Фтор (F)
ГалогенГаз
Стандартный атомный вес
18.998403 uЭлектронная конфигурация
[He] 2s2 2p5Температура плавления
-219.62 °C (53.53 K)Температура кипения
-188.12 °C (85.03 K)Плотность
1.696 kg/m³Степени окисления
-1Электроотрицательность (Полинг)
3.98Энергия ионизации (1-я)
Год открытия
1886Атомный радиус
50 pmДополнительно
Фтор — самый лёгкий галоген и самый электроотрицательный химический элемент. В элементарной форме он существует как двухатомный фтор F₂ — высокореакционный окисляющий газ. Природный фтор почти целиком представлен стабильным изотопом ¹⁹F и встречается в минералах, а не как свободный элемент. Его химия лежит в основе фторидных минералов, химии обогащения урана, фторполимеров, хладагентов, многих агрохимикатов и значительной части современной лекарственной химии.
Фтор — самый электроотрицательный и наиболее реакционноспособный из всех элементов. Это бледно-желтый, коррозионно-активный газ, который реагирует с большинством органических и неорганических веществ. Мелкодисперсные металлы, стекло, керамика, углерод и даже вода горят во фторе ярким пламенем.
До Второй мировой войны промышленное производство элементарного фтора отсутствовало. Однако проект атомной бомбы и применение в ядерной энергетике сделали необходимым производство больших количеств.
Название происходит от латинского fluere — «течь» или «поток», поскольку флюорит (CaF2) использовался в металлургии в качестве флюса благодаря своей низкой температуре плавления. Он был открыт в плавиковой кислоте шведским аптекарем и химиком Карлом-Вильгельмом Шееле в 1771 году, но был выделен лишь в 1886 году французским аптекарем и химиком Анри Муассаном.
Фтор является наиболее реакционноспособным из всех элементов, и ни одно химическое вещество не способно высвободить фтор из его соединений. По этой причине фтор не встречается в природе в свободном виде и был чрезвычайно труден для выделения учёными. Первое зарегистрированное использование соединения фтора относится примерно к 1670 году и связано с набором инструкций по травлению стекла, где упоминался богемский изумруд (CaF2). Химики пытались определить материал, способный травить стекло, и Джордж Гор смог получить небольшое количество фтора электролитическим способом в 1869 году. Неизвестно было Гору, что газообразный фтор взрывообразно соединяется с водородом. Именно это и произошло в опыте Гора, когда газообразный фтор, образовавшийся на одном электроде, соединился с газообразным водородом, образовавшимся на другом электроде. Фердинанд Фредерик Анри Муассан, французский химик, первым успешно выделил фтор в 1886 году. Он сделал это путём электролиза фторида калия (KF) и плавиковой кислоты (HF). Он также полностью отделил газообразный фтор от водорода и построил свой электролизёр полностью из платины. Его работа была настолько выдающейся, что в 1906 году ему была присуждена Нобелевская премия по химии. В настоящее время фтор по-прежнему получают путём электролиза фторида калия и плавиковой кислоты, а также путём электролиза расплавленного кислого фторида калия (KHF2).
От латинского и французского fluere: течь или поток. В 1529 году Георгиус Агрикола описал использование плавикового шпата в качестве флюса, а уже в 1670 году Швандхард обнаружил, что стекло травится при воздействии плавикового шпата, обработанного кислотой. Шееле и многие последующие исследователи, включая Дэви, Гей-Люссака, Лавуазье и Тенара, экспериментировали с плавиковой кислотой, причём некоторые опыты заканчивались трагически.
Элемент был окончательно выделен в 1866 году Муассаном после почти 74 лет непрерывных усилий.
Изображения
Свойства
Физические
- Атомный радиус (эмпир.)
