Индий (In)
Постпереходный металлТвёрдое тело
Стандартный атомный вес
114.818 uЭлектронная конфигурация
[Kr] 5s2 4d10 5p1Температура плавления
156.6 °C (429.75 K)Температура кипения
2071.85 °C (2345 K)Плотность
7310 kg/m³Степени окисления
−5, −2, −1, 0, +1, +2, +3Электроотрицательность (Полинг)
1.78Энергия ионизации (1-я)
Год открытия
1863Атомный радиус
155 pmДополнительно
Индий — мягкий серебристый постпереходный металл 13-й группы. Он химически родственен галлию и таллию, но его устойчивая химия определяется преимущественно степенью окисления +3, хотя известны и соединения +1. Этот элемент редок в земной коре и главным образом получают как побочный продукт переработки цинка. Его технологическая значимость непропорциональна его распространённости, особенно потому, что прозрачный проводящий оксид индия-олова является ключевым материалом для плоских дисплеев, сенсорных экранов и других оптоэлектронных устройств.
Индий доступен в сверхчистой форме. Индий — очень мягкий, серебристо-белый металл с ярким блеском. Чистый металл издаёт пронзительный «крик» при изгибе. Он смачивает стекло, как и галлий.
Название происходит от термина «indigo» для индиго-синей линии в спектре искрового излучения элемента. Он был открыт в 1863 году немецким физиком Фердинандом Рейхом и немецким металлургом Иеронимом Теодором Рихтером при исследовании сфалерита. Они выделили индий в 1867 году.
Индий был открыт немецкими химиками Фердинандом Рейхом и Иеронимом Теодором Рихтером в 1863 году. Рейх и Рихтер искали следы элемента таллия в образцах цинковых руд. Яркая индиговая линия в спектре образца показала существование индия. Индий по распространенности примерно сравним с серебром, но извлекать его гораздо легче, поскольку он обычно встречается вместе с рудами цинка, железа, свинца и меди.
От яркой индиговой линии в его спектре. Открыт Рейхом и Рихтером, которые позже выделили металл. До 1924 года мировые запасы этого элемента в изолированной форме составляли около одного грамма. По-видимому, его распространенность примерно такая же, как у серебра. Сейчас в свободном мире ежегодно производится около 4 миллионов тройских унций индия. В настоящее время Канада производит более 1 000 000 тройских унций в год.
Изображения
Свойства
Физические
Химические
Термодинамические
Ядерные
Распространённость
Реакционная способность
N/A
Кристаллическая структура
Электронная структура
Идентификаторы
Электронная конфигурация Measured
In: 4d¹⁰ 5s² 5p¹[Kr] 4d¹⁰ 5s² 5p¹1s² 2s² 2p⁶ 3s² 3p⁶ 3d¹⁰ 4s² 4p⁶ 4d¹⁰ 5s² 5p¹Модель атома
Изотопы меняют число нейтронов, массу и стабильность — но не электронную конфигурацию нейтрального атома.
Схематическая модель атома, не в масштабе.
Атомный отпечаток
Спектр испускания / поглощения
Распределение изотопов
| Массовое число | Атомная масса (а.е.м.) | Природная распространённость | Период полураспада |
|---|---|---|---|
| 113 Стабильный | 112,90406184 ± 0,00000091 | 4.2900% | Стабильный |
Фазовое состояние
Причина: на 131.6 °C ниже точки плавления (156.6 °C)
Схематично, не в масштабе
Точки фазовых переходов
Энергии переходов
Энергия для плавления 1 моля при tплав
Энергия для испарения 1 моля при tкип
Энергия для возгонки 1 моля при tвозг
Плотность
При нормальных условиях
При нормальных условиях
Дополнительно
Атомные спектры
Показано 10 из 49 Атомные спектры. Сортировка по заряду иона (по возрастанию).
