Аргон (Ar)
Благородный газГаз
Стандартный атомный вес
39.948 u [39,792, 39,963]Электронная конфигурация
[Ne] 3s2 3p6Температура плавления
-189.35 °C (83.8 K)Температура кипения
-185.85 °C (87.3 K)Плотность
1.7837 kg/m³Степени окисления
0Электроотрицательность (Полинг)
N/AЭнергия ионизации (1-я)
Год открытия
1894Атомный радиус
71 pmДополнительно
Аргон — бесцветный благородный газ и третий по распространенности газ в атмосфере Земли после азота и кислорода. Его электронная конфигурация с замкнутой оболочкой делает его химически очень инертным в обычных условиях. Большая часть земного аргона — это ⁴⁰Ar, образующийся в результате радиоактивного распада ⁴⁰K в горных породах. Элемент ценится главным образом как плотная, нереакционноспособная атмосфера для промышленных, аналитических и осветительных применений.
Аргон в два с половиной раза лучше растворяется в воде, чем азот, и имеет примерно такую же растворимость, как кислород. Аргон бесцветен и не имеет запаха как в газообразном, так и в жидком состоянии. Аргон считается очень инертным газом и, в отличие от криптона, ксенона и радона, не образует истинных химических соединений.
Название происходит от греческого argos — «ленивый» или «неактивный», поскольку он не соединяется с другими элементами. Он был открыт в 1894 году шотландским химиком Уильямом Рамзаем и английским физиком Робертом Джоном Страттом (лордом Рэлейем) в жидком воздухе. Первоначальный интерес Рэлея был вызван задачей, поставленной английским физиком Генри Кавендишем в 1785 году, а именно: когда из воздуха были удалены кислород и азот, оставался неизвестный остаточный газ.
Аргон был открыт сэром Уильямом Рамзаем, шотландским химиком, и лордом Рэлеем, английским химиком, в 1894 году. Аргон составляет 0,93% атмосферы Земли, что делает его третьим по распространенности газом. Аргон получают из воздуха как побочный продукт производства кислорода и азота.
От греческого argos, неактивный. Его присутствие в воздухе предположил Кавендиш в 1785 году, открыл лорд Рэлей и сэр Уильям Рамзай в 1894 году.
Изображения
Свойства
Физические
Химические
Термодинамические
Ядерные
Распространённость
Реакционная способность
N/A
Кристаллическая структура
Электронная структура
Идентификаторы
Электронная конфигурация Measured
Ar: 3s² 3p⁶[Ne] 3s² 3p⁶1s² 2s² 2p⁶ 3s² 3p⁶Модель атома
Изотопы меняют число нейтронов, массу и стабильность — но не электронную конфигурацию нейтрального атома.
Схематическая модель атома, не в масштабе.
Атомный отпечаток
Спектр испускания / поглощения
Распределение изотопов
| Массовое число | Атомная масса (а.е.м.) | Природная распространённость | Период полураспада |
|---|---|---|---|
| 36 Стабильный | 35,967545105 ± 0,000000028 | 0.3336% | Стабильный |
| 38 Стабильный | 37,96273211 ± 0,00000021 | 0.0629% | Стабильный |
| 40 Стабильный | 39,9623831237 ± 0,0000000024 | 99.6035% | Стабильный |
Фазовое состояние
Причина: на 210.8 °C выше точки кипения (-185.85 °C)
Схематично, не в масштабе
Точки фазовых переходов
Энергии переходов
Энергия для плавления 1 моля при tплав
Энергия для испарения 1 моля при tкип
Плотность
При нормальных условиях
Расчёт по уравнению идеального газа при текущей T
Дополнительно
Атомные спектры
Показано 10 из 18 Атомные спектры. Сортировка по заряду иона (по возрастанию).
