Fluorine (F)
halogenGas
প্রমিত পারমাণবিক ওজন
18.998403 uইলেকট্রন বিন্যাস
[He] 2s2 2p5গলনাঙ্ক
-219.62 °Cস্ফুটনাঙ্ক
-188.12 °Cঘনত্ব
1.696 kg/m³জারণ অবস্থা
-1তড়িৎঋণাত্মকতা (পাউলিং)
3.98আয়নীকরণ শক্তি (প্রথম)
17.42282 eVআবিষ্কারের বছর
1886পারমাণবিক ব্যাসার্ধ
50 pmবিস্তারিত
Fluorine is the lightest halogen and the most electronegative chemical element. In elemental form it occurs as diatomic fluorine, F₂, a highly reactive oxidizing gas. Natural fluorine is almost entirely the stable isotope ¹⁹F and is found in minerals rather than as the free element. Its chemistry underlies fluoride minerals, uranium enrichment chemistry, fluoropolymers, refrigerants, many agrochemicals, and a large share of modern medicinal chemistry.
Fluorine is the most electronegative and reactive of all elements. It is a pale yellow, corrosive gas, which reacts with most organic and inorganic substances. Finely divided metals, glass, ceramics, carbon, and even water burn in fluorine with a bright flame.
Until World War II, there was no commercial production of elemental fluorine. The nuclear bomb project and nuclear energy applications, however, made it necessary to produce large quantities.
The name derives from the Latin fluere for "flow" or "flux" because fluorite (CaF2) was used as a flux in metallurgy owing to its low melting point. It was discovered in hydrofluoric acid by the Swedish pharmacist and chemist Carl-Wilhelm Scheele in 1771, but it was not isolated until 1886 by the French pharmacist and chemist Henri Moissan.
Fluorine is the most reactive of all elements and no chemical substance is capable of freeing fluorine from any of its compounds. For this reason, fluorine does not occur free in nature and was extremely difficult for scientists to isolate. The first recorded use of a fluorine compound dates to around 1670 to a set of instructions for etching glass that called for Bohemian emerald (CaF2). Chemists attempted to identify the material that was capable of etching glass and George Gore was able to produce a small amount of fluorine through an electrolytic process in 1869. Unknown to Gore, fluorine gas explosively combines with hydrogen gas. That is exactly what happened in Gore's experiment when the fluorine gas that formed on one electrode combined with the hydrogen gas that formed on the other electrode. Ferdinand Frederic Henri Moissan, a French chemist, was the first to successfully isolate fluorine in 1886. He did this through the electrolysis of potassium fluoride (KF) and hydrofluoric acid (HF). He also completely isolated the fluorine gas from the hydrogen gas and he built his electrolysis device completely from platinum. His work was so impressive that he was awarded the Nobel Prize for chemistry in 1906. Today, fluorine is still produced through the electrolysis of potassium fluoride and hydrofluoric acid as well as through the electrolysis of molten potassium acid fluoride (KHF2).
From the Latin and French fluere: flow or flux. In 1529, Georigius Agricola described the use of fluorspar as a flux, and as early as 1670 Schwandhard found that glass was etched when exposed to fluorspar treated with acid. Scheele and many later investigators, including Davy, Gay-Lussac, Lavoisier, and Thenard, experimented with hydrofluoric acid, some experiments ending tragically.
The element was finally isolated in 1866 by Moissan after nearly 74 years of continuous effort.
Pure fluorine, F₂, is a pale yellow gas at ordinary temperature and pressure. It condenses to a yellow liquid and freezes to a pale solid at low temperature. The gas has a sharp, irritating odor, but odor is not a safe means of detection.
Elemental fluorine, F₂, is used mainly where its extreme oxidizing and fluorinating power is required, including preparation of uranium hexafluoride, UF₆, for isotope separation and manufacture of some specialty inorganic fluorides. Much larger practical importance lies in fluorine-containing compounds. Fluoropolymers such as polytetrafluoroethylene, (C₂F₄)ₙ, are used for chemically resistant coatings, seals, membranes, and electrical insulation. Fluoride compounds are used in glass etching, aluminum production, dental products, pharmaceuticals, and crop-protection chemicals.
Fluorine is added to city water supplies in the proportion of about one part per million to help prevent tooth decay. Sodium fluoride (NaF), stannous(II) fluoride (SnF2) and sodium monofluorophosphate (Na2PO3F) are all fluorine compounds added to toothpaste, also to help prevent tooth decay. Hydrofluoric acid (HF) is used to etch glass, including most of the glass used in light bulbs. Uranium hexafluoride (UF6) is used to separate isotopes of uranium. Crystals of calcium fluoride (CaF2), also known as fluorite and fluorspar, are used to make lenses to focus infrared light. Fluorine joins with carbon to form a class of compounds known as fluorocarbons. Some of these compounds, such as dichlorodifluoromethane (CF2Cl2), were widely used in air conditioning and refrigeration systems and in aerosol spray cans, but have been phased out due to the damage they were causing to the earth's ozone layer.