Состав спектральных линий ?
| Ion | Заряд | Total lines | Transition probabilities | Level designations |
|---|---|---|---|---|
| In I | 0 | 92 | 27 | 91 |
| In II | +1 | 899 | 528 | 899 |
| In III | +2 | 55 | 0 | 0 |
| In IV | +3 | 42 | 0 | 0 |
| In V | +4 | 38 | 0 | 0 |
Состав энергетических уровней ?
| Ion | Заряд | Levels |
|---|---|---|
| In I | 0 | 114 |
| In II | +1 | 195 |
| In III | +2 | 28 |
| In IV | +3 | 18 |
| In V | +4 | 42 |
| In VI | +5 | 2 |
| In VII | +6 | 2 |
| In VIII | +7 | 2 |
| In IX | +8 | 2 |
| In X | +9 | 2 |
Данные о кристаллической структуре недоступны
Кристаллическая структура: tetragonal
Ионные радиусы
| Заряд | Координация | Спин | Радиус |
|---|---|---|---|
| +3 | 4 | N/A | 62 пм |
| +3 | 6 | N/A | 80 пм |
| +3 | 8 | N/A | 92 пм |
Соединения
Изотопы (1)
| Массовое число | Атомная масса (а.е.м.) | Природная распространённость | Период полураспада | Режим распада | |
|---|---|---|---|---|---|
| 113 Стабильный | 112,90406184 ± 0,00000091 | 4.2900% ± 0.0500% | Стабильный | stable |
Спектральные линии
Показано 50 из 277 Спектральные линии. По умолчанию показаны только спектральные линии с измеренной интенсивностью.
| Длина волны (нм) | Интенсивность | Стадия ионизации | Тип | Переход | Точность | Источник | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 383.46308 нм | 32000 | In II | emission | 5s.5d 1D → 5s.4f 1F* | Измерено | NIST | |
| 451.12972 нм | 18000 | In I | emission | 5s2.5p 2P* → 5s2.6s 2S | Измерено | NIST | |
| 410.17504 нм | 17000 | In I | emission | 5s2.5p 2P* → 5s2.6s 2S | Измерено | NIST | |
| 468.1115 нм | 16000 | In II | emission | 5s.5d 3D → 5s.4f 3F* | Измерено | NIST | |
| 590.33916 нм | 9000 | In II | emission | 5s.6p 3P* → 5s.6d 3D | Измерено | NIST | |
| 463.8162 нм | 8800 | In II | emission | 5s.5d 3D → 5s.4f 3F* | Измерено | NIST | |
| 465.562 нм | 7800 | In II | emission | 5s.5d 3D → 5s.4f 3F* | Измерено | NIST | |
| 464.4572 нм | 5900 | In II | emission | 5s.5d 3D → 5s.4f 1F* | Измерено | NIST | |
| 718.29048 нм | 5800 | In II | emission | 5s.6s 3S → 5s.6p 3P* | Измерено | NIST | |
| 384.2918 нм | 5600 | In II | emission | 5s.5d 1D → 5s.4f 3F* | Измерено | NIST | |
| 591.87693 нм | 5100 | In II | emission | 5s.6p 1P* → 5s.6d 1D | Измерено | NIST | |
| 616.254 нм | 4100 | In II | emission | 5s.4f 1F* → 5s<1/2,F=4>.6g | Измерено | NIST | |
| 689.15826 нм | 3900 | In II | emission | 5s.6s 3S → 5s.6p 3P* | Измерено | NIST | |
| 585.31709 нм | 3400 | In II | emission | 5s.6p 3P* → 5s.6d 3D | Измерено | NIST | |
| 609.59333 нм | 3300 | In II | emission | 5s.6p 3P* → 5s.6d 3D | Измерено | NIST | |
| 468.4791 нм | 2500 | In II | emission | 5s.5d 3D → 5s.4f 3F* | Измерено | NIST | |
| 727.66388 нм | 2400 | In II | emission | 5s.6s 3S → 5s.6p 3P* | Измерено | NIST | |
| 614.953 нм | 2200 | In II | emission | 5s.4f 3F* → 5s<1/2,F=4>.6g | Измерено | NIST | |
