Beryllium (Be)
alkaline-earth-metalSolid
Стандартна відносна атомна маса
9,012183 uЕлектронна конфігурація
[He] 2s2Температура плавлення
1286,85 °CТемпература кипіння
2470,85 °CГустина
1850 kg/m³Ступені окиснення
0, +1, +2Електронегативність (за Полінгом)
1,57Енергія йонізації (1-ша)
9,322699 eVРік відкриття
1797Атомний радіус
105 pmВідомості
Beryllium is a light alkaline earth metal with unusually high stiffness, low density, and a high melting point for its mass. Its chemistry is dominated by the +2 oxidation state, but the small Be²⁺ ion gives many compounds pronounced covalent character. The element is rare in accessible ores, chiefly obtained from beryl and bertrandite, and is technologically important where low mass, dimensional stability, and transparency to X-rays are valuable.
The metal, steel gray in color, has many desirable properties. As one of the lightest of all metals, it has one of the highest melting points of the light metals. Its modulus of elasticity is about one third greater than that of steel. It resists attack by concentrated nitric acid, has excellent thermal conductivity, and is nonmagnetic. It has a high permeability to X-rays and when bombarded by alpha particles, as from radium or polonium, neutrons are produced in the amount of about 30 neutrons/million alpha particles.
At ordinary temperatures, beryllium resists oxidation in air, although its ability to scratch glass is probably due to the formation of a thin layer of the oxide.
The name derives from the Greek word beryllos for "beryl", a gemstone in which it is found (3BeO×Al2O3×6SiO2).
Beryllium was discovered by the French chemist and pharmacist Nicholas-Louis Vauquelin in beryl and emerald in 1797. The element was first separated in 1828 by the French chemist Antoine-Alexandre-Brutus Bussy and independently by the German chemist Friedrich Wöhler. Because the salts of beryllium have a sweet taste, the element was also known as glucinium from the Greek glykys for "sweet", until IUPAC selected the name beryllium in 1949.
Although emeralds and beryl were known to ancient civilizations, they were first recognized as the same mineral (Be3Al2(SiO3)6) by Abbé Haüy in 1798. Later that year, Louis-Nicholas Vauquelin, a French chemist, discovered that an unknown element was present in emeralds and beryl. Attempts to isolate the new element finally succeeded in 1828 when two chemists, Friedrich Wölhler of Germany and A. Bussy of France, independently produced beryllium by reducing beryllium chloride (BeCl2) with potassium in a platinum crucible. Today, beryllium is primarily obtained from the minerals beryl (Be3Al2(SiO3)6) and bertrandite (4BeO·2SiO2·H2O) through a chemical process or through the electrolysis of a mixture of molten beryllium chloride (BeCl2) and sodium chloride (NaCl).
From the Greek word beryllos, beryl; also called glucinium or glucinum, Greek glykys, sweet. Discovered in the oxide form by Vauquelin in both beryl and emeralds in 1798. The metal was isolated in 1828 by Wohler and by Bussy independently by the action of potassium on beryllium chloride.
Pure beryllium is a hard, brittle, steel-gray metal with a metallic luster. It is solid at ordinary conditions and forms a thin, adherent oxide film that helps resist further oxidation in dry air. Powdered or freshly machined material is more reactive and presents greater handling risk.
Beryllium metal is used in specialized aerospace, defense, satellite, and scientific instruments where stiffness, low density, and thermal stability justify its cost and handling controls. Thin beryllium windows transmit X-rays and are used in X-ray tubes and detectors. Copper-beryllium alloys are important for springs, electrical contacts, non-sparking tools, and fatigue-resistant precision parts. Beryllium oxide ceramics are used as electrically insulating but thermally conductive materials in some electronic and microwave components.
Beryllium is relatively transparent to X-rays and is used to make windows for X-ray tubes. When exposed to alpha particles, such as those emitted by radium or polonium, beryllium emits neutrons and is used as a neutron source. Beryllium is also used as a moderator in nuclear reactors.
Beryllium is alloyed with copper (2% beryllium, 98% copper) to form a wear resistant material, known as beryllium bronze, used in gyroscopes and other devices where wear resistance is important. Beryllium is alloyed with nickel (2% beryllium, 98% nickel) to make springs, spot-welding electrodes and non-sparking tools. Other beryllium alloys are used in the windshield, brake disks and other structural components of the space shuttle.
Beryllium oxide (BeO), a compound of beryllium, is used in the nuclear industry and in ceramics.
Beryllium was once known as glucinum, which means sweet, since beryllium and many of its compounds have a sugary taste. Unfortunately for the chemists that discovered this particular property, beryllium and many of its compounds are poisonous and should never be tasted or ingested.
Beryllium is used as an alloying agent in producing beryllium copper, which is extensively used for springs, electrical contacts, spot-welding electrodes, and non-sparking tools. It is applied as a structural material for high-speed aircraft, missiles, spacecraft, and communication satellites. Other uses include windshield frame, brake discs, support beams, and other structural components of the space shuttle.
Because beryllium is relatively transparent to X-rays, ultra-thin Be-foil is finding use in X-ray lithography for reproduction of micro-miniature integrated circuits.
Beryllium is used in nuclear reactors as a reflector or moderator for it has a low thermal neutron absorption cross section.
It is used in gyroscopes, computer parts, and instruments where lightness, stiffness, and dimensional stability are required. The oxide has a very high melting point and is also used in nuclear work and ceramic applications.
