Германий (Ge)
ПолуметаллТвёрдое тело
Стандартный атомный вес
72.63 uЭлектронная конфигурация
[Ar] 4s2 3d10 4p2Температура плавления
938.25 °C (1211.4 K)Температура кипения
2832.85 °C (3106 K)Плотность
5323.4 kg/m³Степени окисления
−4, −3, −2, −1, 0, +1, +2, +3, +4Электроотрицательность (Полинг)
2.01Энергия ионизации (1-я)
Год открытия
1886Атомный радиус
125 pmДополнительно
Германий — твёрдый, хрупкий металлоид 14-й группы, химически промежуточный между кремнием и оловом. Это ковалентный полупроводник с узкой запрещённой зоной, образующий устойчивые соединения главным образом в степенях окисления +4 и +2. В большинстве операций этот элемент не добывают как основную руду; его обычно извлекают как побочный продукт из переработки цинка и из некоторых материалов угольного происхождения. Его технологическая значимость основана на инфракрасной оптике, волоконно-оптических материалах, полупроводниковых устройствах и специальных катализаторах.
Элемент представляет собой серо-белый металоид. В чистом состоянии элемент кристаллический и хрупкий, сохраняя блеск на воздухе при комнатной температуре. Это очень важный полупроводник. Методы зонной очистки позволили получать кристаллический германий для использования в полупроводниках с примесью всего в одну часть на 1010.
Название происходит от латинского germania — «Германия». Он был открыт и выделен немецким химиком Клеменсом-Александром Винклером в 1886 году в минерале аргиродите (GeS2×4Ag2S).
Впервые существование элемента было предложено Дмитрием Менделеевым в 1871 году на основе пробелов в его недавно созданной Периодической таблице элементов; германий был открыт немецким химиком Клеменсом Винклером в минерале аргиродите (Ag8GeS6) в 1886 году. Сегодня германий в основном получают при плавке цинковых руд и из побочных продуктов сжигания некоторых видов угля.
От латинского слова Germania, Германия. Менделеев предсказал существование германия в 1871 году как экасилиция, а элемент был открыт Винклером в 1886 году.
Изображения
Свойства
Физические
Химические
Термодинамические
Ядерные
Распространённость
Реакционная способность
N/A
Кристаллическая структура
Электронная структура
Идентификаторы
Электронная конфигурация Measured
Ge: 3d¹⁰ 4s² 4p²[Ar] 3d¹⁰ 4s² 4p²1s² 2s² 2p⁶ 3s² 3p⁶ 3d¹⁰ 4s² 4p²Модель атома
Изотопы меняют число нейтронов, массу и стабильность — но не электронную конфигурацию нейтрального атома.
Схематическая модель атома, не в масштабе.
Атомный отпечаток
Спектр испускания / поглощения
Распределение изотопов
| Массовое число | Атомная масса (а.е.м.) | Природная распространённость | Период полураспада |
|---|---|---|---|
| 70 Стабильный | 69,92424875 ± 0,0000009 | 20.5700% | Стабильный |
| 72 Стабильный | 71,922075826 ± 0,000000081 | 27.4500% | Стабильный |
| 73 Стабильный | 72,923458956 ± 0,000000061 | 7.7500% | Стабильный |
| 74 Стабильный | 73,921177761 ± 0,000000013 | 36.5000% | Стабильный |
Фазовое состояние
Причина: на 913.3 °C ниже точки плавления (938.25 °C)
Схематично, не в масштабе
Точки фазовых переходов
Энергии переходов
Энергия для плавления 1 моля при tплав
Энергия для испарения 1 моля при tкип
Энергия для возгонки 1 моля при tвозг
Плотность
При нормальных условиях
При нормальных условиях
Дополнительно
Атомные спектры
Показано 10 из 32 Атомные спектры. Сортировка по заряду иона (по возрастанию).
Состав спектральных линий ?
| Ion | Заряд | Total lines | Transition probabilities | Level designations |
|---|---|---|---|---|
| Ge I | 0 | 224 | 26 | 223 |
| Ge II | +1 | 149 | 20 | 149 |
| Ge III | +2 | 55 | 0 | 0 |
| Ge IV | +3 | 27 | 0 | 0 |
| Ge V | +4 | 37 | 0 | 0 |
Состав энергетических уровней ?
