| 525.007 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3s 1S → 1s2.2s.9p 1P* | Измерено | NIST | |
| 525.584 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4s 2S → 1s2.6p 2P* | Измерено | NIST | |
| 525.59 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4s 2S → 1s2.6p 2P* | Измерено | NIST | |
| 526.1527 нм | 5 | Be I | emission | 1s2.2s.5p 1P* → 1s2.2p.3p 1P | Измерено | NIST | |
| 527.027 нм | 810 | Be II | emission | 1s2.3p 2P* → 1s2.4s 2S | Измерено | NIST | |
| 527.0806 нм | 960 | Be II | emission | 1s2.3p 2P* → 1s2.4s 2S | Измерено | NIST | |
| 536.552 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3s 1S → 1s2.2s.8p 1P* | Измерено | NIST | |
| 540.299 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.7f 2F* | Измерено | NIST | |
| 540.306 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.7f 2F* | Измерено | NIST | |
| 540.306 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.7f 2F* | Измерено | NIST | |
| 541.018 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.7g 2G | Измерено | NIST | |
| 541.022 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.7g 2G | Измерено | NIST | |
| 541.022 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.7g 2G | Измерено | NIST | |
| 541.612 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.7s 2S | Измерено | NIST | |
| 541.636 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.7s 2S | Измерено | NIST | |
| 544.069 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.7p 2P* | Измерено | NIST | |
| 544.073 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.7p 2P* | Измерено | NIST | |
| 544.076 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.7p 2P* | Измерено | NIST | |
| 554.648 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3s 1S → 1s2.2s.7p 1P* | Измерено | NIST | |
| 555.881 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.5p 3P* | Измерено | NIST | |
| 555.881 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.5p 3P* | Измерено | NIST | |
| 555.881 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.5p 3P* | Измерено | NIST | |
| 585.7012 нм | 3 | Be I | emission | 1s2.2s.3s 1S → 1s2.2s.6p 1P* | Измерено | NIST | |
| 593.771 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2p2 1D → 1s2.2s.9p 1P* | Измерено | NIST | |
| 608.58 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2p2 1D → 1s2.2s.8p 1P* | Измерено | NIST | |
| 608.6 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2p2 1D → 1s2.2s.8p 3P* | Измерено | NIST | |
| 614.2 нм | N/A | Be III | emission | 1s.2s 1S → 1s.2p 1P* | Измерено | NIST | |
| 622.9108 нм | 3 | Be I | emission | 1s2.2p2 1D → 1s2.2s.7f 1F* | Измерено | NIST | |
| 627.9418 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.6d 2D | Измерено | NIST | |
| 627.9737 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.6d 2D | Измерено | NIST | |
| 627.9737 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.6d 2D | Измерено | NIST | |
| 631.966 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2p2 1D → 1s2.2s.7p 1P* | Измерено | NIST | |
| 632.145 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2p2 1D → 1s2.2s.7p 3P* | Измерено | NIST | |
| 647.3536 нм | 7 | Be I | emission | 1s2.2s.3s 1S → 1s2.2s.5p 1P* | Измерено | NIST | |
| 654.784 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.6f 2F* | Измерено | NIST | |
| 654.793 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.6f 2F* | Измерено | NIST | |
| 654.794 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.6f 2F* | Измерено | NIST | |
| 655.833 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.6g 2G | Измерено | NIST | |
| 655.839 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.6g 2G | Измерено | NIST | |
| 655.839 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.6g 2G | Измерено | NIST | |
| 656.4519 нм | 9 | Be I | emission | 1s2.2p2 1D → 1s2.2s.6f 1F* | Измерено | NIST | |
| 663.633 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.6p 2P* | Измерено | NIST | |
| 663.644 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.6p 2P* | Измерено | NIST | |
| 663.644 нм | N/A | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.6p 2P* | Измерено | NIST | |
| 671.15 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.9d 3D | Измерено | NIST | |
| 671.21 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.9d 3D | Измерено | NIST | |
| 671.23 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.9d 3D | Измерено | NIST | |
| 671.25 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.9d 3D | Измерено | NIST | |
| 671.25 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.9d 3D | Измерено | NIST | |
| 671.26 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.9d 3D | Измерено | NIST | |
| 672.598 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2p2 1D → 1s2.2s.6p 1P* | Измерено | NIST | |
| 675.675 нм | 10 | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.6s 2S | Измерено | NIST | |
| 675.712 нм | 110 | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.6s 2S | Измерено | NIST | |
| 678.656 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.4p 3P* | Измерено | NIST | |
| 678.656 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.4p 3P* | Измерено | NIST | |
| 678.656 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.4p 3P* | Измерено | NIST | |
| 688.422 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.8d 3D | Измерено | NIST | |
| 688.422 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.8d 3D | Измерено | NIST | |
| 688.423 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.8d 3D | Измерено | NIST | |
| 688.44 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.8d 3D | Измерено | NIST | |
| 688.44 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.8d 3D | Измерено | NIST | |
| 688.444 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.8d 3D | Измерено | NIST | |
| 698.273 нм | 13 | Be I | emission | 1s2.2s.2p 1P* → 1s2.2p2 1D | Измерено | NIST | |
| 704.98 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.8s 3S | Измерено | NIST | |
| 704.98 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.8s 3S | Измерено | NIST | |
| 705 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.8s 3S | Измерено | NIST | |
| 715.44 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.7d 3D | Измерено | NIST | |
| 715.44 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.7d 3D | Измерено | NIST | |
| 715.441 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.7d 3D | Измерено | NIST | |
| 715.459 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.7d 3D | Измерено | NIST | |
| 715.46 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.7d 3D | Измерено | NIST | |
| 715.465 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.7d 3D | Измерено | NIST | |
| 720.9132 нм | 13 | Be I | emission | 1s2.2p2 1D → 1s2.2s.5f 1F* | Измерено | NIST | |
| 720.928 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2p2 1D → 1s2.2s.5f 3F* | Измерено | NIST | |
| 730.819 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 1P* → 1s2.2s.9d 1D | Измерено | NIST | |
| 740.1196 нм | 210 | Be II | emission | 1s2.4s 2S → 1s2.5p 2P* | Измерено | NIST | |
| 740.1431 нм | 110 | Be II | emission | 1s2.4s 2S → 1s2.5p 2P* | Измерено | NIST | |
| 743.44 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.7s 3S | Измерено | NIST | |
| 743.44 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.7s 3S | Измерено | NIST | |
| 743.46 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.7s 3S | Измерено | NIST | |
| 744.887 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 1P* → 1s2.2s.9s 1S | Измерено | NIST | |
| 749.842 нм | N/A | Be I | emission | 1s2.2s.3p 1P* → 1s2.2s.8d 1D | Измерено | NIST |
Расширенные свойства
Ковалентные радиусы (расш.)
