Фтор (F)
ГалогенГаз
Стандартный атомный вес
18.998403 uЭлектронная конфигурация
[He] 2s2 2p5Температура плавления
-219.62 °C (53.53 K)Температура кипения
-188.12 °C (85.03 K)Плотность
1.696 kg/m³Степени окисления
-1Электроотрицательность (Полинг)
3.98Энергия ионизации (1-я)
Год открытия
1886Атомный радиус
50 pmДополнительно
Фтор — самый легкий галоген и наиболее электроотрицательный химический элемент. В элементарной форме он существует как двухатомный фтор, F₂, — высокореакционноспособный окисляющий газ. Природный фтор почти полностью представлен стабильным изотопом ¹⁹F и встречается в минералах, а не в виде свободного элемента. Его химия лежит в основе фторидных минералов, химии обогащения урана, фторполимеров, хладагентов, многих агрохимикатов и значительной части современной лекарственной химии.
Фтор — самый электроотрицательный и реакционноспособный из всех элементов. Это бледно-жёлтый, коррозионно-активный газ, который реагирует с большинством органических и неорганических веществ. Мелкоизмельчённые металлы, стекло, керамика, углерод и даже вода горят во фторе ярким пламенем.
До Второй мировой войны коммерческое производство элементарного фтора отсутствовало. Однако проект атомной бомбы и применение в ядерной энергетике сделали необходимым производство больших количеств.
Название происходит от латинского fluere — «течь» или «поток», поскольку флюорит (CaF2) использовался в металлургии как флюс благодаря своей низкой температуре плавления. Он был обнаружен в плавиковой кислоте шведским аптекарем и химиком Карлом-Вильгельмом Шееле в 1771 году, но был выделен только в 1886 году французским аптекарем и химиком Анри Муассаном.
Фтор является наиболее реакционноспособным из всех элементов, и ни одно химическое вещество не способно высвободить фтор из каких-либо его соединений. По этой причине фтор не встречается в природе в свободном виде и был чрезвычайно труден для выделения учеными. Первое зафиксированное применение соединения фтора относится примерно к 1670 году и связано с инструкцией по травлению стекла, в которой упоминался богемский изумруд (CaF2). Химики пытались идентифицировать материал, способный травить стекло, и Джордж Гор смог получить небольшое количество фтора с помощью электролитического процесса в 1869 году. Неизвестно было Гору, что газообразный фтор взрывообразно соединяется с водородом. Именно это и произошло в эксперименте Гора, когда газообразный фтор, образовавшийся на одном электроде, соединился с газообразным водородом, образовавшимся на другом электроде. Фердинанд Фредерик Анри Муассан, французский химик, первым успешно выделил фтор в 1886 году. Он сделал это путем электролиза фторида калия (KF) и плавиковой кислоты (HF). Он также полностью отделил газообразный фтор от газообразного водорода и построил свой электролитический аппарат полностью из платины. Его работа была настолько впечатляющей, что в 1906 году он был удостоен Нобелевской премии по химии. Сегодня фтор по-прежнему получают путем электролиза фторида калия и плавиковой кислоты, а также путем электролиза расплавленного кислого фторида калия (KHF2).
От латинского и французского fluere: течение или поток. В 1529 году Георгиус Агрикола описал использование плавикового шпата как флюса, а уже в 1670 году Швандхард обнаружил, что стекло травится при воздействии плавикового шпата, обработанного кислотой. Шееле и многие последующие исследователи, включая Дэви, Гей-Люссака, Лавуазье и Тенара, экспериментировали с плавиковой кислотой, причем некоторые эксперименты заканчивались трагически.
Элемент был окончательно выделен в 1866 году Муассаном после почти 74 лет непрерывных усилий.
Изображения
Свойства
Физические
Химические
Термодинамические
Ядерные
Распространённость
Реакционная способность
N/A
Кристаллическая структура
N/A
Электронная структура
Идентификаторы
Электронная конфигурация Measured
F: 2s² 2p⁵[He] 2s² 2p⁵1s² 2s² 2p⁵Модель атома
Изотопы меняют число нейтронов, массу и стабильность — но не электронную конфигурацию нейтрального атома.