| 613.986 нм | 2100 | In II | emission | 5s.4f 3F* → 5s<1/2,F=5>.6g | Измерено | NIST | |
| 614.32 нм | 2100 | In II | emission | 5s.4f 3F* → 5s<1/2,F=4>.6g | Измерено | NIST | |
| 614.813 нм | 2100 | In II | emission | 5s.4f 3F* → 5s<1/2,F=5>.6g | Измерено | NIST | |
| 616.113 нм | 2000 | In II | emission | 5s.4f 1F* → 5s<1/2,F=5>.6g | Измерено | NIST | |
| 465.6736 нм | 1700 | In II | emission | 5s.5d 3D → 5s.4f 3F* | Измерено | NIST | |
| 551.3006 нм | 1500 | In II | emission | 5p2 3P → 5s.4f 1F* | Измерено | NIST | |
| 614.126 нм | 1500 | In II | emission | 5s.4f 3F* → 5s<1/2,F=4>.6g | Измерено | NIST | |
| 405.69377 нм | 1300 | In II | emission | 5s.6p 3P* → 5s.8s 3S | Измерено | NIST | |
| 591.52626 нм | 1300 | In II | emission | 5s.6p 3P* → 5s.6d 3D | Измерено | NIST | |
| 557.6866 нм | 1200 | In II | emission | 5s.7p 1P* → 5s.10d 1D | Измерено | NIST | |
| 551.935 нм | 1100 | In II | emission | 5s.6d 3D → 5s.7f 3F* | Измерено | NIST | |
| 549.7486 нм | 1000 | In II | emission | 5s.6d 3D → 5s.7f 3F* | Измерено | NIST | |
| 550.7048 нм | 1000 | In II | emission | 5s.6d 3D → 5s.7f 3F* | Измерено | NIST | |
| 551.0883 нм | 1000 | In II | emission | 5s.7p 3P* → 5s.10d 3D | Измерено | NIST | |
| 512.0847 нм | 960 | In II | emission | 5s.4f 3F* → 5s<1/2,F=5>.7g | Измерено | NIST | |
| 390.20794 нм | 910 | In II | emission | 5s.6p 1P* → 5s.7d 1D | Измерено | NIST | |
| 384.2158 нм | 900 | In II | emission | 5s.5d 1D → 5s.4f 3F* | Измерено | NIST | |
| 512.1781 нм | 880 | In II | emission | 5s.4f 3F* → 5s<1/2,F=4>.7g | Измерено | NIST | |
| 611.58707 нм | 830 | In II | emission | 5s.6p 3P* → 5s.6d 3D | Измерено | NIST | |
| 511.7388 нм | 810 | In II | emission | 5s.4f 3F* → 5s<1/2,F=4>.7g | Измерено | NIST | |
| 511.5109 нм | 800 | In II | emission | 5s.4f 3F* → 5s<1/2,F=5>.7g | Измерено | NIST | |
| 512.9865 нм | 710 | In II | emission | 5s.4f 1F* → 5s<1/2,F=5>.7g | Измерено | NIST | |
| 463.7055 нм | 610 | In II | emission | 5s.5d 3D → 5s.4f 3F* | Измерено | NIST | |
| 511.6041 нм | 590 | In II | emission | 5s.4f 3F* → 5s<1/2,F=4>.7g | Измерено | NIST | |
| 550.7779 нм | 570 | In II | emission | 5s.6d 3D → 5s.7f 3F* | Измерено | NIST | |
| 414.9635 нм | 550 | In II | emission | 5s.4f 1F* → 5s<1/2,F=5>.10g | Измерено | NIST | |
| 530.94926 нм | 550 | In II | emission | 5s.6p 3P* → 5s.6d 1D | Измерено | NIST | |
| 454.8998 нм | 540 | In II | emission | 5p2 1D → 5s.8p 3P* | Измерено | NIST | |
| 461.6069 нм | 540 | In II | emission | 5s.4f 3F* → 5s<1/2,F=4>.8g | Измерено | NIST | |
| 457.0881 нм | 520 | In II | emission | 5s.6d 3D → 5s.9f 3F* | Измерено | NIST | |
| 458.701 нм | 520 | In II | emission | 5s.6d 3D → 5s.9f 3F* | Измерено | NIST | |
| 457.1286 нм | 510 | In II | emission | 5s.6d 3D → 5s.9f 3F* | Измерено | NIST |
Расширенные свойства
Ковалентные радиусы (расш.)