Fluorine and its compounds are used in producing uranium (from the hexafluoride) and more than 100 commercial fluorochemicals, including many high-temperature plastics. Hydrofluoric acid etches glass of light bulbs. Fluorochlorohydrocarbons are extensively used in air conditioning and refrigeration.
The presence of fluorine as a soluble fluoride in drinking water to the extent of 2 ppm may cause mottled enamel in teeth when used by children acquiring permanent teeth; in smaller amounts, however, fluoride helps prevent dental cavities.
Elemental fluorine has been studied as a rocket propellant as it has an exceptionally high specific impulse value.
Isotopes in Medicine
18F is a radioactive fluorine isotope that is used in an 18F-FDG compound (18F-labeled, fluoro-deoxy glucose) for imaging the organs, bones, tissues, and brain of the body with a technique called positron emission topography (PET). The 18F-FDG compound is injected and the isotopically labeled glucose is consumed by any cell requiring glucose as a source of energy [98] R. Krebs. The History And Use Of Our Earth’s Chemical Elements: A Reference Guide, 2nd ed. Greenwood Press, Westport, CT (2006)., [99] World Nuclear Association. Radioisotopes in Medicine, World Nuclear Association (2014), Feb. 23; http://www.world-nuclear.org/info/inf55.html..
– 18F emits positrons that collect in tissue and interact with regular negative electrons when injected into the body. The positrons and electrons annihilate each other, producing two gamma rays that are emitted in opposite directions. The radiation is detected on a PET camera, which generates a picture of the body part being examined (Fig. IUPAC.9.1).
–Because 18F has a short half-life of about 110 min, there is little chance of radiation damage to the patient.
Fluorine most commonly has oxidation state −1 in compounds, as in hydrogen fluoride, HF, sodium fluoride, NaF, and calcium fluoride, CaF₂. With highly electropositive elements it forms ionic fluorides; with nonmetals it forms strongly covalent fluorides such as sulfur hexafluoride, SF₆, and silicon tetrafluoride, SiF₄. Fluorine can also form interhalogen compounds, including chlorine trifluoride, ClF₃. Oxygen fluorides such as oxygen difluoride, OF₂, are unusual because fluorine is assigned the negative oxidation state while oxygen is positive.
One hypothesis says that fluorine can be substituted for hydrogen wherever it occurs in organic compounds, which could lead to an astronomical number of new fluorine compounds. Compounds of fluorine with rare gases have now been confirmed in fluorides of xenon, radon, and krypton.
See more information at the Fluorine compound page.
Elemental fluorine, F₂, is acutely toxic, corrosive, and a powerful oxidizer that can ignite or violently react with many materials. Hydrogen fluoride, HF, is especially hazardous because it penetrates tissue and binds calcium and magnesium ions. Soluble fluorides can be toxic at sufficient dose, while controlled low concentrations of fluoride ion, F⁻, have dental uses. Some fluorinated gases are chemically stable but may be asphyxiants or potent greenhouse gases.
Elemental fluorine and the fluoride ion are highly toxic. The free element has a characteristic pungent odor, detectable in concentrations as low as 20 ppb, which is below the safe working level. The recommended maximum allowable concentration for a daily 8-hour time-weighted exposure is 1 ppm.
Fluorine enters the environment chiefly as fluoride in minerals, volcanic emissions, sea spray, industrial releases, and weathering products. Fluoride ion, F⁻, binds to calcium, aluminum, and iron phases and can be immobilized in soils or sediments, though mobility depends strongly on pH and water chemistry. Elevated natural or industrial fluoride in groundwater can affect teeth, bones, livestock, and vegetation. Persistent organofluorine compounds vary widely in mobility and degradation behavior.
Fluorine supply is based primarily on mining fluorite, CaF₂, with smaller contributions from fluorapatite-bearing phosphate rock processed in fertilizer production. Hydrogen fluoride, HF, is the central industrial intermediate, made by treating fluorite with sulfuric acid, H₂SO₄. Direct production and transport of elemental fluorine are limited by its reactivity, so it is commonly generated or consumed close to the point of use. Demand is tied to aluminum smelting, chemical manufacturing, electronics materials, fluoropolymers, and regulated refrigerant transitions. Recycling is important for some fluorinated materials but is often chemically or economically difficult.