Isotopes in Geochronology
Cosmogenic 10Be and 7Be isotopes are produced in the atmosphere, largely by cosmic-ray spallation of nitrogen and oxygen. Because of its relatively short half-life (7Be, half-life t1/2=53 d, compared to that of 10Be, half-life t1/2=1.39×106 a, where the unit symbol “d” stands for day and “a” stands for year), measurements of cosmogenic 7Be, and especially the isotope-amount ratio n(7Be)/n(10Be), have been used to study rates of atmospheric circulation, mixing, formation of aerosols (fine solids or liquids suspended in a gas; e.g. smoke and mist are aerosols), and particle deposition [44] C. E. Jordan, J. E. Dibb, R. C. Finkel. J. Geophys. Res. Atmos.108, (2003).. Cosmogenic atmospheric beryllium isotopes (7Be and 10Be) are deposited on the Earth’s surface, where they accumulate in soils, sediments, and snow while decaying away. Measurements of cosmogenic beryllium isotopes in such deposits are used to explore rates of soil formation, erosion, sedimentation, and snow accumulation on time scales ranging from months (7Be) to millions of years (10Be) [45] J. M. Kaste, S. A. Norton, C. T. Hess. Rev. Mineral. Geochem.50, 271 (2002)., [46] J. A. Graly, P. R. Bierman, L. J. Reusser, M. J. Pavich. Geochim. Cosmochim. Acta.74, 6814 (2010).. The minerals in rocks at the Earth’s surface interact with cosmic rays and form substantial quantities of 10Be and 7Be, thus providing a tool to determine the ages of geologic processes. In some situations, it is possible to estimate “exposure ages” for rocks in eroding terrains [47] P. R. Bierman, M. W. Caffee, P. T. Davis, K. Marsella, M. Pavich, P. Colgan, D. Mickelson, J. Larsen. Rev. Mineral. Geochem.50, 147 (2002)., [48] P. Bierman, E. A. Zen, M. Pavich, L. Reusser. U.S. Geol. Surv. Circ.1264, 191 (2004)., [49] L. Reusser, P. Bierman, M. Pavich, J. Larsen, R. Finkel. Am. J. Sci.306, 69 (2006).. By comparing measured 10Be concentrations with estimated rates of in situ cosmogenic 10Be production, the rate of rock erosion and formation of canyons and other geologic features can be determined (Fig. IUPAC.4.1).
Anthropogenic 10Be was produced by nuclear bomb explosions largely through the reaction of fast neutrons (neutrons produced by nuclear fission having high kinetic energy) with 13C via the 13C (n, alpha) 10Be reaction in atmospheric CO2. Although the quantity of 10Be produced in this way is small, its presence above natural background concentrations in some environmental samples can potentially provide information about bomb-related processes and contamination [50] N. E. Whitehead, S. Endo, K. Tanaka, T. Takatsuji, M. Hoshi, S. Fukutani, R. G. Ditchburn, A. Zondervan. J. Environ. Radioact.99, 260 (2008)..
Beryllium most commonly forms Be²⁺ compounds, although their bonding is often strongly polarizing and partly covalent. Beryllium oxide (BeO) is a refractory ceramic with high thermal conductivity and electrical insulation. Beryllium hydroxide (Be(OH)₂) is amphoteric, dissolving in both acids and strong bases. Beryllium chloride (BeCl₂) is polymeric in the solid state and hydrolyzes readily. Natural beryllium occurs mainly in silicate minerals, especially beryl, with ideal formula Be₃Al₂Si₆O₁₈, and in bertrandite, Be₄Si₂O₇(OH)₂.
See more information at the Beryllium compound page.
Beryllium metal, dusts, fumes, and soluble compounds are highly toxic by inhalation. Occupational exposure can cause sensitization and chronic beryllium disease, a serious immune-mediated lung disorder. Machining, grinding, and high-temperature processing require strict dust and fume control. Solid finished articles are less hazardous if they are not abraded, heated, or otherwise made into respirable material.
Beryllium and its salts are toxic and should be handled with the greatest of care. Beryllium and its compounds should not be tasted to verify the sweetish nature of beryllium (as did early experimenters). The metal, its alloys, and its salts can be handled if certain work codes are observed, but no attempt should be made to work with beryllium before becoming familiar with proper safeguards.
Beryllium is a minor constituent of the continental crust and is concentrated by geological processes into uncommon silicate minerals. It has no known essential biological role. In soils and waters its mobility depends strongly on pH, mineral surfaces, and complexation; it is generally not abundant in natural waters. Environmental releases are mainly associated with mining, ore processing, combustion of some coals, and industrial handling of beryllium-containing materials.
Commercial beryllium supply is limited by the scarcity of workable deposits and by the need for controlled processing because of toxicity. Bertrandite ores in the United States and beryl from several regions have been important feedstocks. Extraction is chemically complex, and much demand is for high-value metal, copper-beryllium master alloys, and beryllium oxide ceramics rather than bulk structural metal. Recycling occurs from manufacturing scrap and selected end-of-life alloys, but health controls and material traceability are significant constraints. Substitution is often possible only with loss of stiffness, conductivity, X-ray transparency, or fatigue performance.
Beryllium is found in some 30 mineral species, the most important of which are bertrandite, beryl, chrysoberyl, and phenacite. Aquamarine and emerald are precious forms of beryl. Beryl and bertrandite are the most important commercial sources of the element and its compounds. Most of the metal is now prepared by reducing beryllium fluoride with magnesium metal. Beryllium metal did not become readily available to industry until 1957.
Beryllium is cosmically scarce because stable nuclei with mass numbers 5 and 8 are absent, limiting its production in ordinary stellar fusion chains. Most natural beryllium is thought to form by cosmic-ray spallation of heavier nuclei such as carbon, nitrogen, and oxygen in interstellar material. It is present in the Solar System only at low abundance compared with neighboring light elements.
- Beryllium has only one stable isotope, ⁹Be.
- Emerald and aquamarine are gem varieties of beryl colored by trace impurities, not by beryllium itself.
- Beryllium windows can pass X-rays while blocking visible light and air.
- Copper-beryllium tools are valued where sparking must be minimized.
- Beryllium oxide combines ceramic insulation with unusually high heat conduction.