| Ion | Заряд | Levels |
|---|---|---|
| Ge I | 0 | 621 |
| Ge II | +1 | 129 |
| Ge III | +2 | 48 |
| Ge IV | +3 | 55 |
| Ge V | +4 | 102 |
| Ge VI | +5 | 105 |
| Ge VII | +6 | 168 |
| Ge VIII | +7 | 2 |
| Ge IX | +8 | 2 |
| Ge X | +9 | 2 |
Ионные радиусы
| Заряд | Координация | Спин | Радиус |
|---|---|---|---|
| +2 | 6 | N/A | 73 пм |
| +4 | 4 | N/A | 39 пм |
| +4 | 6 | N/A | 53 пм |
Соединения
Изотопы (4)
| Массовое число | Атомная масса (а.е.м.) | Природная распространённость | Период полураспада | Режим распада | |
|---|---|---|---|---|---|
| 70 Стабильный | 69,92424875 ± 0,0000009 | 20.5700% ± 0.2700% | Стабильный | stable | |
| 72 Стабильный | 71,922075826 ± 0,000000081 | 27.4500% ± 0.3200% | Стабильный | stable | |
| 73 Стабильный | 72,923458956 ± 0,000000061 | 7.7500% ± 0.1200% | Стабильный | stable | |
| 74 Стабильный | 73,921177761 ± 0,000000013 | 36.5000% ± 0.2000% | Стабильный | stable |
Спектральные линии
Показано 50 из 57 Спектральные линии. По умолчанию показаны только спектральные линии с измеренной интенсивностью.
| Длина волны (нм) | Интенсивность | Стадия ионизации | Тип | Переход | Точность | Источник | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 474.18054 нм | 1000 | Ge II | emission | 4s2.5p 2P* → 4s2.5d 2D | Измерено | NIST | |
| 481.46084 нм | 1000 | Ge II | emission | 4s2.5p 2P* → 4s2.5d 2D | Измерено | NIST | |
| 589.33885 нм | 1000 | Ge II | emission | 4s2.5s 2S → 4s2.5p 2P* | Измерено | NIST | |
| 602.10412 нм | 500 | Ge II | emission | 4s2.5s 2S → 4s2.5p 2P* | Измерено | NIST | |
| 517.86474 нм | 200 | Ge II | emission | 4s2.4d 2D → 4s2.4f 2F* | Измерено | NIST | |
| 607.834 нм | 150 | Ge II | emission | 4s.4p.(3P*).5s 4P* → 4s.4p.(3P*).5p 4D | Измерено | NIST | |
| 626.8068 нм | 150 | Ge II | emission | 4s2.4f 2F* → 4s2.6g 2G | Измерено | NIST | |
| 513.17516 нм | 100 | Ge II | emission | 4s2.4d 2D → 4s2.4f 2F* | Измерено | NIST | |
| 626.8341 нм | 100 | Ge II | emission | 4s2.4f 2F* → 4s2.6g 2G | Измерено | NIST | |
| 633.63765 нм | 100 | Ge II | emission | 4s2.5p 2P* → 4s2.6s 2S | Измерено | NIST | |
| 648.41813 нм | 100 | Ge II | emission | 4s2.5p 2P* → 4s2.6s 2S | Измерено | NIST | |
| 628.34518 нм | 75 | Ge II | emission | 4s2.5d 2D → 4s2.6f 2F* | Измерено | NIST | |
| 422.656259 нм | 70 | Ge I | emission | 4s2.4p2 1S → 4s2.4p.5s 1P* | Измерено | NIST | |
| 482.40972 нм | 50 | Ge II | emission | 4s2.5p 2P* → 4s2.5d 2D | Измерено | NIST | |
| 626.7136 нм | 50 | Ge II | emission | 4s2.5d 2D → 4s2.6f 2F* | Измерено | NIST | |
| 678.0486 нм | 50 | Ge II | emission | 4s2.6p 2P* → 4s2.7d 2D | Измерено | NIST | |
| 704.93692 нм | 50 | Ge II | emission | 4s.4p2 2D → 4s2.5p 2P* | Измерено | NIST | |
| 384.50994 нм | 30 | Ge II | emission | 4s.4p2 4P → 4s2.5p 2P* | Измерено | NIST | |
| 714.53898 нм | 30 | Ge II | emission | 4s.4p2 2D → 4s2.5p 2P* | Измерено | NIST | |