Схематическая модель атома, не в масштабе.
Атомный отпечаток
Спектр испускания / поглощения
Распределение изотопов
| Массовое число | Атомная масса (а.е.м.) | Природная распространённость | Период полураспада |
|---|---|---|---|
| 19 Стабильный | 18,99840316273 ± 0,00000000092 | 100.0000% | Стабильный |
Фазовое состояние
Причина: на 213.1 °C выше точки кипения (-188.12 °C)
Схематично, не в масштабе
Точки фазовых переходов
Энергии переходов
Энергия для плавления 1 моля при tплав
Энергия для испарения 1 моля при tкип
Плотность
При нормальных условиях
Расчёт по уравнению идеального газа при текущей T
Дополнительно
Атомные спектры
Состав спектральных линий ?
| Ion | Заряд | Total lines | Transition probabilities | Level designations |
|---|---|---|---|---|
| F I | 0 | 162 | 120 | 162 |
| F II | +1 | 150 | 67 | 67 |
| F III | +2 | 141 | 34 | 34 |
| F IV | +3 | 75 | 30 | 30 |
| F V | +4 | 513 | 472 | 472 |
| F VI | +5 | 269 | 269 | 269 |
| F VII | +6 | 470 | 439 | 470 |
| F VIII | +7 | 128 | 128 | 128 |
| F IX | +8 | 137 | 137 | 137 |
Состав энергетических уровней ?
| Ion | Заряд | Levels |
|---|---|---|
| F I | 0 | 303 |
| F II | +1 | 291 |
| F III | +2 | 278 |
| F IV | +3 | 170 |
| F V | +4 | 138 |
| F VI | +5 | 100 |
| F VII | +6 | 77 |
| F VIII | +7 | 151 |
| F IX | +8 | 149 |
Ионные радиусы
| Заряд | Координация | Спин | Радиус |
|---|---|---|---|
| -1 | 2 | N/A | 128.5 пм |
| -1 | 3 | N/A | 130 пм |
| -1 | 4 | N/A | 131 пм |
| -1 | 6 | N/A | 133 пм |
| +7 | 6 | N/A | 8 пм |
Соединения
Изотопы (1)
| Массовое число | Атомная масса (а.е.м.) | Природная распространённость | Период полураспада | Режим распада | |
|---|---|---|---|---|---|
| 19 Стабильный | 18,99840316273 ± 0,00000000092 | 100.0000% | Стабильный | stable |
Спектральные линии
| Длина волны (нм) | Интенсивность | Стадия ионизации | Тип | Переход | Точность | Источник | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 383.22 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 2F* → 2p2.(1D).3d 2D | Измерено | NIST | |
| 384.7086 нм | 270 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3s 5S* → 2s2.2p3.(4S*).3p 5P | Измерено | NIST | |
| 384.9985 нм | 260 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3s 5S* → 2s2.2p3.(4S*).3p 5P | Измерено | NIST | |
| 385.1668 нм | 250 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3s 5S* → 2s2.2p3.(4S*).3p 5P | Измерено | NIST | |
| 385.69 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2s.3s 1S → 1s2.2s.3p 3P* | Измерено | NIST | |
| 385.712 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(3P).3p 4S* → 2p2.(3P).3d 4P | Измерено | NIST | |
| 387.086 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(3P).3p 4S* → 2p2.(3P).3d 4P | Измерено | NIST | |
| 388.508 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(3P).3s 4P → 2s.2p.(3P*).4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 388.6 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.7f 2F* → 1s2.8g 2G | Измерено | NIST | |
| 388.6 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.7f 2F* → 1s2.8g 2G | Измерено | NIST | |
| 388.6 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.7f 2F* → 1s2.8g 2G | Измерено | NIST | |
| 389.2 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.7f 2F* → 1s2.8d 2D | Измерено | NIST | |
| 389.2 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.7f 2F* → 1s2.8d 2D | Измерено | NIST | |
| 389.2 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.7f 2F* → 1s2.8d 2D | Измерено | NIST | |
| 390.229 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(3P).3p 4S* → 2p2.(3P).3d 4P | Измерено | NIST | |
| 390.45 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(3P).3s 4P → 2s.2p.(3P*).4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 394.51 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(1D).3p 2D* → 2p2.(1D).3d 2F | Измерено | NIST | |
| 394.51 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(1D).3p 2D* → 2p2.(1D).3d 2F | Измерено | NIST | |