Состав спектральных линий ?
| Ion | Заряд | Total lines | Transition probabilities | Level designations |
|---|---|---|---|---|
| Ar I | 0 | 461 | 428 | 429 |
| Ar II | +1 | 2858 | 307 | 2858 |
| Ar III | +2 | 509 | 80 | 509 |
| Ar IV | +3 | 256 | 42 | 256 |
| Ar V | +4 | 111 | 18 | 111 |
| Ar VI | +5 | 104 | 6 | 104 |
| Ar VII | +6 | 218 | 21 | 218 |
| Ar VIII | +7 | 141 | 27 | 141 |
| Ar IX | +8 | 178 | 2 | 178 |
| Ar X | +9 | 92 | 1 | 92 |
Состав энергетических уровней ?
| Ion | Заряд | Levels |
|---|---|---|
| Ar I | 0 | 504 |
| Ar II | +1 | 419 |
| Ar III | +2 | 125 |
| Ar IV | +3 | 58 |
| Ar V | +4 | 49 |
| Ar VI | +5 | 44 |
| Ar VII | +6 | 95 |
| Ar VIII | +7 | 72 |
| Ar IX | +8 | 98 |
| Ar X | +9 | 71 |
Соединения
Изотопы (3)
Naturally occurring argon is a mixture of three isotopes. Twelve other radioactive isotopes are known to exist.
| Массовое число | Атомная масса (а.е.м.) | Природная распространённость | Период полураспада | Режим распада | |
|---|---|---|---|---|---|
| 36 Стабильный | 35,967545105 ± 0,000000028 | 0.3336% ± 0.0021% | Стабильный | stable | |
| 38 Стабильный | 37,96273211 ± 0,00000021 | 0.0629% ± 0.0007% | Стабильный | stable | |
| 40 Стабильный | 39,9623831237 ± 0,0000000024 | 99.6035% ± 0.0025% | Стабильный | stable |
Спектральные линии
Показано 50 из 1065 Спектральные линии. По умолчанию показаны только спектральные линии с измеренной интенсивностью.
| Длина волны (нм) | Интенсивность | Стадия ионизации | Тип | Переход | Точность | Источник | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 458.989759 нм | 25704 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(1D).4s 2D → 3s2.3p4.(1D).4p 2F* | Измерено | NIST | |
| 472.686807 нм | 23442 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).4s 2P → 3s2.3p4.(3P).4p 2D* | Измерено | NIST | |
| 696.543 нм | 10000 | Ar I | emission | 3s2.3p5.(2P*<3/2>).4s 2[3/2]* → 3s2.3p5.(2P*<1/2>).4p 2[1/2] | Измерено | NIST | |
| 706.72175 нм | 10000 | Ar I | emission | 3s2.3p5.(2P*<3/2>).4s 2[3/2]* → 3s2.3p5.(2P*<1/2>).4p 2[3/2] | Измерено | NIST | |
| 738.39801 нм | 10000 | Ar I | emission | 3s2.3p5.(2P*<3/2>).4s 2[3/2]* → 3s2.3p5.(2P*<1/2>).4p 2[3/2] | Измерено | NIST | |
| 440.098598 нм | 8710 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).3d 4D → 3s2.3p4.(3P).4p 4P* | Измерено | NIST | |
| 501.716264 нм | 7413 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).3d 2D → 3s2.3p4.(1D).4p 2F* | Измерено | NIST | |
| 476.486444 нм | 2344 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).4s 2P → 3s2.3p4.(3P).4p 2P* | Измерено | NIST | |
| 460.956692 нм | 2291 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(1D).4s 2D → 3s2.3p4.(1D).4p 2F* | Измерено | NIST | |
| 487.986345 нм | 2239 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).4s 2P → 3s2.3p4.(3P).4p 2D* | Измерено | NIST | |
| 727.29354 нм | 2000 | Ar I | emission | 3s2.3p5.(2P*<3/2>).4s 2[3/2]* → 3s2.3p5.(2P*<1/2>).4p 2[1/2] | Измерено | NIST | |
| 427.752786 нм | 1995 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(1D).4s 2D → 3s2.3p4.(1D).4p 2P* | Измерено | NIST | |
| 434.806354 нм | 1995 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).4s 4P → 3s2.3p4.(3P).4p 4D* | Измерено | NIST | |
| 480.602014 нм | 1820 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).4s 4P → 3s2.3p4.(3P).4p 4P* | Измерено | NIST | |
| 454.505166 нм | 1738 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).4s 2P → 3s2.3p4.(3P).4p 2P* | Измерено | NIST | |
| 442.60008 нм | 1514 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).4s 4P → 3s2.3p4.(3P).4p 4D* | Измерено | NIST | |
| 465.79009 нм | 1445 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).4s 2P → 3s2.3p4.(3P).4p 2P* | Измерено | NIST | |
| 473.590548 нм | 1000 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).4s 4P → 3s2.3p4.(3P).4p 4P* | Измерено | NIST | |
| 714.7041 нм | 1000 | Ar I | emission | 3s2.3p5.(2P*<3/2>).4s 2[3/2]* → 3s2.3p5.(2P*<1/2>).4p 2[3/2] | Измерено | NIST | |