Зображення
Властивості
Фізичні
- Атомний радіус (емпіричний)
- 105 pm Порівняти Атомний радіус (емпіричний) усіх елементів →
- Ковалентний радіус
- 96 pm Порівняти Ковалентний радіус усіх елементів →
- Радіус ван дер Ваальса
- 153 pm Порівняти Радіус ван дер Ваальса усіх елементів →
- Металічний радіус
- 89 pm Порівняти Металічний радіус усіх елементів →
- Густина
- 1850 kg/m³ Порівняти Густина усіх елементів →
- Молярний об’єм
- 0,005 L/mol
- Фаза за стандартних температури й тиску
- Твердий стан Порівняти Фаза за стандартних температури й тиску усіх елементів →
- Температура плавлення
- 1286,85 °C Порівняти Температура плавлення усіх елементів →
- Температура кипіння
- 2470,85 °C Порівняти Температура кипіння усіх елементів →
- Теплопровідність
- 201 Вт/(м·K) Порівняти Теплопровідність усіх елементів →
- Питома теплоємність
- 1,825 Дж/(г·K) Порівняти Питома теплоємність усіх елементів →
- Молярна теплоємність
- 16,443 Дж/(моль·K) Порівняти Молярна теплоємність усіх елементів →
- Кристалічна структура
- Гексагональна щільноупакована Порівняти Кристалічна структура усіх елементів →
Хімічні
- Електронегативність (за Полінгом)
- 1,57 Порівняти Електронегативність (за Полінгом) усіх елементів →
- Електронегативність (за Алленом)
- 1,576
- Спорідненість до електрона
- -0,52 eV (від'ємне значення — приєднання електрона енергетично невигідне)
- Енергія йонізації (1-ша)
- 9,322699 eV Порівняти Енергія йонізації (1-ша) усіх елементів →
- Енергія йонізації (2-га)
- 18,211213 eV Порівняти Енергія йонізації (2-га) усіх елементів →
- Енергія йонізації (3-тя)
- 153,896735 eV Порівняти Енергія йонізації (3-тя) усіх елементів →
- Енергія йонізації (4-та)
- 217,719334 eV Порівняти Енергія йонізації (4-та) усіх елементів →
- Ступені окиснення
- 0, +1, +2 Порівняти Ступені окиснення усіх елементів →
- Валентні електрони
- 2 Порівняти Валентні електрони усіх елементів →
- Електронна конфігурація
- [He] 2s2
Термодинамічні
- Критична точка (температура)
- 4932 °C
- Теплота плавлення
- 0,12644453 eV Порівняти Теплота плавлення усіх елементів →
- Теплота випаровування
- 3,078199 eV Порівняти Теплота випаровування усіх елементів →
- Теплота сублімації
- 3,358035 eV
- Теплота атомізації
- 3,358035 eV
- Ентальпія атомізації
- 3,358035 eV
Ядерні
- Протони
- 4 Порівняти Протони усіх елементів →
- Нейтрони
- 5 Порівняти Нейтрони усіх елементів →
- Відомі ізотопи
- 12 Порівняти Відомі ізотопи усіх елементів →
- Стабільні ізотопи
- 1 Порівняти Стабільні ізотопи усіх елементів →
- Найстабільніший ізотоп
- Be-9
- Рік відкриття
- 1797
Поширеність
- Вміст (земна кора)
- 2,8 мг/кг Порівняти Вміст (земна кора) усіх елементів →
- Вміст (океан)
- 5,6 × 10−6 мг/л Порівняти Вміст (океан) усіх елементів →
Кристалічна структура
- Стала ґратки a
- 229 pm
Електронна будова
- Електрони за оболонками
- 2, 2 Порівняти Електрони за оболонками усіх елементів →
Ідентифікатори
- Номер CAS
- 7440-41-7 Порівняти Номер CAS усіх елементів →
- Символ терма
- 1S0
- InChI
- InChI=1S/Be
- Ключ InChI
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N
Електронна конфігурація Виміряно
Be: 2s²[He] 2s²1s² 2s²Модель атома
Ізотопи відрізняються кількістю нейтронів, масою та стабільністю, але не електронною конфігурацією нейтрального атома.
Схематична модель атома, без дотримання масштабу.
Атомний відбиток
Спектр випромінювання / поглинання
Ізотопний розподіл
| Масове число | Атомна маса (u) | Природний вміст | Період напіврозпаду |
|---|---|---|---|
| 9 Стабільний | 9,012183065 ± 0,000000082 | 100,0000% | Стабільний |
Фаза / стан
Причина: на 1261,8 °C нижче температури плавлення (1286,85 °C)
Схематично, без дотримання масштабу
Точки фазових переходів
Енергії переходів
Енергія, необхідна для плавлення 1 моль за температури плавлення
Енергія, необхідна для випаровування 1 моль за температури кипіння
Енергія, необхідна для сублімації 1 моль за температури сублімації
Густина
За стандартних умов
За стандартних умов
Розширені дані
Атомні спектри
Наявні дані про лінії ?
| Йон | Заряд | Загальна кількість ліній | Імовірності переходів | Позначення рівнів |
|---|---|---|---|---|
| Be I | 0 | 581 | 394 | 581 |
| Be II | +1 | 681 | 149 | 681 |
| Be III | +2 | 323 | 302 | 316 |
| Be IV | +3 | 142 | 142 | 142 |
Наявні дані про рівні ?