- 50 pm
- Ковалентный радиус
- 57 pm
- Радиус Ван-дер-Ваальса
- 135 pm
- Плотность
- Молярный объём
- 0.0171 L/mol
- Агрегатное состояние (НУ)
- gas
- Температура плавления
- -219.62 °C
- Температура кипения
- -188.12 °C
- Теплопроводность
- 0.028 Вт/(м·К)
- Удельная теплоёмкость
- 0.824 Дж/(г·К)
- Молярная теплоёмкость
- 31.304 Дж/(моль·К)
- Кристаллическая структура
- monoclinic
Химические
- Электроотрицательность (Полинг)
- 3.98
- Электроотрицательность (Аллен)
- 4.193
- Сродство к электрону
- Энергия ионизации (1-я)
- Энергия ионизации (2-я)
- Энергия ионизации (3-я)
- Энергия ионизации (4-я)
- Энергия ионизации (5-я)
- Степени окисления
- -1
- Валентные электроны
- 7
- Электронная конфигурация
Термодинамические
- Тройная точка (температура)
- -219.67 °C
- Тройная точка (давление)
- 9.000000e+4 Pa
- Критическая точка (температура)
- -128.74 °C
- Критическая точка (давление)
- 5.172400e+6 Pa
- Теплота плавления
- 0.0026429 eV
- Теплота парообразования
- 0.06778256 eV
- Теплота атомизации
- 0.8228222 eV
- Энтальпия атомизации
Ядерные
- Протоны
- 9
- Нейтроны
- 10
- Известные изотопы
- 19
- Стабильные изотопы
- 1
- Наиболее стабильный изотоп
- F-19
- Год открытия
- 1886
Распространённость
- Распространённость (земная кора)
- 585 мг/кг
- Распространённость (океан)
Кристаллическая структура
N/A
Электронная структура
- Электронов на оболочке
- 2, 7
Идентификаторы
- Номер CAS
- 7782-41-4
- Термный символ
- InChI
- InChI=1S/F
- InChI Key
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N
Электронная конфигурация Измерено
F: 2s² 2p⁵[He] 2s² 2p⁵1s² 2s² 2p⁵Модель атома
Изотопы меняют число нейтронов, массу и стабильность — но не электронную конфигурацию нейтрального атома.
Схематическая модель атома, не в масштабе.
Атомный отпечаток
Спектр испускания / поглощения
Распределение изотопов
| Массовое число | Атомная масса (а.е.м.) | Природная распространённость | Период полураспада |
|---|---|---|---|
| 19 Стабильный | 18,99840316273 ± 0,00000000092 | 100.0000% | Стабильный |
Фазовое состояние
Причина: на 213.1 °C выше точки кипения (-188.12 °C)
Схематично, не в масштабе
Точки фазовых переходов
Энергии переходов
Энергия для плавления 1 моля при tплав
Энергия для испарения 1 моля при tкип
Плотность
При нормальных условиях
Расчёт по уравнению идеального газа при текущей T
Дополнительно
Атомные спектры
Состав спектральных линий ?
| Ион | Заряд | Всего линий | Вероятности переходов | Обозначения уровней |
|---|---|---|---|---|
| F I | 0 | 162 | 120 | 162 |
| F II | +1 | 150 | 67 | 67 |
| F III | +2 | 141 | 34 | 34 |
| F IV | +3 | 75 | 30 | 30 |
| F V | +4 | 513 | 472 | 472 |
| F VI | +5 | 269 | 269 | 269 |
| F VII | +6 | 470 | 439 | 470 |
| F VIII | +7 | 128 | 128 | 128 |
| F IX | +8 | 137 | 137 | 137 |
Состав энергетических уровней ?
| Ion | Заряд | Уровни |
|---|---|---|
| F I | 0 | 303 |
| F II | +1 | 291 |
| F III | +2 | 278 |
| F IV | +3 | 170 |
| F V | +4 | 138 |
| F VI | +5 | 100 |
| F VII | +6 | 77 |
| F VIII | +7 | 151 |
| F IX | +8 | 149 |
Ионные радиусы
| Заряд | Координация | Спин | Радиус |
|---|---|---|---|
| -1 | 2 | N/A | 128.5 пм |
| -1 | 3 | N/A | 130 пм |
| -1 | 4 | N/A | 131 пм |
| -1 | 6 | N/A | 133 пм |
| +7 | 6 | N/A | 8 пм |
Соединения
Изотопы (1)
| Массовое число | Атомная масса (а.е.м.) | Природная распространённость | Период полураспада | Режим распада | |
|---|---|---|---|---|---|
| 19 Стабильный | 18,99840316273 ± 0,00000000092 | 100.0000% | Стабильный | stable |
Спектральные линии
| Длина волны (нм) | Интенсивность | Стадия ионизации | Тип | Переход | Точность | Источник | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 383.22 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 2F* → 2p2.(1D).3d 2D | Измерено | NIST | |
| 384.7086 нм | 270 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3s 5S* → 2s2.2p3.(4S*).3p 5P | Измерено | NIST | |
| 384.9985 нм | 260 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3s 5S* → 2s2.2p3.(4S*).3p 5P | Измерено | NIST | |
| 385.1668 нм | 250 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3s 5S* → 2s2.2p3.(4S*).3p 5P | Измерено | NIST | |
| 385.69 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2s.3s 1S → 1s2.2s.3p 3P* | Измерено | NIST | |
| 385.712 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(3P).3p 4S* → 2p2.(3P).3d 4P | Измерено | NIST | |
| 387.086 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(3P).3p 4S* → 2p2.(3P).3d 4P | Измерено | NIST | |