| 413.172327 нм | 891 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(1D).4s 2D → 3s2.3p4.(1D).4p 2P* | Измерено | NIST | |
| 496.507942 нм | 891 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).4s 2P → 3s2.3p4.(3P).4p 2D* | Измерено | NIST | |
| 457.934934 нм | 871 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).4s 2P → 3s2.3p4.(3P).4p 2S* | Измерено | NIST | |
| 484.780955 нм | 832 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).4s 4P → 3s2.3p4.(3P).4p 4P* | Измерено | NIST | |
| 437.988058 нм | 794 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).4p 2S* → 3s2.3p4.(3P).5s 2P | Измерено | NIST | |
| 407.200431 нм | 708 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(1D).4s 2D → 3s2.3p4.(1D).4p 2D* | Измерено | NIST | |
| 443.018862 нм | 661 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).4s 4P → 3s2.3p4.(3P).4p 4D* | Измерено | NIST | |
| 448.181045 нм | 646 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).3d 2D → 3s2.3p4.(1D).4p 2D* | Измерено | NIST | |
| 437.075295 нм | 617 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).3d 2D → 3s2.3p4.(1D).4p 2D* | Измерено | NIST | |
| 433.119915 нм | 603 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).4s 4P → 3s2.3p4.(3P).4p 4D* | Измерено | NIST | |
| 437.966649 нм | 550 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).4s 4P → 3s2.3p4.(3P).4p 4D* | Измерено | NIST | |
| 611.492319 нм | 537 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(1D).3d 2G → 3s2.3p4.(1D).4p 2F* | Измерено | NIST | |
| 410.391181 нм | 447 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).4p 4D* → 3s2.3p4.(3P).5s 4P | Измерено | NIST | |
| 617.227751 нм | 407 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(1D).3d 2G → 3s2.3p4.(1D).4p 2F* | Измерено | NIST | |
| 415.85907 нм | 400 | Ar I | emission | 3s2.3p5.(2P*<3/2>).4s 2[3/2]* → 3s2.3p5.(2P*<3/2>).5p 2[3/2] | Измерено | NIST | |
| 420.067472 нм | 400 | Ar I | emission | 3s2.3p5.(2P*<3/2>).4s 2[3/2]* → 3s2.3p5.(2P*<3/2>).5p 2[5/2] | Измерено | NIST | |
| 506.203703 нм | 398 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).4s 4P → 3s2.3p4.(3P).4p 4P* | Измерено | NIST | |
| 437.132854 нм | 355 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).3d 4D → 3s2.3p4.(3P).4p 4P* | Измерено | NIST | |
| 500.93342 нм | 355 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).4s 4P → 3s2.3p4.(3P).4p 4P* | Измерено | NIST | |
| 447.475916 нм | 347 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).3d 2D → 3s2.3p4.(1D).4p 2P* | Измерено | NIST | |
| 422.815775 нм | 331 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).4s 4P → 3s2.3p4.(3P).4p 2D* | Измерено | NIST | |
| 404.289342 нм | 288 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(1D).4s 2D → 3s2.3p4.(1D).4p 2D* | Измерено | NIST | |
| 426.652661 нм | 288 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).4s 4P → 3s2.3p4.(3P).4p 4D* | Измерено | NIST | |
| 488.904194 нм | 288 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).4s 2P → 3s2.3p4.(3P).4p 2P* | Измерено | NIST | |
| 423.721956 нм | 269 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(1D).4s 2D → 3s2.3p4.(1D).4p 2P* | Измерено | NIST | |
| 664.369734 нм | 269 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).3d 4F → 3s2.3p4.(3P).4p 4D* | Измерено | NIST | |
| 385.058079 нм | 263 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).4s 4P → 3s2.3p4.(3P).4p 4S* | Измерено | NIST | |
| 440.009637 нм | 257 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).3d 4D → 3s2.3p4.(3P).4p 4P* | Измерено | NIST | |
| 443.099589 нм | 251 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).3d 4D → 3s2.3p4.(3P).4p 4P* | Измерено | NIST | |
| 493.320891 нм | 251 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).4s 4P → 3s2.3p4.(3P).4p 4P* | Измерено | NIST | |
| 514.17826 нм | 224 | Ar II | emission | 3s2.3p4.(3P).3d 2D → 3s2.3p4.(1D).4p 2F* | Измерено | NIST |
Расширенные свойства
Ковалентные радиусы (расш.)