| Йон | Заряд | Рівні |
|---|---|---|
| Be I | 0 | 219 |
| Be II | +1 | 258 |
| Be III | +2 | 167 |
| Be IV | +3 | 149 |
Йонні радіуси
| Заряд | Координація | Спін | Радіус |
|---|---|---|---|
| +2 | 3 | Немає даних | 16 пм |
| +2 | 4 | Немає даних | 27 пм |
| +2 | 6 | Немає даних | 45 пм |
Сполуки
Ізотопи (1)
| Масове число | Атомна маса (u) | Природний вміст | Період напіврозпаду | Тип розпаду | |
|---|---|---|---|---|---|
| 9 Стабільний | 9,012183065 ± 0,000000082 | 100,0000% | Стабільний | stable |
Спектральні лінії
| Довжина хвилі (нм) | Інтенсивність | Ступінь йонізації | Тип | Перехід | Точність | Джерело | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 381.3453 нм | 22 | Be I | emission | 1s2.2s.2p 1P* → 1s2.2s.4d 1D | Виміряно | NIST | |
| 385.17 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3p 4D → 1s.2p.4s 4P* | Виміряно | NIST | |
| 385.17 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3p 4D → 1s.2p.4s 4P* | Виміряно | NIST | |
| 385.17 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3p 4D → 1s.2p.4s 4P* | Виміряно | NIST | |
| 385.17 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3p 4D → 1s.2p.4s 4P* | Виміряно | NIST | |
| 385.17 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3p 4D → 1s.2p.4s 4P* | Виміряно | NIST | |
| 385.17 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3p 4D → 1s.2p.4s 4P* | Виміряно | NIST | |
| 385.17 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3p 4D → 1s.2p.4s 4P* | Виміряно | NIST | |
| 385.17 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3p 4D → 1s.2p.4s 4P* | Виміряно | NIST | |
| 386.513 нм | 3 | Be I | emission | 1s2.2p2 3P → 1s2.2p.3s 3P* | Виміряно | NIST | |
| 386.5427 нм | 5 | Be I | emission | 1s2.2p2 3P → 1s2.2p.3s 3P* | Виміряно | NIST | |
| 386.5517 нм | 1 | Be I | emission | 1s2.2p2 3P → 1s2.2p.3s 3P* | Виміряно | NIST | |
| 386.5725 нм | 2 | Be I | emission | 1s2.2p2 3P → 1s2.2p.3s 3P* | Виміряно | NIST | |
| 386.6022 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2p2 3P → 1s2.2p.3s 3P* | Виміряно | NIST | |
| 386.6037 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2p2 3P → 1s2.2p.3s 3P* | Виміряно | NIST | |
| 388.143 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4s 3S → 1s.5p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 388.143 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4s 3S → 1s.5p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 388.143 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4s 3S → 1s.5p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 399.55 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.(3P*).3d 2D* → 1s.2p.(3P*).4f 2F | Виміряно | NIST | |
| 399.55 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.(3P*).3d 2D* → 1s.2p.(3P*).4f 2F | Виміряно | NIST | |
| 399.55 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.(3P*).3d 2D* → 1s.2p.(3P*).4f 2F | Виміряно | NIST | |
| 403.93 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4F* → 1s.2p.4f 4D | Виміряно | NIST | |
| 403.93 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4F* → 1s.2p.4f 4D | Виміряно | NIST | |
| 403.93 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4F* → 1s.2p.4f 4D | Виміряно | NIST | |
| 403.93 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4F* → 1s.2p.4f 4D | Виміряно | NIST | |
| 403.93 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4F* → 1s.2p.4f 4D | Виміряно | NIST | |
| 403.93 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4F* → 1s.2p.4f 4D | Виміряно | NIST | |
| 403.93 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4F* → 1s.2p.4f 4D | Виміряно | NIST | |
| 403.93 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4F* → 1s.2p.4f 4D | Виміряно | NIST | |
| 403.93 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4F* → 1s.2p.4f 4D | Виміряно | NIST | |
| 416.63 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4s 1S → 1s.5p 1P* | Виміряно | NIST | |
| 419.97 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4s 1S → 1s.5d 1D | Виміряно | NIST | |
| 424.41 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4p 3P* → 1s.5d 1D | Виміряно | NIST | |
| 424.41 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4p 3P* → 1s.5d 1D | Виміряно | NIST | |
| 424.906 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4p 3P* → 1s.5d 3D | Виміряно | NIST | |
| 424.906 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4p 3P* → 1s.5d 3D | Виміряно | NIST | |
| 424.906 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4p 3P* → 1s.5d 3D | Виміряно | NIST | |
| 424.906 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4p 3P* → 1s.5d 3D | Виміряно | NIST | |
| 424.906 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4p 3P* → 1s.5d 3D | Виміряно | NIST | |
| 424.906 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4p 3P* → 1s.5d 3D | Виміряно | NIST | |
| 425.2 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2s.3p 4P* → 1s.2s.4s 4S | Виміряно | NIST | |
| 425.2 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2s.3p 4P* → 1s.2s.4s 4S | Виміряно | NIST | |
| 425.2 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2s.3p 4P* → 1s.2s.4s 4S | Виміряно | NIST | |
| 425.2987 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3d 3D → 1s2.2p.3s 3P* | Виміряно | NIST | |
| 425.2987 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3d 3D → 1s2.2p.3s 3P* | Виміряно | NIST | |
| 425.2987 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3d 3D → 1s2.2p.3s 3P* | Виміряно | NIST | |
| 425.3707 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3d 3D → 1s2.2p.3s 3P* | Виміряно | NIST | |
| 425.3707 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3d 3D → 1s2.2p.3s 3P* | Виміряно | NIST | |
| 425.4085 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3d 3D → 1s2.2p.3s 3P* | Виміряно | NIST | |
| 432.953 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4f 4F* | Виміряно | NIST | |
| 432.953 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4f 4F* | Виміряно | NIST | |
| 432.953 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4f 4F* | Виміряно | NIST | |
| 432.953 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4f 4F* | Виміряно | NIST | |
| 432.953 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4f 4F* | Виміряно | NIST | |
| 432.953 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4f 4F* | Виміряно | NIST | |
| 432.953 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4f 4F* | Виміряно | NIST | |
| 432.953 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4f 4F* | Виміряно | NIST | |
| 432.953 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4f 4F* | Виміряно | NIST | |
| 433.302 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.10f 2F* | Виміряно | NIST | |
| 433.306 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.10f 2F* | Виміряно | NIST | |
| 433.306 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.10f 2F* | Виміряно | NIST | |
| 436.0665 нм | 810 | Be II | emission | 1s2.3p 2P* → 1s2.4d 2D | Виміряно | NIST | |
| 436.0986 нм | 960 | Be II | emission | 1s2.3p 2P* → 1s2.4d 2D | Виміряно | NIST | |
| 436.1032 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.3p 2P* → 1s2.4d 2D | Виміряно | NIST | |
| 437.112 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4D* → 1s.2p.4f 4F | Виміряно | NIST | |
| 437.112 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4D* → 1s.2p.4f 4F | Виміряно | NIST | |
| 437.112 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4D* → 1s.2p.4f 4F | Виміряно | NIST | |
| 437.112 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4D* → 1s.2p.4f 4F | Виміряно | NIST | |
| 437.112 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4D* → 1s.2p.4f 4F | Виміряно | NIST | |
| 437.112 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4D* → 1s.2p.4f 4F | Виміряно | NIST | |