| 394.51 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(1D).3p 2D* → 2p2.(1D).3d 2F | Измерено | NIST | |
| 394.518 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(3P).3s 4P → 2s.2p.(3P*).4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 394.736 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(3P).3s 4P → 2s.2p.(3P*).4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 396.08 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(3P).3s 4P → 2s.2p.(3P*).4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 396.113 нм | N/A | F IV | emission | 2s2.2p2 3P → 2s2.2p2 1D | Измерено | NIST | |
| 399.6 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.7d 2D → 1s2.8p 2P* | Измерено | NIST | |
| 399.6 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.7d 2D → 1s2.8p 2P* | Измерено | NIST | |
| 399.6 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.7d 2D → 1s2.8p 2P* | Измерено | NIST | |
| 399.692 нм | N/A | F IV | emission | 2s2.2p2 3P → 2s2.2p2 1D | Измерено | NIST | |
| 399.692 нм | N/A | F IV | emission | 2s2.2p2 3P → 2s2.2p2 1D | Измерено | NIST | |
| 400.26 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(3P).3s 4P → 2s.2p.(3P*).4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 400.942 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(3P).3s 4P → 2s.2p.(3P*).4s 4P* | Измерено | NIST | |
| 402.4726 нм | 240 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3s 3S* → 2s2.2p3.(4S*).3p 3P | Измерено | NIST | |
| 402.501 нм | 220 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3s 3S* → 2s2.2p3.(4S*).3p 3P | Измерено | NIST | |
| 402.5491 нм | 230 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3s 3S* → 2s2.2p3.(4S*).3p 3P | Измерено | NIST | |
| 405.99 нм | N/A | F IV | emission | 2s2.2p2 3P → 2s2.2p2 1D | Измерено | NIST | |
| 405.99 нм | N/A | F IV | emission | 2s2.2p2 3P → 2s2.2p2 1D | Измерено | NIST | |
| 410.3075 нм | 190 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3p 3P → 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* | Измерено | NIST | |
| 410.3213 нм | 170 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3p 3P → 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* | Измерено | NIST | |
| 410.3506 нм | 200 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3p 3P → 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* | Измерено | NIST | |
| 410.3713 нм | 180 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3p 3P → 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* | Измерено | NIST | |
| 410.387 нм | 170 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3p 3P → 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* | Измерено | NIST | |
| 410.4008 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3p 3P → 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* | Измерено | NIST | |
| 410.916 нм | 170 | F II | emission | 2s2.2p3.(2D*).3s 3D* → 2s2.2p3.(2D*).3p 3D | Измерено | NIST | |
| 411.03 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2s.3p 1P* → 1s2.2s.3d 3D | Измерено | NIST | |
| 411.272 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p3.(2D*).3s 3D* → 2s2.2p3.(2D*).3p 3D | Измерено | NIST | |
| 411.2969 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p3.(2D*).3s 3D* → 2s2.2p3.(2D*).3p 3D | Измерено | NIST | |
| 411.44 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2s.3p 1P* → 1s2.2s.3d 3D | Измерено | NIST | |
| 411.6535 нм | 160 | F II | emission | 2s2.2p3.(2D*).3s 3D* → 2s2.2p3.(2D*).3p 3D | Измерено | NIST | |
| 411.699 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p3.(2D*).3s 3D* → 2s2.2p3.(2D*).3p 3D | Измерено | NIST | |
| 411.8752 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p3.(2D*).3s 3D* → 2s2.2p3.(2D*).3p 3D | Измерено | NIST | |
| 411.9207 нм | 150 | F II | emission | 2s2.2p3.(2D*).3s 3D* → 2s2.2p3.(2D*).3p 3D | Измерено | NIST | |