Радиусы Ван-дер-Ваальса
Атомные и металлические радиусы
Шкалы нумерации
Шкалы электроотрицательности
Поляризуемость и дисперсия
Параметры Мидемы
Риск поставок и экономика
Фазовые переходы и аллотропы
| Температура плавления | 429.75 K |
| Температура кипения | 2300.15 K |
| Тройная точка (температура) | 429.74 K |
Категории степеней окисления
Расширенные справочные данные
Константы экранирования (11)
| n | Орбиталь | σ |
|---|---|---|
| 1 | s | 0.9903 |
| 2 | p | 4.102 |
| 2 | s | 12.8764 |
| 3 | d | 14.3218 |
| 3 | p | 17.4793 |
| 3 | s | 17.3692 |
| 4 | d | 32.0584 |
| 4 | p | 28.6312 |
| 4 | s | 27.2388 |
| 5 | p | 40.53 |
Детализация кристаллических радиусов (3)
| Заряд | CN | Спин | rcrystal (pm) | Источник |
|---|---|---|---|---|
| 3 | IV | 76 | ||
| 3 | VI | 94 | from r^3 vs V plots, | |
| 3 | VIII | 106 | from r^3 vs V plots, calculated, |
Режимы распада изотопов (69)
| Изотоп | Режим | Интенсивность |
|---|---|---|
| 96 | B+ | — |
| 96 | p | — |
| 97 | B+ | 100% |
| 97 | B+p | 2.3% |
| 97 | p | — |
| 98 | B+ | 100% |
| 98 | B+p | 0.1% |
| 99 | B+ | 100% |
| 99 | B+p | 0.3% |
| 100 | B+ | 100% |
Факторы рассеяния X‑лучей (510)
| Энергия (eV) | f₁ | f₂ |
|---|---|---|
| 10 | — | 2.16244 |
| 10.1617 | — | 2.07002 |
| 10.3261 | — | 1.98155 |
| 10.4931 | — | 1.89686 |
| 10.6628 | — | 1.81579 |
| 10.8353 | — | 1.72844 |
| 11.0106 | — | 1.54985 |
| 11.1886 | — | 1.35731 |
| 11.3696 | — | 0.99325 |
| 11.5535 | — | 0.74202 |
Дополнительные данные
Estimated Crustal Abundance
The estimated element abundance in the earth's crust.
2.5×10-1 milligrams per kilogram
Источники (1)
Estimated Oceanic Abundance
The estimated element abundance in the earth's oceans.
2×10-2 milligrams per liter
Источники (1)
Sources
Sources of this element.
Indium is most frequently associated with zinc materials, and it is from these that most commercial indium is now obtained; however, it is also found in iron, lead, and copper ores.
Источники (1)
- [6] Indium https://periodic.lanl.gov/49.shtml
Источники
(9)
Data deposited in or computed by PubChem
The half-life and atomic mass data was provided by the Atomic Mass Data Center at the International Atomic Energy Agency.
Element data are cited from the Atomic weights of the elements (an IUPAC Technical Report). The IUPAC periodic table of elements can be found at https://iupac.org/what-we-do/periodic-table-of-elements/. Additional information can be found within IUPAC publication doi:10.1515/pac-2015-0703 Copyright © 2020 International Union of Pure and Applied Chemistry.
The information are cited from Pure Appl. Chem. 2018; 90(12): 1833-2092, https://doi.org/10.1515/pac-2015-0703.
Thomas Jefferson National Accelerator Facility (Jefferson Lab) is one of 17 national laboratories funded by the U.S. Department of Energy. The lab's primary mission is to conduct basic research of the atom's nucleus using the lab's unique particle accelerator, known as the Continuous Electron Beam Accelerator Facility (CEBAF). For more information visit https://www.jlab.org/
The periodic table at the LANL (Los Alamos National Laboratory) contains basic element information together with the history, source, properties, use, handling and more. The provenance data may be found from the link under the source name.
The periodic table contains NIST's critically-evaluated data on atomic properties of the elements. The provenance data that include data for atomic spectroscopy, X-ray and gamma ray, radiation dosimetry, nuclear physics, and condensed matter physics may be found from the link under the source name. Ref: https://www.nist.gov/pml/atomic-spectra-database
This section provides all form of data related to element Indium.
The element property data was retrieved from publications.