| 437.112 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4D* → 1s.2p.4f 4F | Виміряно | NIST | |
| 437.112 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4D* → 1s.2p.4f 4F | Виміряно | NIST | |
| 437.112 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4D* → 1s.2p.4f 4F | Виміряно | NIST | |
| 440.393 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.9d 2D | Виміряно | NIST | |
| 440.408 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.9d 2D | Виміряно | NIST | |
| 440.408 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.9d 2D | Виміряно | NIST | |
| 440.7936 нм | 19 | Be I | emission | 1s2.2s.2p 1P* → 1s2.2s.4s 1S | Виміряно | NIST | |
| 445.828 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4d 1D → 1s.5p 1P* | Виміряно | NIST | |
| 446.786 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.9s 2S | Виміряно | NIST | |
| 446.802 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.9s 2S | Виміряно | NIST | |
| 447.669 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4s 2S → 1s2.7p 2P* | Виміряно | NIST | |
| 447.672 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4s 2S → 1s2.7p 2P* | Виміряно | NIST | |
| 448.651 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5f 1F* | Виміряно | NIST | |
| 448.651 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5f 1F* | Виміряно | NIST | |
| 448.651 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5f 3F* | Виміряно | NIST | |
| 448.651 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5f 3F* | Виміряно | NIST | |
| 448.651 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5f 3F* | Виміряно | NIST | |
| 448.651 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5f 3F* | Виміряно | NIST | |
| 448.651 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5f 3F* | Виміряно | NIST | |
| 448.651 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5f 3F* | Виміряно | NIST | |
| 449.54 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4d 1D → 1s.5f 1F* | Виміряно | NIST | |
| 449.54 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4d 1D → 1s.5f 3F* | Виміряно | NIST | |
| 449.54 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4d 1D → 1s.5f 3F* | Виміряно | NIST | |
| 449.96 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4f 1F* → 1s.5d 1D | Виміряно | NIST | |
| 449.96 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4f 3F* → 1s.5d 1D | Виміряно | NIST | |
| 450.511 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4f 1F* → 1s.5d 3D | Виміряно | NIST | |
| 450.511 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4f 1F* → 1s.5d 3D | Виміряно | NIST | |
| 450.511 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4f 3F* → 1s.5d 3D | Виміряно | NIST | |
| 450.511 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4f 3F* → 1s.5d 3D | Виміряно | NIST | |
| 450.511 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4f 3F* → 1s.5d 3D | Виміряно | NIST | |
| 450.511 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4f 3F* → 1s.5d 3D | Виміряно | NIST | |
| 450.511 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4f 3F* → 1s.5d 3D | Виміряно | NIST | |
| 450.511 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4f 3F* → 1s.5d 3D | Виміряно | NIST | |
| 452.6406 нм | 7 | Be I | emission | 1s2.2s.4p 1P* → 1s2.2p.3p 1P | Виміряно | NIST | |
| 453.543 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.9f 2F* | Виміряно | NIST | |
| 453.548 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.9f 2F* | Виміряно | NIST | |
| 453.548 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.9f 2F* | Виміряно | NIST | |
| 453.58 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4p 1P* → 1s.5p 1P* | Виміряно | NIST | |
| 454.06 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.9g 2G | Виміряно | NIST | |
| 454.062 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.9g 2G | Виміряно | NIST | |
| 454.062 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.9g 2G | Виміряно | NIST | |
| 454.788 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.9p 2P* | Виміряно | NIST | |
| 454.789 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.9p 2P* | Виміряно | NIST | |
| 454.793 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.9p 2P* | Виміряно | NIST | |
| 454.8055 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s2 1S → 1s2.2s.2p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 454.85379 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s2 1S → 1s2.2s.2p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 457.266603 нм | 30 | Be I | emission | 1s2.2s.2p 1P* → 1s2.2s.3d 1D | Виміряно | NIST | |
| 457.55 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4p 1P* → 1s.5d 1D | Виміряно | NIST | |
| 458.12 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4p 1P* → 1s.5d 3D | Виміряно | NIST | |
| 459.61 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4p 4P* | Виміряно | NIST | |
| 459.61 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4p 4P* | Виміряно | NIST | |
| 459.61 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4p 4P* | Виміряно | NIST | |
| 459.61 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4p 4P* | Виміряно | NIST | |
| 459.61 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4p 4P* | Виміряно | NIST | |
| 459.61 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4p 4P* | Виміряно | NIST | |
| 459.61 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4p 4P* | Виміряно | NIST | |
| 459.61 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2s.3d 4D → 1s.2s.4p 4P* | Виміряно | NIST | |
| 461.05 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3p 4P → 1s.2p.4s 4P* | Виміряно | NIST | |
| 461.05 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3p 4P → 1s.2p.4s 4P* | Виміряно | NIST | |
| 461.05 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3p 4P → 1s.2p.4s 4P* | Виміряно | NIST | |
| 461.05 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3p 4P → 1s.2p.4s 4P* | Виміряно | NIST | |
| 461.05 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3p 4P → 1s.2p.4s 4P* | Виміряно | NIST | |
| 461.05 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3p 4P → 1s.2p.4s 4P* | Виміряно | NIST | |
| 461.05 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3p 4P → 1s.2p.4s 4P* | Виміряно | NIST | |
| 462.827 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 462.827 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 462.827 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 462.827 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 462.827 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 462.827 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4d 3D → 1s.5p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 463.774 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4d 1D → 1s.5p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 463.774 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4d 1D → 1s.5p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 465.722198 нм | Немає даних | Be IV | emission | 5p 2P* → 6d 2D | Виміряно | NIST | |
| 465.730484 нм | Немає даних | Be IV | emission | 5s 2S → 6p 2P* | Виміряно | NIST | |
| 465.792545 нм | Немає даних | Be IV | emission | 5p 2P* → 6s 2S | Виміряно | NIST | |
| 465.805836 нм | Немає даних | Be IV | emission | 5s 2S → 6p 2P* | Виміряно | NIST | |
| 465.827127 нм | Немає даних | Be IV | emission | 5d 2D → 6f 2F* | Виміряно | NIST | |
| 465.827302 нм | Немає даних | Be IV | emission | 5p 2P* → 6d 2D | Виміряно | NIST | |
| 465.85207 нм | Немає даних | Be IV | emission | 5d 2D → 6p 2P* | Виміряно | NIST | |
| 465.852419 нм | Немає даних | Be IV | emission | 5p 2P* → 6d 2D | Виміряно | NIST | |
| 465.857919 нм | Немає даних | Be IV | emission | 5f 2F* → 6g 2G | Виміряно | NIST | |