| 415.775 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p4 1D → 2s2.2p4 1S | Измерено | NIST | |
| 423.3 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3P* | Измерено | NIST | |
| 424.76 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3P* | Измерено | NIST | |
| 426.19 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).3p 2D → 2s.2p.(3P*).3d 2D* | Измерено | NIST | |
| 426.28 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2s.3s 1S → 1s2.2s.3p 1P* | Измерено | NIST | |
| 427.32 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3P* | Измерено | NIST | |
| 427.94 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).3p 2D → 2s.2p.(3P*).3d 2D* | Измерено | NIST | |
| 429.9165 нм | 200 | F II | emission | 2s2.2p3.(2D*).3s 1D* → 2s2.2p3.(2D*).3p 1F | Измерено | NIST | |
| 432.27 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3P* | Измерено | NIST | |
| 433.94 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3P* | Измерено | NIST | |
| 435.28 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).3p 2D → 2s.2p.(3P*).3d 2D* | Измерено | NIST | |
| 437.11 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).3p 2D → 2s.2p.(3P*).3d 2D* | Измерено | NIST | |
| 439.05 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3P* | Измерено | NIST | |
| 444.6527 нм | 160 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* → 2s2.2p3.(4S*).4f 3F | Измерено | NIST | |
| 444.6689 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* → 2s2.2p3.(4S*).4f 3F | Измерено | NIST | |
| 444.6721 нм | 170 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* → 2s2.2p3.(4S*).4f 3F | Измерено | NIST | |
| 444.7117 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* → 2s2.2p3.(4S*).4f 3F | Измерено | NIST | |
| 444.7148 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* → 2s2.2p3.(4S*).4f 3F | Измерено | NIST | |
| 444.7188 нм | 180 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* → 2s2.2p3.(4S*).4f 3F | Измерено | NIST | |
| 455.99 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 1D → 1s2.2p.3d 1F* | Измерено | NIST | |
| 456.45 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.3d 3D | Измерено | NIST | |
| 457.45 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.3d 3D | Измерено | NIST | |
| 457.96 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.3d 3D | Измерено | NIST | |
| 459.81 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.3d 3D | Измерено | NIST | |
| 460.57 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.3d 3D | Измерено | NIST | |
| 461.08 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.3d 3D | Измерено | NIST | |
| 463.41 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.4p 1P → 1s2.2p.4d 1P* | Измерено | NIST | |
| 478.945 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p4 3P → 2s2.2p4 1D | Измерено | NIST | |
| 478.945 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p4 3P → 2s2.2p4 1D | Измерено | NIST | |
| 486.899 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p4 3P → 2s2.2p4 1D | Измерено | NIST | |
| 486.899 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p4 3P → 2s2.2p4 1D | Измерено | NIST | |
| 490.456 нм | N/A | F II | emission | 2s2.2p4 3P → 2s2.2p4 1D | Измерено | NIST | |
| 507.4 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 4D* → 2p2.(3P).3d 4P | Измерено | NIST | |
| 507.86 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 4D* → 2p2.(3P).3d 4P | Измерено | NIST | |
| 509.78 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 4D* → 2p2.(3P).3d 4P | Измерено | NIST | |
| 510.25 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 4D* → 2p2.(3P).3d 4P | Измерено | NIST | |
| 511.78 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 4D* → 2p2.(3P).3d 4P | Измерено | NIST | |
| 515.72 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 4D* → 2p2.(3P).3d 4P | Измерено | NIST | |