| 388.508 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(3P).3s 4P → 2s.2p.(3P*).4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 388.6 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.7f 2F* → 1s2.8g 2G | Измерено | NIST | |
| 388.6 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.7f 2F* → 1s2.8g 2G | Измерено | NIST | |
| 388.6 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.7f 2F* → 1s2.8g 2G | Измерено | NIST | |
| 389.2 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.7f 2F* → 1s2.8d 2D | Измерено | NIST | |
| 389.2 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.7f 2F* → 1s2.8d 2D | Измерено | NIST | |
| 389.2 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.7f 2F* → 1s2.8d 2D | Измерено | NIST | |
| 390.229 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(3P).3p 4S* → 2p2.(3P).3d 4P | Измерено | NIST | |
| 390.45 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(3P).3s 4P → 2s.2p.(3P*).4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 394.51 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(1D).3p 2D* → 2p2.(1D).3d 2F | Измерено | NIST | |
| 394.51 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(1D).3p 2D* → 2p2.(1D).3d 2F | Измерено | NIST | |
| 394.51 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(1D).3p 2D* → 2p2.(1D).3d 2F | Измерено | NIST | |
| 394.518 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(3P).3s 4P → 2s.2p.(3P*).4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 394.736 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(3P).3s 4P → 2s.2p.(3P*).4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 396.08 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(3P).3s 4P → 2s.2p.(3P*).4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 396.113 нм | N/A | F IV | emission | 2s2.2p2 3P → 2s2.2p2 1D | Измерено | NIST | |
| 399.6 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.7d 2D → 1s2.8p 2P* | Измерено | NIST | |
| 399.6 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.7d 2D → 1s2.8p 2P* | Измерено | NIST | |
| 399.6 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.7d 2D → 1s2.8p 2P* | Измерено | NIST | |
| 399.692 нм | N/A | F IV | emission | 2s2.2p2 3P → 2s2.2p2 1D | Измерено | NIST | |
| 399.692 нм | N/A | F IV | emission | 2s2.2p2 3P → 2s2.2p2 1D | Измерено | NIST | |
| 400.26 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(3P).3s 4P → 2s.2p.(3P*).4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 400.942 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(3P).3s 4P → 2s.2p.(3P*).4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 402.4726 нм | 240 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3s 3S* → 2s2.2p3.(4S*).3p 3P | Измерено | NIST | |
| 402.501 нм | 220 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3s 3S* → 2s2.2p3.(4S*).3p 3P | Измерено | NIST | |
| 402.5491 нм | 230 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3s 3S* → 2s2.2p3.(4S*).3p 3P | Измерено | NIST | |
| 405.99 нм | N/A | F IV | emission | 2s2.2p2 3P → 2s2.2p2 1D | Измерено | NIST | |
| 405.99 нм | N/A | F IV | emission | 2s2.2p2 3P → 2s2.2p2 1D | Измерено | NIST | |
| 410.3075 нм | 190 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3p 3P → 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* | Измерено | NIST | |
| 410.3213 нм | 170 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3p 3P → 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* | Измерено | NIST | |
| 410.3506 нм | 200 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3p 3P → 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* | Измерено | NIST | |
| 410.3713 нм | 180 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3p 3P → 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* | Измерено | NIST | |
| 410.387 нм | 170 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3p 3P → 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* | Измерено | NIST | |
| 410.4008 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3p 3P → 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* | Измерено | NIST | |
| 410.916 нм | 170 | F II | emission | 2s2.2p3.(2D*).3s 3D* → 2s2.2p3.(2D*).3p 3D | Измерено | NIST | |
| 411.03 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2s.3p 1P* → 1s2.2s.3d 3D | Измерено | NIST | |
| 411.272 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p3.(2D*).3s 3D* → 2s2.2p3.(2D*).3p 3D | Измерено | NIST | |
| 411.2969 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p3.(2D*).3s 3D* → 2s2.2p3.(2D*).3p 3D | Измерено | NIST | |