| 465.857973 нм | Немає даних | Be IV | emission | 5d 2D → 6f 2F* | Виміряно | NIST | |
| 465.870408 нм | Немає даних | Be IV | emission | 5f 2F* → 6d 2D | Виміряно | NIST | |
| 465.870532 нм | Немає даних | Be IV | emission | 5d 2D → 6f 2F* | Виміряно | NIST | |
| 465.872059 нм | Немає даних | Be IV | emission | 5g 2G → 6h 2H* | Виміряно | NIST | |
| 465.872085 нм | Немає даних | Be IV | emission | 5f 2F* → 6g 2G | Виміряно | NIST | |
| 465.879556 нм | Немає даних | Be IV | emission | 5g 2G → 6f 2F* | Виміряно | NIST | |
| 465.879621 нм | Немає даних | Be IV | emission | 5f 2F* → 6g 2G | Виміряно | NIST | |
| 465.8800567 нм | Немає даних | Be IV | emission | 5g 2G → 6h 2H* | Виміряно | NIST | |
| 465.8850804 нм | Немає даних | Be IV | emission | 5g 2G → 6h 2H* | Виміряно | NIST | |
| 465.892111 нм | Немає даних | Be IV | emission | 5f 2F* → 6d 2D | Виміряно | NIST | |
| 465.892116 нм | Немає даних | Be IV | emission | 5g 2G → 6f 2F* | Виміряно | NIST | |
| 465.892578 нм | Немає даних | Be IV | emission | 5g 2G → 6f 2F* | Виміряно | NIST | |
| 465.89548 нм | Немає даних | Be IV | emission | 5d 2D → 6p 2P* | Виміряно | NIST | |
| 465.89553 нм | Немає даних | Be IV | emission | 5f 2F* → 6d 2D | Виміряно | NIST | |
| 465.9228055 нм | Немає даних | Be IV | emission | 5p 2P* → 6s 2S | Виміряно | NIST | |
| 465.927462 нм | Немає даних | Be IV | emission | 5d 2D → 6p 2P* | Виміряно | NIST | |
| 466.346 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4p 3P* → 1s.5s 3S | Виміряно | NIST | |
| 466.346 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4p 3P* → 1s.5s 3S | Виміряно | NIST | |
| 466.346 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.4p 3P* → 1s.5s 3S | Виміряно | NIST | |
| 466.37 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4P* → 1s.2p.4f 4D | Виміряно | NIST | |
| 466.37 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4P* → 1s.2p.4f 4D | Виміряно | NIST | |
| 466.37 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4P* → 1s.2p.4f 4D | Виміряно | NIST | |
| 466.37 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4P* → 1s.2p.4f 4D | Виміряно | NIST | |
| 466.37 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4P* → 1s.2p.4f 4D | Виміряно | NIST | |
| 466.37 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4P* → 1s.2p.4f 4D | Виміряно | NIST | |
| 466.37 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4P* → 1s.2p.4f 4D | Виміряно | NIST | |
| 466.37 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s.2p.3d 4P* → 1s.2p.4f 4D | Виміряно | NIST | |
| 467.3332 нм | 1060 | Be II | emission | 1s2.3d 2D → 1s2.4f 2F* | Виміряно | NIST | |
| 467.342 нм | 1160 | Be II | emission | 1s2.3d 2D → 1s2.4f 2F* | Виміряно | NIST | |
| 467.345 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.3d 2D → 1s2.4f 2F* | Виміряно | NIST | |
| 470.234 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.8d 2D | Виміряно | NIST | |
| 470.252 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.8d 2D | Виміряно | NIST | |
| 470.252 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.8d 2D | Виміряно | NIST | |
| 470.9391 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.8p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 470.9394 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.8p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 470.9396 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.8p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 480.759 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.8s 2S | Виміряно | NIST | |
| 480.777 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.8s 2S | Виміряно | NIST | |
| 482.799 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.3d 2D → 1s2.4p 2P* | Виміряно | NIST | |
| 482.812 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.3d 2D → 1s2.4p 2P* | Виміряно | NIST | |
| 482.818 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.3d 2D → 1s2.4p 2P* | Виміряно | NIST | |
| 484.9153 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.7p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 484.9153 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.7p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 484.9156 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.7p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 485.233 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.8f 2F* | Виміряно | NIST | |
| 485.238 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.8f 2F* | Виміряно | NIST | |
| 485.238 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.8f 2F* | Виміряно | NIST | |
| 485.6045 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.2p 3P* → 1s2.2s.2p 1P* | Виміряно | NIST | |
| 485.61897 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.2p 3P* → 1s2.2s.2p 1P* | Виміряно | NIST | |
| 485.61897 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.2p 3P* → 1s2.2s.2p 1P* | Виміряно | NIST | |
| 485.6741 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.2p 3P* → 1s2.2s.2p 1P* | Виміряно | NIST | |
| 485.6741 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.2p 3P* → 1s2.2s.2p 1P* | Виміряно | NIST | |
| 485.82 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.8g 2G | Виміряно | NIST | |
| 485.823 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.8g 2G | Виміряно | NIST | |
| 485.823 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.8g 2G | Виміряно | NIST | |
| 508.7714 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.6p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 508.7714 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.6p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 508.7719 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.6p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 515.2 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.5d 1D → 1s.7p 1P* | Виміряно | NIST | |
| 515.778 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.5d 3D → 1s.7f 3F* | Виміряно | NIST | |
| 515.778 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.5d 3D → 1s.7f 3F* | Виміряно | NIST | |
| 515.778 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.5d 3D → 1s.7f 3F* | Виміряно | NIST | |
| 515.778 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.5d 3D → 1s.7f 3F* | Виміряно | NIST | |
| 515.778 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.5d 3D → 1s.7f 3F* | Виміряно | NIST | |
| 515.778 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.5d 3D → 1s.7f 3F* | Виміряно | NIST | |
| 516.51 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.5d 1D → 1s.7f 3F* | Виміряно | NIST | |
| 516.51 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.5d 1D → 1s.7f 3F* | Виміряно | NIST | |
| 521.8119 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.7d 2D | Виміряно | NIST | |
| 521.834 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.7d 2D | Виміряно | NIST | |
| 521.834 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.7d 2D | Виміряно | NIST | |
| 525.007 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3s 1S → 1s2.2s.9p 1P* | Виміряно | NIST | |
| 525.584 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4s 2S → 1s2.6p 2P* | Виміряно | NIST | |
| 525.59 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4s 2S → 1s2.6p 2P* | Виміряно | NIST | |
| 526.1527 нм | 5 | Be I | emission | 1s2.2s.5p 1P* → 1s2.2p.3p 1P | Виміряно | NIST | |
| 527.027 нм | 810 | Be II | emission | 1s2.3p 2P* → 1s2.4s 2S | Виміряно | NIST | |
| 527.0806 нм | 960 | Be II | emission | 1s2.3p 2P* → 1s2.4s 2S | Виміряно | NIST | |
| 536.552 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3s 1S → 1s2.2s.8p 1P* | Виміряно | NIST | |
| 540.299 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.7f 2F* | Виміряно | NIST | |