Found in the minerals fluorite (CaF2) and cryolite(Na3AlF6). Electrolysis of hydrofluoric acid (HF) or potassium acid fluoride (KHF2) is the only practical method of commercial production.
Fluorine is relatively rare in the cosmos compared with neighboring light elements. It is thought to be made in several settings, including helium-burning regions of evolved stars, neutrino-driven processes in core-collapse supernovae, and possibly novae, with their relative contributions still studied. In planetary materials it is concentrated into minerals, melts, and volatile-bearing phases rather than remaining as free F₂.
- Fluorine has only one stable natural isotope, ¹⁹F.
- Fluorite, CaF₂, gave the element its name through its use as a flux.
- Glass etching by hydrogen fluoride, HF, reflects the strength of silicon-fluorine bonding.
- Polytetrafluoroethylene, (C₂F₄)ₙ, was discovered accidentally during refrigerant research.
- Uranium hexafluoride, UF₆, is volatile enough for gas-phase isotope enrichment.
- Fluoride minerals can preserve fluorine in rocks over geologic time.
ছবি
ধর্ম
ভৌত
- পারমাণবিক ব্যাসার্ধ (পরীক্ষালব্ধ)
- 50 pm সব মৌলের পারমাণবিক ব্যাসার্ধ (পরীক্ষালব্ধ) তুলনা করুন →
- সমযোজী ব্যাসার্ধ
- 57 pm সব মৌলের সমযোজী ব্যাসার্ধ তুলনা করুন →
- ভ্যান ডার ওয়ালস ব্যাসার্ধ
- 135 pm সব মৌলের ভ্যান ডার ওয়ালস ব্যাসার্ধ তুলনা করুন →
- ঘনত্ব
- 1.696 kg/m³ সব মৌলের ঘনত্ব তুলনা করুন →
- মোলার আয়তন
- 0.0171 L/mol
- STP-তে দশা
- গ্যাস সব মৌলের STP-তে দশা তুলনা করুন →
- গলনাঙ্ক
- -219.62 °C সব মৌলের গলনাঙ্ক তুলনা করুন →
- স্ফুটনাঙ্ক
- -188.12 °C সব মৌলের স্ফুটনাঙ্ক তুলনা করুন →
- তাপ পরিবাহিতা
- 0.028 W/(m·K) সব মৌলের তাপ পরিবাহিতা তুলনা করুন →
- আপেক্ষিক তাপধারণ ক্ষমতা
- 0.824 J/(g·K) সব মৌলের আপেক্ষিক তাপধারণ ক্ষমতা তুলনা করুন →
- মোলার তাপধারণ ক্ষমতা
- 31.304 J/(mol·K) সব মৌলের মোলার তাপধারণ ক্ষমতা তুলনা করুন →
- স্ফটিক গঠন
- মনোক্লিনিক সব মৌলের স্ফটিক গঠন তুলনা করুন →
রাসায়নিক
- তড়িৎঋণাত্মকতা (পাউলিং)
- 3.98 সব মৌলের তড়িৎঋণাত্মকতা (পাউলিং) তুলনা করুন →
- তড়িৎঋণাত্মকতা (অ্যালেন)
- 4.193
- ইলেকট্রন আসক্তি
- 3.4011 eV
- আয়নীকরণ শক্তি (প্রথম)
- 17.42282 eV সব মৌলের আয়নীকরণ শক্তি (প্রথম) তুলনা করুন →
- আয়নীকরণ শক্তি (দ্বিতীয়)
- 34.97093 eV সব মৌলের আয়নীকরণ শক্তি (দ্বিতীয়) তুলনা করুন →
- আয়নীকরণ শক্তি (তৃতীয়)
- 62.708196 eV সব মৌলের আয়নীকরণ শক্তি (তৃতীয়) তুলনা করুন →
- আয়নীকরণ শক্তি (চতুর্থ)
- 87.1753 eV সব মৌলের আয়নীকরণ শক্তি (চতুর্থ) তুলনা করুন →
- আয়নীকরণ শক্তি (পঞ্চম)
- 114.249393 eV সব মৌলের আয়নীকরণ শক্তি (পঞ্চম) তুলনা করুন →