| 411.44 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2s.3p 1P* → 1s2.2s.3d 3D | Измерено | NIST | |
| 411.6535 нм | 160 | F II | emission | 2s2.2p3.(2D*).3s 3D* → 2s2.2p3.(2D*).3p 3D | Измерено | NIST | |
| 411.699 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p3.(2D*).3s 3D* → 2s2.2p3.(2D*).3p 3D | Измерено | NIST | |
| 411.8752 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p3.(2D*).3s 3D* → 2s2.2p3.(2D*).3p 3D | Измерено | NIST | |
| 411.9207 нм | 150 | F II | emission | 2s2.2p3.(2D*).3s 3D* → 2s2.2p3.(2D*).3p 3D | Измерено | NIST | |
| 415.775 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p4 1D → 2s2.2p4 1S | Измерено | NIST | |
| 423.3 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3P* | Измерено | NIST | |
| 424.76 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3P* | Измерено | NIST | |
| 426.19 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).3p 2D → 2s.2p.(3P*).3d 2D* | Измерено | NIST | |
| 426.28 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2s.3s 1S → 1s2.2s.3p 1P* | Измерено | NIST | |
| 427.32 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3P* | Измерено | NIST | |
| 427.94 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).3p 2D → 2s.2p.(3P*).3d 2D* | Измерено | NIST | |
| 429.9165 нм | 200 | F II | emission | 2s2.2p3.(2D*).3s 1D* → 2s2.2p3.(2D*).3p 1F | Измерено | NIST | |
| 432.27 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3P* | Измерено | NIST | |
| 433.94 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3P* | Измерено | NIST | |
| 435.28 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).3p 2D → 2s.2p.(3P*).3d 2D* | Измерено | NIST | |
| 437.11 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).3p 2D → 2s.2p.(3P*).3d 2D* | Измерено | NIST | |
| 439.05 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3P* | Измерено | NIST | |
| 444.6527 нм | 160 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* → 2s2.2p3.(4S*).4f 3F | Измерено | NIST | |
| 444.6689 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* → 2s2.2p3.(4S*).4f 3F | Измерено | NIST | |
| 444.6721 нм | 170 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* → 2s2.2p3.(4S*).4f 3F | Измерено | NIST | |
| 444.7117 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* → 2s2.2p3.(4S*).4f 3F | Измерено | NIST | |
| 444.7148 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* → 2s2.2p3.(4S*).4f 3F | Измерено | NIST | |
| 444.7188 нм | 180 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* → 2s2.2p3.(4S*).4f 3F | Измерено | NIST | |
| 455.99 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 1D → 1s2.2p.3d 1F* | Измерено | NIST | |
| 456.45 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.3d 3D | Измерено | NIST | |
| 457.45 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.3d 3D | Измерено | NIST | |
| 457.96 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.3d 3D | Измерено | NIST | |
| 459.81 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.3d 3D | Измерено | NIST | |
| 460.57 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.3d 3D | Измерено | NIST | |
| 461.08 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.3d 3D | Измерено | NIST | |
| 463.41 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.4p 1P → 1s2.2p.4d 1P* | Измерено | NIST | |
| 478.945 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p4 3P → 2s2.2p4 1D | Измерено | NIST | |
| 478.945 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p4 3P → 2s2.2p4 1D | Измерено | NIST | |
| 486.899 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p4 3P → 2s2.2p4 1D | Измерено | NIST | |
| 486.899 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p4 3P → 2s2.2p4 1D | Измерено | NIST | |
| 490.456 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p4 3P → 2s2.2p4 1D | Измерено | NIST | |
| 507.4 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 4D* → 2p2.(3P).3d 4P | Измерено | NIST | |
| 507.86 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 4D* → 2p2.(3P).3d 4P | Измерено | NIST | |
| 509.78 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 4D* → 2p2.(3P).3d 4P | Измерено | NIST | |
| 510.25 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 4D* → 2p2.(3P).3d 4P | Измерено | NIST | |
| 511.78 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 4D* → 2p2.(3P).3d 4P | Измерено | NIST | |
| 515.72 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 4D* → 2p2.(3P).3d 4P | Измерено | NIST | |