Радиусы Ван-дер-Ваальса
Атомные и металлические радиусы
Шкалы нумерации
Шкалы электроотрицательности
Поляризуемость и дисперсия
Параметры Мидемы
Риск поставок и экономика
Фазовые переходы и аллотропы
| Температура плавления | 1560.15 K |
| Температура кипения | 2741.15 K |
| Критическая точка (температура) | 5205.15 K |
Категории степеней окисления
Расширенные справочные данные
Константы экранирования (2)
| n | Орбиталь | σ |
|---|---|---|
| 1 | s | 0.3152 |
| 2 | s | 2.088 |
Детализация кристаллических радиусов (3)
| Заряд | CN | Спин | rcrystal (pm) | Источник |
|---|---|---|---|---|
| 2 | III | 30 | ||
| 2 | IV | 41 | ||
| 2 | VI | 59 | calculated, |
Режимы распада изотопов (19)
| Изотоп | Режим | Интенсивность |
|---|---|---|
| 5 | p | — |
| 6 | 2p | 100% |
| 7 | EC | 100% |
| 8 | A | 100% |
| 10 | B- | 100% |
| 11 | B- | 100% |
| 11 | B-A | 3.3% |
| 11 | B-p | 0% |
| 11 | B-n | — |
| 12 | B- | 100% |
Факторы рассеяния X‑лучей (724)
| Энергия (eV) | f₁ | f₂ |
|---|---|---|
| 10 | — | 1.70333 |
| 10.1617 | — | 1.71802 |
| 10.3261 | — | 1.73284 |
| 10.4931 | — | 1.74778 |
| 10.6628 | — | 1.75737 |
| 10.8353 | — | 1.76678 |
| 11.0105 | — | 1.77624 |
| 11.1886 | — | 1.78574 |
| 11.3696 | — | 1.7953 |
| 11.5535 | — | 1.80306 |
Дополнительные данные
Estimated Crustal Abundance
The estimated element abundance in the earth's crust.
2.8 milligrams per kilogram
Источники (1)
- [5] Beryllium https://education.jlab.org/itselemental/ele004.html
Estimated Oceanic Abundance
The estimated element abundance in the earth's oceans.
5.6×10-6 milligrams per liter
Источники (1)
- [5] Beryllium https://education.jlab.org/itselemental/ele004.html
Sources
Sources of this element.
Beryllium is found in some 30 mineral species, the most important of which are bertrandite, beryl, chrysoberyl, and phenacite. Aquamarine and emerald are precious forms of beryl. Beryl and bertrandite are the most important commercial sources of the element and its compounds. Most of the metal is now prepared by reducing beryllium fluoride with magnesium metal. Beryllium metal did not become readily available to industry until 1957.
Источники (1)
- [6] Beryllium https://periodic.lanl.gov/4.shtml
Источники
(9)
Data deposited in or computed by PubChem
The half-life and atomic mass data was provided by the Atomic Mass Data Center at the International Atomic Energy Agency.
Element data are cited from the Atomic weights of the elements (an IUPAC Technical Report). The IUPAC periodic table of elements can be found at https://iupac.org/what-we-do/periodic-table-of-elements/. Additional information can be found within IUPAC publication doi:10.1515/pac-2015-0703 Copyright © 2020 International Union of Pure and Applied Chemistry.
The information are cited from Pure Appl. Chem. 2018; 90(12): 1833-2092, https://doi.org/10.1515/pac-2015-0703.
Thomas Jefferson National Accelerator Facility (Jefferson Lab) is one of 17 national laboratories funded by the U.S. Department of Energy. The lab's primary mission is to conduct basic research of the atom's nucleus using the lab's unique particle accelerator, known as the Continuous Electron Beam Accelerator Facility (CEBAF). For more information visit https://www.jlab.org/
The periodic table at the LANL (Los Alamos National Laboratory) contains basic element information together with the history, source, properties, use, handling and more. The provenance data may be found from the link under the source name.
The periodic table contains NIST's critically-evaluated data on atomic properties of the elements. The provenance data that include data for atomic spectroscopy, X-ray and gamma ray, radiation dosimetry, nuclear physics, and condensed matter physics may be found from the link under the source name. Ref: https://www.nist.gov/pml/atomic-spectra-database
This section provides all form of data related to element Beryllium.
The element property data was retrieved from publications.