- জারণ অবস্থা
- -1 সব মৌলের জারণ অবস্থা তুলনা করুন →
- যোজ্যতা ইলেকট্রন
- 7 সব মৌলের যোজ্যতা ইলেকট্রন তুলনা করুন →
- ইলেকট্রন বিন্যাস
- [He] 2s2 2p5
তাপগতীয়
- ত্রৈধ বিন্দু (তাপমাত্রা)
- -219.67 °C
- ত্রৈধ বিন্দু (চাপ)
- 9e+4 Pa
- সংকট বিন্দু (তাপমাত্রা)
- -128.74 °C
- সংকট বিন্দু (চাপ)
- 5.1724e+6 Pa
- গলন তাপ
- 0.0026429 eV সব মৌলের গলন তাপ তুলনা করুন →
- বাষ্পীভবন তাপ
- 0.06778256 eV সব মৌলের বাষ্পীভবন তাপ তুলনা করুন →
- পরমাণুকরণ তাপ
- 0.8228222 eV
- পরমাণুকরণ এনথালপি
- 0.82225216 eV
নিউক্লীয়
- প্রোটন
- 9 সব মৌলের প্রোটন তুলনা করুন →
- নিউট্রন
- 10 সব মৌলের নিউট্রন তুলনা করুন →
- পরিচিত আইসোটোপ
- 19 সব মৌলের পরিচিত আইসোটোপ তুলনা করুন →
- স্থিতিশীল আইসোটোপ
- 1 সব মৌলের স্থিতিশীল আইসোটোপ তুলনা করুন →
- সবচেয়ে স্থিতিশীল আইসোটোপ
- F-19
- আবিষ্কারের বছর
- 1886
প্রাচুর্য
- প্রাচুর্য (ভূত্বক)
- 585 mg/kg সব মৌলের প্রাচুর্য (ভূত্বক) তুলনা করুন →
- প্রাচুর্য (মহাসাগর)
- 1.3 mg/L সব মৌলের প্রাচুর্য (মহাসাগর) তুলনা করুন →
স্ফটিক গঠন
তথ্য নেই
ইলেকট্রনীয় গঠন
- প্রতি শক্তিস্তরে ইলেকট্রন
- 2, 7 সব মৌলের প্রতি শক্তিস্তরে ইলেকট্রন তুলনা করুন →
শনাক্তকারী
- CAS নম্বর
- 7782-41-4 সব মৌলের CAS নম্বর তুলনা করুন →
- টার্ম প্রতীক
- 2P°3/2
- InChI
- InChI=1S/F
- InChI Key
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N
ইলেকট্রন বিন্যাস পরিমাপকৃত
F: 2s² 2p⁵[He] 2s² 2p⁵1s² 2s² 2p⁵পারমাণবিক মডেল
আইসোটোপভেদে নিউট্রনের সংখ্যা, ভর ও স্থিতিশীলতা পরিবর্তিত হয় — নিরপেক্ষ পরমাণুর ইলেকট্রন বিন্যাস নয়।
পারমাণবিক মডেলের রূপরেখা, প্রকৃত অনুপাতে নয়।
পারমাণবিক স্বতন্ত্র পরিচয়চিহ্ন
নিঃসরণ / শোষণ বর্ণালি
আইসোটোপের বণ্টন
| ভরসংখ্যা | পারমাণবিক ভর (u) | প্রাকৃতিক প্রাচুর্য | অর্ধায়ু |
|---|---|---|---|
| 19 স্থিতিশীল | ১৮.৯৯৮৪০৩১৬২৭৩ ± ০.০০০০০০০০০৯২ | 100.0000% | স্থিতিশীল |
দশা / অবস্থা
কারণ: স্ফুটনাঙ্কের (-188.12 °C) চেয়ে 213.1 °C বেশি
রূপরেখামূলক, প্রকৃত অনুপাতে নয়
দশান্তর বিন্দু
দশান্তর শক্তি
গলনাঙ্কে 1 mol গলাতে প্রয়োজনীয় শক্তি
স্ফুটনাঙ্কে 1 mol বাষ্পীভূত করতে প্রয়োজনীয় শক্তি
ঘনত্ব
প্রমিত শর্তে
বর্তমান T-তে আদর্শ গ্যাস সূত্রের মাধ্যমে আনুমানিক নির্ণীত
উন্নত
পারমাণবিক বর্ণালি
সংরক্ষিত বর্ণালিরেখার তথ্য ?
| আয়ন | আধান | মোট রেখা | অবস্থান্তরের সম্ভাবনা | স্তরের নির্দেশক |
|---|---|---|---|---|
| F I | 0 | 162 | 120 | 162 |
| F II | +1 | 150 | 67 | 67 |
| F III | +2 | 141 | 34 | 34 |
| F IV | +3 | 75 | 30 | 30 |
| F V | +4 | 513 | 472 | 472 |
| F VI | +5 | 269 | 269 | 269 |
| F VII | +6 | 470 | 439 | 470 |
| F VIII | +7 | 128 | 128 | 128 |
| F IX | +8 | 137 | 137 | 137 |
সংরক্ষিত শক্তিস্তর তথ্য ?