| 517.29 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 4D* → 2p2.(3P).3d 4P | Измерено | NIST | |
| 517.4 нм | N/A | F VIII | emission | 1s.3s 3S → 1s.3p 3P* | Измерено | NIST | |
| 522.95 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 4D* → 2p2.(3P).3d 4P | Измерено | NIST | |
| 525.1 нм | N/A | F VIII | emission | 1s.3s 3S → 1s.3p 3P* | Измерено | NIST | |
| 528.03 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(1D).3p 2D* → 2p2.(1D).3d 2D | Измерено | NIST | |
| 528.03 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(1D).3p 2D* → 2p2.(1D).3d 2D | Измерено | NIST | |
| 528.03 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(1D).3p 2D* → 2p2.(1D).3d 2D | Измерено | NIST | |
| 528.03 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(1D).3p 2D* → 2p2.(1D).3d 2D | Измерено | NIST | |
| 533.07 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 1S → 1s2.2p.3d 1P* | Измерено | NIST | |
| 543.21 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3D* | Измерено | NIST | |
| 544 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.8p 2P* → 1s2.9d 2D | Измерено | NIST | |
| 544 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.8p 2P* → 1s2.9d 2D | Измерено | NIST | |
| 544 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.8p 2P* → 1s2.9d 2D | Измерено | NIST | |
| 545.91 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3D* | Измерено | NIST | |
| 549.84 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3D* | Измерено | NIST | |
| 549.99 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3D* | Измерено | NIST | |
| 556.76 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3D* | Измерено | NIST | |
| 560.85 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3D* | Измерено | NIST | |
| 568.67 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).3s 2P* → 2s.2p.(3P*).3p 2P | Измерено | NIST | |
| 572.12 нм | N/A | F III | emission | 2s2.2p3 2D* → 2s2.2p3 2P* | Измерено | NIST | |
| 572.12 нм | N/A | F III | emission | 2s2.2p3 2D* → 2s2.2p3 2P* | Измерено | NIST | |
| 572.15 нм | N/A | F III | emission | 2s2.2p3 2D* → 2s2.2p3 2P* | Измерено | NIST | |
| 573.29 нм | N/A | F III | emission | 2s2.2p3 2D* → 2s2.2p3 2P* | Измерено | NIST | |
| 573.29 нм | N/A | F III | emission | 2s2.2p3 2D* → 2s2.2p3 2P* | Измерено | NIST | |
| 573.32 нм | N/A | F III | emission | 2s2.2p3 2D* → 2s2.2p3 2P* | Измерено | NIST | |
| 573.32 нм | N/A | F III | emission | 2s2.2p3 2D* → 2s2.2p3 2P* | Измерено | NIST | |
| 576.14 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).3s 2P* → 2s.2p.(3P*).3p 2P | Измерено | NIST | |
| 585.63 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).3s 2P* → 2s.2p.(3P*).3p 2P | Измерено | NIST | |
| 593.55 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).3s 2P* → 2s.2p.(3P*).3p 2P | Измерено | NIST | |
| 604 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.8d 2D → 1s2.9p 2P* | Измерено | NIST | |
| 604 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.8d 2D → 1s2.9p 2P* | Измерено | NIST | |
| 604 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.8d 2D → 1s2.9p 2P* | Измерено | NIST | |
| 683 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.9p 2P* → 1s2.10d 2D | Измерено | NIST | |
| 683 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.9p 2P* → 1s2.10d 2D | Измерено | NIST | |
| 683 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.9p 2P* → 1s2.10d 2D | Измерено | NIST | |
| 713.8 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4p 2D → 2s.2p.(3P*).4d 2F* | Измерено | NIST | |
| 719.4 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4p 2D → 2s.2p.(3P*).4d 2F* | Измерено | NIST | |
| 723.4 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.4s 1P* → 1s2.2p.4p 1D | Измерено | NIST | |
| 728.5 нм | N/A | F VIII | emission | 1s.3s 1S → 1s.3p 1P* | Измерено | NIST | |
| 735.8 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4p 2D → 2s.2p.(3P*).4d 2F* | Измерено | NIST |
Расширенные свойства
Ковалентные радиусы (расш.)
- Ковалентный радиус (Пюккё)
- Ковалентный радиус (Пюккё, двойная связь)
- Ковалентный радиус (Пюккё, тройная связь)
- Ковалентный радиус (Брэгг)
Радиусы Ван-дер-Ваальса
- Bondi
- Batsanov
- Alvarez
- UFF
- MM3
- Dreiding
- Rowland–Taylor
Атомные и металлические радиусы
- Атомный радиус (Рам)
Шкалы нумерации
- Mendeleev
- Pettifor
- Glawe
Шкалы электроотрицательности
- Ghosh
- Gunnarsson–Lundqvist
- Robles–Bartolotti
Поляризуемость и дисперсия
- Дипольная поляризуемость
- Дипольная поляризуемость (погр.)