Радиусы Ван-дер-Ваальса
Атомные и металлические радиусы
Шкалы нумерации
Шкалы электроотрицательности
Поляризуемость и дисперсия
Химическое сродство
Свойства инертного газа
Фазовые переходы и аллотропы
| Температура плавления | 83.81 K |
| Температура кипения | 87.3 K |
| Критическая точка (температура) | 150.69 K |
| Критическая точка (давление) | 4.86 MPa |
| Тройная точка (температура) | 83.81 K |
| Тройная точка (давление) | 68.89 kPa |
Расширенные справочные данные
Константы экранирования (5)
| n | Орбиталь | σ |
|---|---|---|
| 1 | s | 0.4925 |
| 2 | p | 3.9918 |
| 2 | s | 5.7696 |
| 3 | p | 11.2359 |
| 3 | s | 10.2432 |
Режимы распада изотопов (46)
| Изотоп | Режим | Интенсивность |
|---|---|---|
| 29 | 2p | 100% |
| 30 | 2p | 100% |
| 31 | B+ | 100% |
| 31 | B+p | 68.3% |
| 31 | 2p | 9% |
| 31 | B+pA | 0.4% |
| 31 | 3p | 0.1% |
| 31 | B+A | 0% |
| 31 | 2p | 0% |
| 32 | B+ | 100% |
Факторы рассеяния X‑лучей (506)
| Энергия (eV) | f₁ | f₂ |
|---|---|---|
| 10 | — | 0 |
| 10.1617 | — | 0 |
| 10.3261 | — | 0 |
| 10.4931 | — | 0 |
| 10.6628 | — | 0 |
| 10.8353 | — | 0 |
| 11.0106 | — | 0 |
| 11.1886 | — | 0 |
| 11.3696 | — | 0 |
| 11.5535 | — | 0 |
Дополнительные данные
Estimated Crustal Abundance
The estimated element abundance in the earth's crust.
3.5 milligrams per kilogram
Источники (1)
Estimated Oceanic Abundance
The estimated element abundance in the earth's oceans.
4.5×10-1 milligrams per liter
Источники (1)
Sources
Sources of this element.
The gas is prepared by fractionation of liquid air because the atmosphere contains 0.94% argon. The atmosphere of Mars contains 1.6% of 40Ar and 5 ppm of 36Ar.
Источники (1)
- [6] Argon https://periodic.lanl.gov/18.shtml
Источники
(9)
Data deposited in or computed by PubChem
The half-life and atomic mass data was provided by the Atomic Mass Data Center at the International Atomic Energy Agency.
Element data are cited from the Atomic weights of the elements (an IUPAC Technical Report). The IUPAC periodic table of elements can be found at https://iupac.org/what-we-do/periodic-table-of-elements/. Additional information can be found within IUPAC publication doi:10.1515/pac-2015-0703 Copyright © 2020 International Union of Pure and Applied Chemistry.
The information are cited from Pure Appl. Chem. 2018; 90(12): 1833-2092, https://doi.org/10.1515/pac-2015-0703.
Thomas Jefferson National Accelerator Facility (Jefferson Lab) is one of 17 national laboratories funded by the U.S. Department of Energy. The lab's primary mission is to conduct basic research of the atom's nucleus using the lab's unique particle accelerator, known as the Continuous Electron Beam Accelerator Facility (CEBAF). For more information visit https://www.jlab.org/
The periodic table at the LANL (Los Alamos National Laboratory) contains basic element information together with the history, source, properties, use, handling and more. The provenance data may be found from the link under the source name.
The periodic table contains NIST's critically-evaluated data on atomic properties of the elements. The provenance data that include data for atomic spectroscopy, X-ray and gamma ray, radiation dosimetry, nuclear physics, and condensed matter physics may be found from the link under the source name. Ref: https://www.nist.gov/pml/atomic-spectra-database
This section provides all form of data related to element Argon.
The element property data was retrieved from publications.