| আয়ন | আধান | স্তর |
|---|---|---|
| F I | 0 | 303 |
| F II | +1 | 291 |
| F III | +2 | 278 |
| F IV | +3 | 170 |
| F V | +4 | 138 |
| F VI | +5 | 100 |
| F VII | +6 | 77 |
| F VIII | +7 | 151 |
| F IX | +8 | 149 |
আয়নিক ব্যাসার্ধ
| আধান | সমন্বয় | স্পিন | ব্যাসার্ধ |
|---|---|---|---|
| -1 | 2 | তথ্য নেই | 128.5 pm |
| -1 | 3 | তথ্য নেই | 130 pm |
| -1 | 4 | তথ্য নেই | 131 pm |
| -1 | 6 | তথ্য নেই | 133 pm |
| +7 | 6 | তথ্য নেই | 8 pm |
যৌগ
আইসোটোপ (1)
| ভরসংখ্যা | পারমাণবিক ভর (u) | প্রাকৃতিক প্রাচুর্য | অর্ধায়ু | ক্ষয়প্রণালি | |
|---|---|---|---|---|---|
| 19 স্থিতিশীল | ১৮.৯৯৮৪০৩১৬২৭৩ ± ০.০০০০০০০০০৯২ | 100.0000% | স্থিতিশীল | stable |
বর্ণালিরেখা
| তরঙ্গদৈর্ঘ্য (nm) | তীব্রতা | আয়নীকরণ পর্যায় | ধরন | অবস্থান্তর | নির্ভুলতা | উৎস | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 383.22 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 2F* → 2p2.(1D).3d 2D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 384.7086 nm | 270 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3s 5S* → 2s2.2p3.(4S*).3p 5P | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 384.9985 nm | 260 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3s 5S* → 2s2.2p3.(4S*).3p 5P | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 385.1668 nm | 250 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3s 5S* → 2s2.2p3.(4S*).3p 5P | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 385.69 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2s.3s 1S → 1s2.2s.3p 3P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 385.712 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2p2.(3P).3p 4S* → 2p2.(3P).3d 4P | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 387.086 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2p2.(3P).3p 4S* → 2p2.(3P).3d 4P | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 388.508 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2p2.(3P).3s 4P → 2s.2p.(3P*).4s 4P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 388.6 nm | তথ্য নেই | F VII | emission | 1s2.7f 2F* → 1s2.8g 2G | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 388.6 nm | তথ্য নেই | F VII | emission | 1s2.7f 2F* → 1s2.8g 2G | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 388.6 nm | তথ্য নেই | F VII | emission | 1s2.7f 2F* → 1s2.8g 2G | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 389.2 nm | তথ্য নেই | F VII | emission | 1s2.7f 2F* → 1s2.8d 2D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 389.2 nm | তথ্য নেই | F VII | emission | 1s2.7f 2F* → 1s2.8d 2D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 389.2 nm | তথ্য নেই | F VII | emission | 1s2.7f 2F* → 1s2.8d 2D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 390.229 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2p2.(3P).3p 4S* → 2p2.(3P).3d 4P | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 390.45 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2p2.(3P).3s 4P → 2s.2p.(3P*).4s 4P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 394.51 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2p2.(1D).3p 2D* → 2p2.(1D).3d 2F | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 394.51 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2p2.(1D).3p 2D* → 2p2.(1D).3d 2F | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 394.51 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2p2.(1D).3p 2D* → 2p2.(1D).3d 2F | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 394.518 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2p2.(3P).3s 4P → 2s.2p.(3P*).4s 4P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 394.736 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2p2.(3P).3s 4P → 2s.2p.(3P*).4s 4P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 396.08 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2p2.(3P).3s 4P → 2s.2p.(3P*).4s 4P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 396.113 nm | তথ্য নেই | F IV | emission | 2s2.2p2 3P → 2s2.2p2 1D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 399.6 nm | তথ্য নেই | F VII | emission | 1s2.7d 2D → 1s2.8p 2P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 399.6 nm | তথ্য নেই | F VII | emission | 1s2.7d 2D → 1s2.8p 2P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 399.6 nm | তথ্য নেই | F VII | emission | 1s2.7d 2D → 1s2.8p 2P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 399.692 nm | তথ্য নেই | F IV | emission | 2s2.2p2 3P → 2s2.2p2 1D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 399.692 nm | তথ্য নেই | F IV | emission | 2s2.2p2 3P → 2s2.2p2 1D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 400.26 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2p2.(3P).3s 4P → 2s.2p.(3P*).4s 4P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 400.942 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2p2.(3P).3s 4P → 2s.2p.(3P*).4s 4P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 402.4726 nm | 240 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3s 3S* → 2s2.2p3.(4S*).3p 3P | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 402.501 nm | 220 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3s 3S* → 2s2.2p3.(4S*).3p 3P | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 402.5491 nm | 230 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3s 3S* → 2s2.2p3.(4S*).3p 3P | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 405.99 nm | তথ্য নেই | F IV | emission | 2s2.2p2 3P → 2s2.2p2 1D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 405.99 nm | তথ্য নেই | F IV | emission | 2s2.2p2 3P → 2s2.2p2 1D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 410.3075 nm | 190 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3p 3P → 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 410.3213 nm | 170 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3p 3P → 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 410.3506 nm | 200 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3p 3P → 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 410.3713 nm | 180 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3p 3P → 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 410.387 nm | 170 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3p 3P → 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 410.4008 nm | তথ্য নেই | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3p 3P → 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 410.916 nm | 170 | F II | emission | 2s2.2p3.