| 540.306 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.7f 2F* | Виміряно | NIST | |
| 540.306 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.7f 2F* | Виміряно | NIST | |
| 541.018 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.7g 2G | Виміряно | NIST | |
| 541.022 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.7g 2G | Виміряно | NIST | |
| 541.022 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.7g 2G | Виміряно | NIST | |
| 541.612 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.7s 2S | Виміряно | NIST | |
| 541.636 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.7s 2S | Виміряно | NIST | |
| 544.069 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.7p 2P* | Виміряно | NIST | |
| 544.073 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.7p 2P* | Виміряно | NIST | |
| 544.076 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.7p 2P* | Виміряно | NIST | |
| 554.648 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3s 1S → 1s2.2s.7p 1P* | Виміряно | NIST | |
| 555.881 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.5p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 555.881 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.5p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 555.881 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.5p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 585.7012 нм | 3 | Be I | emission | 1s2.2s.3s 1S → 1s2.2s.6p 1P* | Виміряно | NIST | |
| 593.771 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2p2 1D → 1s2.2s.9p 1P* | Виміряно | NIST | |
| 608.58 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2p2 1D → 1s2.2s.8p 1P* | Виміряно | NIST | |
| 608.6 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2p2 1D → 1s2.2s.8p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 614.2 нм | Немає даних | Be III | emission | 1s.2s 1S → 1s.2p 1P* | Виміряно | NIST | |
| 622.9108 нм | 3 | Be I | emission | 1s2.2p2 1D → 1s2.2s.7f 1F* | Виміряно | NIST | |
| 627.9418 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.6d 2D | Виміряно | NIST | |
| 627.9737 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.6d 2D | Виміряно | NIST | |
| 627.9737 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.6d 2D | Виміряно | NIST | |
| 631.966 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2p2 1D → 1s2.2s.7p 1P* | Виміряно | NIST | |
| 632.145 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2p2 1D → 1s2.2s.7p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 647.3536 нм | 7 | Be I | emission | 1s2.2s.3s 1S → 1s2.2s.5p 1P* | Виміряно | NIST | |
| 654.784 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.6f 2F* | Виміряно | NIST | |
| 654.793 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.6f 2F* | Виміряно | NIST | |
| 654.794 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.6f 2F* | Виміряно | NIST | |
| 655.833 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.6g 2G | Виміряно | NIST | |
| 655.839 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.6g 2G | Виміряно | NIST | |
| 655.839 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4f 2F* → 1s2.6g 2G | Виміряно | NIST | |
| 656.4519 нм | 9 | Be I | emission | 1s2.2p2 1D → 1s2.2s.6f 1F* | Виміряно | NIST | |
| 663.633 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.6p 2P* | Виміряно | NIST | |
| 663.644 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.6p 2P* | Виміряно | NIST | |
| 663.644 нм | Немає даних | Be II | emission | 1s2.4d 2D → 1s2.6p 2P* | Виміряно | NIST | |
| 671.15 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.9d 3D | Виміряно | NIST | |
| 671.21 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.9d 3D | Виміряно | NIST | |
| 671.23 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.9d 3D | Виміряно | NIST | |
| 671.25 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.9d 3D | Виміряно | NIST | |
| 671.25 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.9d 3D | Виміряно | NIST | |
| 671.26 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.9d 3D | Виміряно | NIST | |
| 672.598 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2p2 1D → 1s2.2s.6p 1P* | Виміряно | NIST | |
| 675.675 нм | 10 | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.6s 2S | Виміряно | NIST | |
| 675.712 нм | 110 | Be II | emission | 1s2.4p 2P* → 1s2.6s 2S | Виміряно | NIST | |
| 678.656 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.4p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 678.656 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.4p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 678.656 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3s 3S → 1s2.2s.4p 3P* | Виміряно | NIST | |
| 688.422 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.8d 3D | Виміряно | NIST | |
| 688.422 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.8d 3D | Виміряно | NIST | |
| 688.423 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.8d 3D | Виміряно | NIST | |
| 688.44 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.8d 3D | Виміряно | NIST | |
| 688.44 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.8d 3D | Виміряно | NIST | |
| 688.444 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.8d 3D | Виміряно | NIST | |
| 698.273 нм | 13 | Be I | emission | 1s2.2s.2p 1P* → 1s2.2p2 1D | Виміряно | NIST | |
| 704.98 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.8s 3S | Виміряно | NIST | |
| 704.98 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.8s 3S | Виміряно | NIST | |
| 705 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.8s 3S | Виміряно | NIST | |
| 715.44 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.7d 3D | Виміряно | NIST | |
| 715.44 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.7d 3D | Виміряно | NIST | |
| 715.441 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.7d 3D | Виміряно | NIST | |
| 715.459 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.7d 3D | Виміряно | NIST | |
| 715.46 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.7d 3D | Виміряно | NIST | |
| 715.465 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.7d 3D | Виміряно | NIST | |
| 720.9132 нм | 13 | Be I | emission | 1s2.2p2 1D → 1s2.2s.5f 1F* | Виміряно | NIST | |
| 720.928 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2p2 1D → 1s2.2s.5f 3F* | Виміряно | NIST | |
| 730.819 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 1P* → 1s2.2s.9d 1D | Виміряно | NIST | |
| 740.1196 нм | 210 | Be II | emission | 1s2.4s 2S → 1s2.5p 2P* | Виміряно | NIST | |
| 740.1431 нм | 110 | Be II | emission | 1s2.4s 2S → 1s2.5p 2P* | Виміряно | NIST | |
| 743.44 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.7s 3S | Виміряно | NIST | |
| 743.44 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.7s 3S | Виміряно | NIST | |
| 743.46 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.7s 3S | Виміряно | NIST | |
| 744.887 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 1P* → 1s2.2s.9s 1S | Виміряно | NIST | |
| 749.842 нм | Немає даних | Be I | emission | 1s2.2s.3p 1P* → 1s2.2s.8d 1D | Виміряно | NIST |
Розширені дані про властивості
Ковалентні радіуси (розширені дані)
- Ковалентний радіус (за Пююккьо)
- 102 pm
- Ковалентний радіус (за Пююккьо, подвійний зв’язок)
- 90 pm
- Ковалентний радіус (за Пююккьо, потрійний зв’язок)
- 85 pm
- Ковалентний радіус (за Бреггом)
- 115 pm
Радіуси ван дер Ваальса
- Truhlar
- 153 pm
- Batsanov
- 190 pm
- Alvarez
- 198 pm
- UFF
- 274,5 pm
- MM3
- 223 pm
Атомні та металічні радіуси
- Атомний радіус (за Рамом)
- 219 pm
- Металічний радіус (C12)
- 112 pm
Шкали нумерації
- Mendeleev
- 75
- Pettifor
- 77
- Glawe
- 77
Шкали електронегативності
- Ghosh
- 0
- Miedema
- 5
- Gunnarsson–Lundqvist
- 4
- Robles–Bartolotti
- 4
Поляризовність і дисперсія
- Дипольна поляризовність
- 37,74 a.u.