| 517.29 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 4D* → 2p2.(3P).3d 4P | Измерено | NIST | |
| 517.4 нм | N/A | F VIII | emission | 1s.3s 3S → 1s.3p 3P* | Измерено | NIST | |
| 522.95 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 4D* → 2p2.(3P).3d 4P | Измерено | NIST | |
| 525.1 нм | N/A | F VIII | emission | 1s.3s 3S → 1s.3p 3P* | Измерено | NIST | |
| 528.03 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(1D).3p 2D* → 2p2.(1D).3d 2D | Измерено | NIST | |
| 528.03 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(1D).3p 2D* → 2p2.(1D).3d 2D | Измерено | NIST | |
| 528.03 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(1D).3p 2D* → 2p2.(1D).3d 2D | Измерено | NIST | |
| 528.03 нм | N/A | F V | emission | 2p2.(1D).3p 2D* → 2p2.(1D).3d 2D | Измерено | NIST | |
| 533.07 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 1S → 1s2.2p.3d 1P* | Измерено | NIST | |
| 543.21 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3D* | Измерено | NIST | |
| 544 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.8p 2P* → 1s2.9d 2D | Измерено | NIST | |
| 544 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.8p 2P* → 1s2.9d 2D | Измерено | NIST | |
| 544 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.8p 2P* → 1s2.9d 2D | Измерено | NIST | |
| 545.91 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3D* | Измерено | NIST | |
| 549.84 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3D* | Измерено | NIST | |
| 549.99 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3D* | Измерено | NIST | |
| 556.76 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3D* | Измерено | NIST | |
| 560.85 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3D* | Измерено | NIST | |
| 568.67 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).3s 2P* → 2s.2p.(3P*).3p 2P | Измерено | NIST | |
| 572.12 нм | N/A | F III | emission | 2s2.2p3 2D* → 2s2.2p3 2P* | Измерено | NIST | |
| 572.12 нм | N/A | F III | emission | 2s2.2p3 2D* → 2s2.2p3 2P* | Измерено | NIST | |
| 572.15 нм | N/A | F III | emission | 2s2.2p3 2D* → 2s2.2p3 2P* | Измерено | NIST | |
| 573.29 нм | N/A | F III | emission | 2s2.2p3 2D* → 2s2.2p3 2P* | Измерено | NIST | |
| 573.29 нм | N/A | F III | emission | 2s2.2p3 2D* → 2s2.2p3 2P* | Измерено | NIST | |
| 573.32 нм | N/A | F III | emission | 2s2.2p3 2D* → 2s2.2p3 2P* | Измерено | NIST | |
| 573.32 нм | N/A | F III | emission | 2s2.2p3 2D* → 2s2.2p3 2P* | Измерено | NIST | |
| 576.14 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).3s 2P* → 2s.2p.(3P*).3p 2P | Измерено | NIST | |
| 585.63 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).3s 2P* → 2s.2p.(3P*).3p 2P | Измерено | NIST | |
| 593.55 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).3s 2P* → 2s.2p.(3P*).3p 2P | Измерено | NIST | |
| 604 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.8d 2D → 1s2.9p 2P* | Измерено | NIST | |
| 604 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.8d 2D → 1s2.9p 2P* | Измерено | NIST | |
| 604 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.8d 2D → 1s2.9p 2P* | Измерено | NIST | |
| 683 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.9p 2P* → 1s2.10d 2D | Измерено | NIST | |
| 683 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.9p 2P* → 1s2.10d 2D | Измерено | NIST | |
| 683 нм | N/A | F VII | emission | 1s2.9p 2P* → 1s2.10d 2D | Измерено | NIST | |
| 713.8 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4p 2D → 2s.2p.(3P*).4d 2F* | Измерено | NIST | |
| 719.4 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4p 2D → 2s.2p.(3P*).4d 2F* | Измерено | NIST | |
| 723.4 нм | N/A | F VI | emission | 1s2.2p.4s 1P* → 1s2.2p.4p 1D | Измерено | NIST | |
| 728.5 нм | N/A | F VIII | emission | 1s.3s 1S → 1s.3p 1P* | Измерено | NIST | |
| 735.8 нм | N/A | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4p 2D → 2s.2p.(3P*).4d 2F* | Измерено | NIST |
Расширенные свойства
Ковалентные радиусы (расш.)