(2D*).3s 3D* → 2s2.2p3.(2D*).3p 3D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 411.03 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2s.3p 1P* → 1s2.2s.3d 3D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 411.272 nm | তথ্য নেই | F II | emission | 2s2.2p3.(2D*).3s 3D* → 2s2.2p3.(2D*).3p 3D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 411.2969 nm | তথ্য নেই | F II | emission | 2s2.2p3.(2D*).3s 3D* → 2s2.2p3.(2D*).3p 3D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 411.44 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2s.3p 1P* → 1s2.2s.3d 3D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 411.6535 nm | 160 | F II | emission | 2s2.2p3.(2D*).3s 3D* → 2s2.2p3.(2D*).3p 3D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 411.699 nm | তথ্য নেই | F II | emission | 2s2.2p3.(2D*).3s 3D* → 2s2.2p3.(2D*).3p 3D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 411.8752 nm | তথ্য নেই | F II | emission | 2s2.2p3.(2D*).3s 3D* → 2s2.2p3.(2D*).3p 3D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 411.9207 nm | 150 | F II | emission | 2s2.2p3.(2D*).3s 3D* → 2s2.2p3.(2D*).3p 3D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 415.775 nm | তথ্য নেই | F II | emission | 2s2.2p4 1D → 2s2.2p4 1S | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 423.3 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 424.76 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 426.19 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2s.2p.(3P*).3p 2D → 2s.2p.(3P*).3d 2D* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 426.28 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2s.3s 1S → 1s2.2s.3p 1P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 427.32 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 427.94 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2s.2p.(3P*).3p 2D → 2s.2p.(3P*).3d 2D* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 429.9165 nm | 200 | F II | emission | 2s2.2p3.(2D*).3s 1D* → 2s2.2p3.(2D*).3p 1F | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 432.27 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 433.94 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 435.28 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2s.2p.(3P*).3p 2D → 2s.2p.(3P*).3d 2D* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 437.11 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2s.2p.(3P*).3p 2D → 2s.2p.(3P*).3d 2D* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 439.05 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 444.6527 nm | 160 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* → 2s2.2p3.(4S*).4f 3F | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 444.6689 nm | তথ্য নেই | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* → 2s2.2p3.(4S*).4f 3F | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 444.6721 nm | 170 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* → 2s2.2p3.(4S*).4f 3F | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 444.7117 nm | তথ্য নেই | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* → 2s2.2p3.(4S*).4f 3F | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 444.7148 nm | তথ্য নেই | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* → 2s2.2p3.(4S*).4f 3F | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 444.7188 nm | 180 | F II | emission | 2s2.2p3.(4S*).3d 3D* → 2s2.2p3.(4S*).4f 3F | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 455.99 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2p.3p 1D → 1s2.2p.3d 1F* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 456.45 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.3d 3D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 457.45 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.3d 3D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 457.96 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.3d 3D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 459.81 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.3d 3D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 460.57 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.3d 3D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 461.08 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2s.3p 3P* → 1s2.2s.3d 3D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 463.41 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2p.4p 1P → 1s2.2p.4d 1P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 478.945 nm | তথ্য নেই | F II | emission | 2s2.2p4 3P → 2s2.2p4 1D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 478.945 nm | তথ্য নেই | F II | emission | 2s2.2p4 3P → 2s2.2p4 1D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 486.899 nm | তথ্য নেই | F II | emission | 2s2.2p4 3P → 2s2.2p4 1D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 486.899 nm | তথ্য নেই | F II | emission | 2s2.2p4 3P → 2s2.2p4 1D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 490.456 nm | তথ্য নেই | F II | emission | 2s2.2p4 3P → 2s2.2p4 1D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 507.4 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 4D* → 2p2.(3P).3d 4P | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 507.86 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 4D* → 2p2.(3P).3d 4P | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 509.78 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 4D* → 2p2.(3P).3d 4P | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 510.25 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 4D* → 2p2.