| 494.12769 нм | 20 | Ge II | emission | 4s2.4d 2D → 4s2.6p 2P* | Измерено | NIST | |
| 520.56488 нм | 20 | Ge II | emission | 4s2.4f 2F* → 4s2.7g 2G | Измерено | NIST | |
| 696.63205 нм | 20 | Ge II | emission | 4s.4p2 2D → 4s2.5p 2P* | Измерено | NIST | |
| 439.1656 нм | 15 | Ge II | emission | 4s2.4f 2F* → 4s2.9g 2G | Измерено | NIST | |
| 520.58372 нм | 15 | Ge II | emission | 4s2.4f 2F* → 4s2.7g 2G | Измерено | NIST | |
| 552.2987 нм | 15 | Ge II | emission | 4s2.6p 2P* → 4s2.8d 2D | Измерено | NIST | |
| 439.179 нм | 10 | Ge II | emission | 4s2.4f 2F* → 4s2.9g 2G | Измерено | NIST | |
| 466.2311 нм | 10 | Ge II | emission | 4s2.5d 2D → 4s2.8f 2F* | Измерено | NIST | |
| 468.582849 нм | 10 | Ge I | emission | 4s2.4p2 1S → 4s2.4p.5s 3P* | Измерено | NIST | |
| 493.40754 нм | 10 | Ge II | emission | 4s2.4d 2D → 4s2.6p 2P* | Измерено | NIST | |
| 517.84615 нм | 10 | Ge II | emission | 4s2.4d 2D → 4s2.4f 2F* | Измерено | NIST | |
| 569.19543 нм | 9 | Ge I | emission | 4s2.4p.5s 3P* → 4s2.4p.6p 3D | Измерено | NIST | |
| 580.2093 нм | 9 | Ge I | emission | 4s2.4p.5s 1P* → 4s2.4p.6p 1D | Измерено | NIST | |
| 556.47408 нм | 8 | Ge I | emission | 4s2.4p.5s 3P* → 4s2.4p.6p 3S | Измерено | NIST | |
| 560.70101 нм | 8 | Ge I | emission | 4s2.4p.5s 3P* → 4s2.4p.6p 3P | Измерено | NIST | |
| 565.596 нм | 8 | Ge I | emission | 4s2.4p.5s 3P* → 4s2.4p.6p 3D | Измерено | NIST | |
| 562.14256 нм | 7 | Ge I | emission | 4s2.4p.5s 3P* → 4s2.4p.6p 1P | Измерено | NIST | |
| 733.0383 нм | 7 | Ge I | emission | 4s2.4p.5p 1P → 4s2.4p.7d (1/2,3/2)* | Измерено | NIST | |
| 738.4208 нм | 7 | Ge I | emission | 4s2.4p.5p 3D → 4s2.4p.8s (1/2,1/2)* | Измерено | NIST | |
| 526.58915 нм | 6 | Ge I | emission | 4s2.4p.5s 3P* → 4s2.4p.6p 3P | Измерено | NIST | |
| 551.32634 нм | 6 | Ge I | emission | 4s2.4p.5s 3P* → 4s2.4p.6p 1D | Измерено | NIST | |
| 561.61353 нм | 6 | Ge I | emission | 4s2.4p.5s 3P* → 4s2.4p.6p 3P | Измерено | NIST | |
| 566.4226 нм | 6 | Ge I | emission | 4s2.4p.5s 1P* → 4s2.4p.6p 1S | Измерено | NIST | |
| 570.17765 нм | 6 | Ge I | emission | 4s2.4p.5s 3P* → 4s2.4p.6p 1P | Измерено | NIST | |
| 580.1029 нм | 6 | Ge I | emission | 4s2.4p.5s 3P* → 4s2.4p.6p 3D | Измерено | NIST | |
| 655.74883 нм | 6 | Ge I | emission | 4s2.4p.5s 1P* → 4s2.4p.6p 3D | Измерено | NIST | |
| 713.0126 нм | 6 | Ge I | emission | 4s2.4p.5p 3D → 4s2.4p.7d (3/2,5/2)* | Измерено | NIST | |
| 740.2648 нм | 6 | Ge I | emission | 4s2.4p.5p 1P → 4s2.4p.6d (3/2,3/2)* | Измерено | NIST | |
| 518.4103 нм | 5 | Ge II | emission | 4s2.5d 2D → 4s2.7f 2F* | Измерено | NIST | |
| 566.4842 нм | 5 | Ge I | emission | 4s2.4p.5s 3P* → 4s2.4p.(2P*<1/2>).4f 2[7/2] | Измерено | NIST | |
| 571.78769 нм | 5 | Ge I | emission | 4s2.4p.5s 3P* → 4s2.4p.6p 3D | Измерено | NIST |
Расширенные свойства
Ковалентные радиусы (расш.)