Радиусы Ван-дер-Ваальса
Атомные и металлические радиусы
Шкалы нумерации
Шкалы электроотрицательности
Поляризуемость и дисперсия
Химическое сродство
Риск поставок и экономика
Фазовые переходы и аллотропы
| Температура плавления | 53.48 K |
| Температура кипения | 85.04 K |
| Критическая точка (температура) | 144.41 K |
| Критическая точка (давление) | 5.17 MPa |
| Тройная точка (температура) | 53.48 K |
| Тройная точка (давление) | 90 kPa |
Категории степеней окисления
Расширенные справочные данные
Константы экранирования (3)
| n | Орбиталь | σ |
|---|---|---|
| 1 | s | 0.3499 |
| 2 | p | 3.9 |
| 2 | s | 3.8724 |
Детализация кристаллических радиусов (5)
| Заряд | CN | Спин | rcrystal (pm) | Источник |
|---|---|---|---|---|
| -1 | II | 114.5 | ||
| -1 | III | 116 | ||
| -1 | IV | 117 | ||
| -1 | VI | 119 | ||
| 7 | VI | 22 | Ahrens (1952) ionic radius, |
Режимы распада изотопов (31)
| Изотоп | Режим | Интенсивность |
|---|---|---|
| 13 | p | — |
| 14 | p | — |
| 15 | p | 100% |
| 16 | p | 100% |
| 17 | B+ | 100% |
| 18 | B+ | 100% |
| 20 | B- | 100% |
| 21 | B- | 100% |
| 22 | B- | 100% |
| 22 | B-n | 11% |
Факторы рассеяния X‑лучей (502)
| Энергия (eV) | f₁ | f₂ |
|---|---|---|
| 10 | — | 0.05165 |
| 10.1617 | — | 0.05648 |
| 10.3261 | — | 0.06176 |
| 10.4931 | — | 0.06754 |
| 10.6628 | — | 0.07386 |
| 10.8353 | — | 0.08077 |
| 11.0106 | — | 0.08833 |
| 11.1886 | — | 0.09659 |
| 11.3696 | — | 0.10831 |
| 11.5535 | — | 0.12462 |
Дополнительные данные
Estimated Crustal Abundance
The estimated element abundance in the earth's crust.
5.85×102 milligrams per kilogram
Источники (1)
- [5] Fluorine https://education.jlab.org/itselemental/ele009.html
Estimated Oceanic Abundance
The estimated element abundance in the earth's oceans.
1.3 milligrams per liter
Источники (1)
- [5] Fluorine https://education.jlab.org/itselemental/ele009.html
Источники
(9)
Data deposited in or computed by PubChem
The half-life and atomic mass data was provided by the Atomic Mass Data Center at the International Atomic Energy Agency.
Element data are cited from the Atomic weights of the elements (an IUPAC Technical Report). The IUPAC periodic table of elements can be found at https://iupac.org/what-we-do/periodic-table-of-elements/. Additional information can be found within IUPAC publication doi:10.1515/pac-2015-0703 Copyright © 2020 International Union of Pure and Applied Chemistry.
The information are cited from Pure Appl. Chem. 2018; 90(12): 1833-2092, https://doi.org/10.1515/pac-2015-0703.
Thomas Jefferson National Accelerator Facility (Jefferson Lab) is one of 17 national laboratories funded by the U.S. Department of Energy. The lab's primary mission is to conduct basic research of the atom's nucleus using the lab's unique particle accelerator, known as the Continuous Electron Beam Accelerator Facility (CEBAF). For more information visit https://www.jlab.org/
The periodic table at the LANL (Los Alamos National Laboratory) contains basic element information together with the history, source, properties, use, handling and more. The provenance data may be found from the link under the source name.
The periodic table contains NIST's critically-evaluated data on atomic properties of the elements. The provenance data that include data for atomic spectroscopy, X-ray and gamma ray, radiation dosimetry, nuclear physics, and condensed matter physics may be found from the link under the source name. Ref: https://www.nist.gov/pml/atomic-spectra-database
This section provides all form of data related to element Fluorine.
The element property data was retrieved from publications.