(3P).3d 4P | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 511.78 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 4D* → 2p2.(3P).3d 4P | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 515.72 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 4D* → 2p2.(3P).3d 4P | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 517.29 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 4D* → 2p2.(3P).3d 4P | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 517.4 nm | তথ্য নেই | F VIII | emission | 1s.3s 3S → 1s.3p 3P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 522.95 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4d 4D* → 2p2.(3P).3d 4P | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 525.1 nm | তথ্য নেই | F VIII | emission | 1s.3s 3S → 1s.3p 3P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 528.03 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2p2.(1D).3p 2D* → 2p2.(1D).3d 2D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 528.03 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2p2.(1D).3p 2D* → 2p2.(1D).3d 2D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 528.03 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2p2.(1D).3p 2D* → 2p2.(1D).3d 2D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 528.03 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2p2.(1D).3p 2D* → 2p2.(1D).3d 2D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 533.07 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2p.3p 1S → 1s2.2p.3d 1P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 543.21 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3D* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 544 nm | তথ্য নেই | F VII | emission | 1s2.8p 2P* → 1s2.9d 2D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 544 nm | তথ্য নেই | F VII | emission | 1s2.8p 2P* → 1s2.9d 2D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 544 nm | তথ্য নেই | F VII | emission | 1s2.8p 2P* → 1s2.9d 2D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 545.91 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3D* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 549.84 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3D* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 549.99 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3D* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 556.76 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3D* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 560.85 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2p.3p 3P → 1s2.2p.3d 3D* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 568.67 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2s.2p.(3P*).3s 2P* → 2s.2p.(3P*).3p 2P | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 572.12 nm | তথ্য নেই | F III | emission | 2s2.2p3 2D* → 2s2.2p3 2P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 572.12 nm | তথ্য নেই | F III | emission | 2s2.2p3 2D* → 2s2.2p3 2P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 572.15 nm | তথ্য নেই | F III | emission | 2s2.2p3 2D* → 2s2.2p3 2P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 573.29 nm | তথ্য নেই | F III | emission | 2s2.2p3 2D* → 2s2.2p3 2P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 573.29 nm | তথ্য নেই | F III | emission | 2s2.2p3 2D* → 2s2.2p3 2P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 573.32 nm | তথ্য নেই | F III | emission | 2s2.2p3 2D* → 2s2.2p3 2P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 573.32 nm | তথ্য নেই | F III | emission | 2s2.2p3 2D* → 2s2.2p3 2P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 576.14 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2s.2p.(3P*).3s 2P* → 2s.2p.(3P*).3p 2P | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 585.63 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2s.2p.(3P*).3s 2P* → 2s.2p.(3P*).3p 2P | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 593.55 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2s.2p.(3P*).3s 2P* → 2s.2p.(3P*).3p 2P | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 604 nm | তথ্য নেই | F VII | emission | 1s2.8d 2D → 1s2.9p 2P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 604 nm | তথ্য নেই | F VII | emission | 1s2.8d 2D → 1s2.9p 2P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 604 nm | তথ্য নেই | F VII | emission | 1s2.8d 2D → 1s2.9p 2P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 683 nm | তথ্য নেই | F VII | emission | 1s2.9p 2P* → 1s2.10d 2D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 683 nm | তথ্য নেই | F VII | emission | 1s2.9p 2P* → 1s2.10d 2D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 683 nm | তথ্য নেই | F VII | emission | 1s2.9p 2P* → 1s2.10d 2D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 713.8 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4p 2D → 2s.2p.(3P*).4d 2F* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 719.4 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4p 2D → 2s.2p.(3P*).4d 2F* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 723.4 nm | তথ্য নেই | F VI | emission | 1s2.2p.4s 1P* → 1s2.2p.4p 1D | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 728.5 nm | তথ্য নেই | F VIII | emission | 1s.3s 1S → 1s.3p 1P* | পরিমাপকৃত | NIST | |
| 735.8 nm | তথ্য নেই | F V | emission | 2s.2p.(3P*).4p 2D → 2s.2p.(3P*).4d 2F* | পরিমাপকৃত | NIST |
বিস্তৃত ধর্ম
সমযোজী ব্যাসার্ধ (বিস্তৃত)
- সমযোজী ব্যাসার্ধ (পিউক্কো)
- 64 pm
- সমযোজী ব্যাসার্ধ (পিউক্কো, দ্বিবন্ধন)
- 59 pm
- সমযোজী ব্যাসার্ধ (পিউক্কো, ত্রিবন্ধন)
- 53 pm
- সমযোজী ব্যাসার্ধ (ব্র্যাগ)
- 67 pm
ভ্যান ডার ওয়ালস ব্যাসার্ধ
- Bondi
- 147 pm
- Batsanov
- 150 pm
- Alvarez
- 146 pm
- UFF
- 336.4 pm
- MM3
- 171 pm
- Dreiding
- 347.2 pm
- Rowland–Taylor
- 146 pm
পারমাণবিক ও ধাতব ব্যাসার্ধ
- পারমাণবিক ব্যাসার্ধ (রাম)
- 163 pm
সংখ্যায়ন স্কেল
- Mendeleev
- 106
- Pettifor
- 102
- Glawe
- 102
তড়িৎঋণাত্মকতার স্কেল
- Ghosh
- 0
- Gunnarsson–Lundqvist
- 11
- Robles–Bartolotti
- 10
মেরুকরণযোগ্যতা ও বিচ্ছুরণ
- দ্বিমেরু মেরুকরণযোগ্যতা
- 3.74 a.u.