- C₆
- C₆ (Gould–Bučko)
Химическое сродство
- Сродство к протону
- Основность в газовой фазе
Риск поставок и экономика
- Концентрация производства
- Относительный риск поставок
- Распределение запасов
- Политическая стабильность (топ-производитель)
- Политическая стабильность (топ-запасы)
Фазовые переходы и аллотропы
| Температура плавления | 53.48 K |
| Температура кипения | 85.04 K |
| Критическая точка (температура) | 144.41 K |
| Критическая точка (давление) | 5.17 MPa |
| Тройная точка (температура) | 53.48 K |
| Тройная точка (давление) | 90 kPa |
Категории степеней окисления
Расширенные справочные данные
Константы экранирования (3)
| n | Орбиталь | σ |
|---|---|---|
| 1 | s | 0.3499 |
| 2 | p | 3.9 |
| 2 | s | 3.8724 |
Детализация кристаллических радиусов (5)
| Заряд | CN | Спин | rcrystal (pm) | Источник |
|---|---|---|---|---|
| -1 | II | 114.5 | ||
| -1 | III | 116 | ||
| -1 | IV | 117 | ||
| -1 | VI | 119 | ||
| 7 | VI | 22 | Ahrens (1952) ionic radius, |
Режимы распада изотопов (31)
| Изотоп | Режим | Интенсивность |
|---|---|---|
| 13 | p | — |
| 14 | p | — |
| 15 | p | 100% |
| 16 | p | 100% |
| 17 | B+ | 100% |
| 18 | B+ | 100% |
| 20 | B- | 100% |
| 21 | B- | 100% |
| 22 | B- | 100% |
| 22 | B-n | 11% |
Факторы рассеяния X‑лучей (502)
| Энергия (eV) | f₁ | f₂ |
|---|---|---|
| 10 | — | 0.05165 |
| 10.1617 | — | 0.05648 |
| 10.3261 | — | 0.06176 |
| 10.4931 | — | 0.06754 |
| 10.6628 | — | 0.07386 |
| 10.8353 | — | 0.08077 |
| 11.0106 | — | 0.08833 |
| 11.1886 | — | 0.09659 |
| 11.3696 | — | 0.10831 |
| 11.5535 | — | 0.12462 |
Дополнительные данные
Estimated Crustal Abundance
The estimated element abundance in the earth's crust.
5.85×102 milligrams per kilogram
Источники (1)
- [5] Fluorine https://education.jlab.org/itselemental/ele009.html
Estimated Oceanic Abundance
The estimated element abundance in the earth's oceans.
1.3 milligrams per liter
Источники (1)
- [5] Fluorine https://education.jlab.org/itselemental/ele009.html
Источники
(9)
Data deposited in or computed by PubChem
The half-life and atomic mass data was provided by the Atomic Mass Data Center at the International Atomic Energy Agency.
Element data are cited from the Atomic weights of the elements (an IUPAC Technical Report). The IUPAC periodic table of elements can be found at https://iupac.org/what-we-do/periodic-table-of-elements/. Additional information can be found within IUPAC publication doi:10.1515/pac-2015-0703 Copyright © 2020 International Union of Pure and Applied Chemistry.
The information are cited from Pure Appl. Chem. 2018; 90(12): 1833-2092, https://doi.org/10.1515/pac-2015-0703.
Thomas Jefferson National Accelerator Facility (Jefferson Lab) is one of 17 national laboratories funded by the U.S. Department of Energy. The lab's primary mission is to conduct basic research of the atom's nucleus using the lab's unique particle accelerator, known as the Continuous Electron Beam Accelerator Facility (CEBAF). For more information visit https://www.jlab.org/
The periodic table at the LANL (Los Alamos National Laboratory) contains basic element information together with the history, source, properties, use, handling and more. The provenance data may be found from the link under the source name.
The periodic table contains NIST's critically-evaluated data on atomic properties of the elements. The provenance data that include data for atomic spectroscopy, X-ray and gamma ray, radiation dosimetry, nuclear physics, and condensed matter physics may be found from the link under the source name. Ref: https://www.nist.gov/pml/atomic-spectra-database
This section provides all form of data related to element Fluorine.
The element property data was retrieved from publications.