Радиусы Ван-дер-Ваальса
Атомные и металлические радиусы
Шкалы нумерации
Шкалы электроотрицательности
Поляризуемость и дисперсия
Параметры Мидемы
Риск поставок и экономика
Фазовые переходы и аллотропы
| Температура плавления | 1211.4 K |
| Температура кипения | 3106.15 K |
| Критическая точка (температура) | 9802.15 K |
Категории степеней окисления
Расширенные справочные данные
Константы экранирования (8)
| n | Орбиталь | σ |
|---|---|---|
| 1 | s | 0.7063 |
| 2 | p | 3.9178 |
| 2 | s | 8.6352 |
| 3 | d | 15.7487 |
| 3 | p | 14.9864 |
| 3 | s | 14.2103 |
| 4 | p | 25.2196 |
| 4 | s | 23.9564 |
Детализация кристаллических радиусов (3)
| Заряд | CN | Спин | rcrystal (pm) | Источник |
|---|---|---|---|---|
| 2 | VI | 87 | Ahrens (1952) ionic radius, | |
| 4 | IV | 53 | ||
| 4 | VI | 67 | from r^3 vs V plots, |
Режимы распада изотопов (50)
| Изотоп | Режим | Интенсивность |
|---|---|---|
| 58 | 2p | — |
| 59 | B+ | 100% |
| 59 | B+p | 93% |
| 59 | 2p | 0.2% |
| 60 | B+ | 100% |
| 60 | B+p | 100% |
| 60 | 2p | 14% |
| 61 | B+ | 100% |
| 61 | B+p | 87% |
| 62 | B+ | 100% |
Факторы рассеяния X‑лучей (506)
| Энергия (eV) | f₁ | f₂ |
|---|---|---|
| 10 | — | 3.01183 |
| 10.1617 | — | 3.05548 |
| 10.3261 | — | 3.09976 |
| 10.4931 | — | 3.14468 |
| 10.6628 | — | 3.19025 |
| 10.8353 | — | 3.21825 |
| 11.0106 | — | 3.20755 |
| 11.1886 | — | 3.19689 |
| 11.3696 | — | 3.18626 |
| 11.5535 | — | 3.17568 |
Дополнительные данные
Estimated Crustal Abundance
The estimated element abundance in the earth's crust.
1.5 milligrams per kilogram
Источники (1)
- [5] Germanium https://education.jlab.org/itselemental/ele032.html
Estimated Oceanic Abundance
The estimated element abundance in the earth's oceans.
5×10-5 milligrams per liter
Источники (1)
- [5] Germanium https://education.jlab.org/itselemental/ele032.html
Sources
Sources of this element.
The metal is found in
▸ argyrodite, a sulfide of germanium and silver;
▸ germanite, which contains 8 percent of the element;
▸ zinc ores;
▸ coal; and
▸ other minerals
The element is commercially obtained from the dust from smelters that process zinc ores. It is also recovered from combustion by-products of certain coals.
Germanium can be separated from other metals by fractional distillation of its volatile tetrachloride. These techniques permit the production of germanium of ultra-high purity.
Источники (1)
- [6] Germanium https://periodic.lanl.gov/32.shtml
Источники
(9)
Data deposited in or computed by PubChem
The half-life and atomic mass data was provided by the Atomic Mass Data Center at the International Atomic Energy Agency.
Element data are cited from the Atomic weights of the elements (an IUPAC Technical Report). The IUPAC periodic table of elements can be found at https://iupac.org/what-we-do/periodic-table-of-elements/. Additional information can be found within IUPAC publication doi:10.1515/pac-2015-0703 Copyright © 2020 International Union of Pure and Applied Chemistry.
The information are cited from Pure Appl. Chem. 2018; 90(12): 1833-2092, https://doi.org/10.1515/pac-2015-0703.
Thomas Jefferson National Accelerator Facility (Jefferson Lab) is one of 17 national laboratories funded by the U.S. Department of Energy. The lab's primary mission is to conduct basic research of the atom's nucleus using the lab's unique particle accelerator, known as the Continuous Electron Beam Accelerator Facility (CEBAF). For more information visit https://www.jlab.org/
The periodic table at the LANL (Los Alamos National Laboratory) contains basic element information together with the history, source, properties, use, handling and more. The provenance data may be found from the link under the source name.
The periodic table contains NIST's critically-evaluated data on atomic properties of the elements. The provenance data that include data for atomic spectroscopy, X-ray and gamma ray, radiation dosimetry, nuclear physics, and condensed matter physics may be found from the link under the source name. Ref: https://www.nist.gov/pml/atomic-spectra-database
This section provides all form of data related to element Germanium.
The element property data was retrieved from publications.