- Дипольна поляризовність (невизначеність)
- 0,03 a.u.
- C₆
- 227 Ha·Bohr6
- C₆ (Gould–Bučko)
- 214 Ha·Bohr6
Параметри Мідеми
- Молярний об’єм за Мідемою
- 4,9 cm3/mol
- Електронна густина за Мідемою
- 5
Ризики постачання та економіка
- Концентрація виробництва
- 85
- Відносний ризик постачання
- 8
- Політична стабільність (найбільший виробник)
- 57
Фазові переходи та алотропні модифікації
| Температура плавлення | 1560,15 K |
| Температура кипіння | 2741,15 K |
| Критична точка (температура) | 5205,15 K |
Категорії ступенів окиснення
Розширені довідкові дані
Сталі екранування (2)
| n | Орбіталь | σ |
|---|---|---|
| 1 | s | 0,3152 |
| 2 | s | 2,088 |
Докладні дані про кристалічні радіуси (3)
| Заряд | CN | Спін | rcrystal (pm) | Походження |
|---|---|---|---|---|
| 2 | III | 30 | ||
| 2 | IV | 41 | ||
| 2 | VI | 59 | calculated, |
Типи розпаду ізотопів (19)
| Ізотоп | Режим | Інтенсивність |
|---|---|---|
| 5 | p | — |
| 6 | 2p | 100% |
| 7 | EC | 100% |
| 8 | A | 100% |
| 10 | B- | 100% |
| 11 | B- | 100% |
| 11 | B-A | 3,3% |
| 11 | B-p | 0% |
| 11 | B-n | — |
| 12 | B- | 100% |
Фактори розсіяння рентгенівського випромінювання (724)
| Енергія (eV) | f₁ | f₂ |
|---|---|---|
| 10 | — | 1,70333 |
| 10,1617 | — | 1,71802 |
| 10,3261 | — | 1,73284 |
| 10,4931 | — | 1,74778 |
| 10,6628 | — | 1,75737 |
| 10,8353 | — | 1,76678 |
| 11,0105 | — | 1,77624 |
| 11,1886 | — | 1,78574 |
| 11,3696 | — | 1,7953 |
| 11,5535 | — | 1,80306 |
Додаткові дані
Estimated Crustal Abundance
The estimated element abundance in the earth's crust.
2.8 milligrams per kilogram
Джерела (1)
- [5] Beryllium https://education.jlab.org/itselemental/ele004.html
Estimated Oceanic Abundance
The estimated element abundance in the earth's oceans.
5.6×10-6 milligrams per liter
Джерела (1)
- [5] Beryllium https://education.jlab.org/itselemental/ele004.html
Sources
Sources of this element.
Beryllium is found in some 30 mineral species, the most important of which are bertrandite, beryl, chrysoberyl, and phenacite. Aquamarine and emerald are precious forms of beryl. Beryl and bertrandite are the most important commercial sources of the element and its compounds. Most of the metal is now prepared by reducing beryllium fluoride with magnesium metal. Beryllium metal did not become readily available to industry until 1957.
Джерела (1)
- [6] Beryllium https://periodic.lanl.gov/4.shtml
Джерела
(9)
Data deposited in or computed by PubChem
The half-life and atomic mass data was provided by the Atomic Mass Data Center at the International Atomic Energy Agency.
Element data are cited from the Atomic weights of the elements (an IUPAC Technical Report). The IUPAC periodic table of elements can be found at https://iupac.org/what-we-do/periodic-table-of-elements/. Additional information can be found within IUPAC publication doi:10.1515/pac-2015-0703 Copyright © 2020 International Union of Pure and Applied Chemistry.
The information are cited from Pure Appl. Chem. 2018; 90(12): 1833-2092, https://doi.org/10.1515/pac-2015-0703.
Thomas Jefferson National Accelerator Facility (Jefferson Lab) is one of 17 national laboratories funded by the U.S. Department of Energy. The lab's primary mission is to conduct basic research of the atom's nucleus using the lab's unique particle accelerator, known as the Continuous Electron Beam Accelerator Facility (CEBAF). For more information visit https://www.jlab.org/
The periodic table at the LANL (Los Alamos National Laboratory) contains basic element information together with the history, source, properties, use, handling and more. The provenance data may be found from the link under the source name.
The periodic table contains NIST's critically-evaluated data on atomic properties of the elements. The provenance data that include data for atomic spectroscopy, X-ray and gamma ray, radiation dosimetry, nuclear physics, and condensed matter physics may be found from the link under the source name. Ref: https://www.nist.gov/pml/atomic-spectra-database
This section provides all form of data related to element Beryllium.
The element property data was retrieved from publications.