- দ্বিমেরু মেরুকরণযোগ্যতা (অনিশ্চয়তা)
- 0.08 a.u.
- C₆
- 9.52 Ha·Bohr6
- C₆ (Gould–Bučko)
- 10.2 Ha·Bohr6
রাসায়নিক আসক্তি
- প্রোটন আসক্তি
- 340.1 kJ/mol
- গ্যাসীয় ক্ষারকত্ব
- 315.1 kJ/mol
সরবরাহের ঝুঁকি ও অর্থনীতি
- উৎপাদনের কেন্দ্রীভবন
- 56
- আপেক্ষিক সরবরাহের ঝুঁকি
- 7
- মজুতের বণ্টন
- 17
- রাজনৈতিক স্থিতিশীলতা (শীর্ষ উৎপাদক)
- 24
- রাজনৈতিক স্থিতিশীলতা (সর্বাধিক মজুতধারী)
- 44
দশান্তর ও রূপভেদ
| গলনাঙ্ক | 53.48 K |
| স্ফুটনাঙ্ক | 85.04 K |
| সংকট বিন্দু (তাপমাত্রা) | 144.41 K |
| সংকট বিন্দু (চাপ) | 5.17 MPa |
| ত্রৈধ বিন্দু (তাপমাত্রা) | 53.48 K |
| ত্রৈধ বিন্দু (চাপ) | 90 kPa |
জারণ অবস্থার শ্রেণি
উন্নত তথ্যসূত্রের উপাত্ত
আচ্ছাদন ধ্রুবক (3)
| n | অরবিটাল | σ |
|---|---|---|
| 1 | s | 0.3499 |
| 2 | p | 3.9 |
| 2 | s | 3.8724 |
স্ফটিক ব্যাসার্ধের বিস্তারিত (5)
| আধান | CN | স্পিন | rcrystal (pm) | উৎস |
|---|---|---|---|---|
| -1 | II | 114.5 | ||
| -1 | III | 116 | ||
| -1 | IV | 117 | ||
| -1 | VI | 119 | ||
| 7 | VI | 22 | Ahrens (1952) ionic radius, |
আইসোটোপের ক্ষয়প্রণালি (31)
| আইসোটোপ | মোড | তীব্রতা |
|---|---|---|
| 13 | p | — |
| 14 | p | — |
| 15 | p | 100% |
| 16 | p | 100% |
| 17 | B+ | 100% |
| 18 | B+ | 100% |
| 20 | B- | 100% |
| 21 | B- | 100% |
| 22 | B- | 100% |
| 22 | B-n | 11% |
এক্স-রে বিক্ষেপণ গুণক (502)
| শক্তি (eV) | f₁ | f₂ |
|---|---|---|
| 10 | — | 0.05165 |
| 10.1617 | — | 0.05648 |
| 10.3261 | — | 0.06176 |
| 10.4931 | — | 0.06754 |
| 10.6628 | — | 0.07386 |
| 10.8353 | — | 0.08077 |
| 11.0106 | — | 0.08833 |
| 11.1886 | — | 0.09659 |
| 11.3696 | — | 0.10831 |
| 11.5535 | — | 0.12462 |
অতিরিক্ত তথ্য
Estimated Crustal Abundance
The estimated element abundance in the earth's crust.
5.85×102 milligrams per kilogram
তথ্যসূত্র (1)
- [5] Fluorine https://education.jlab.org/itselemental/ele009.html
Estimated Oceanic Abundance
The estimated element abundance in the earth's oceans.
1.3 milligrams per liter
তথ্যসূত্র (1)
- [5] Fluorine https://education.jlab.org/itselemental/ele009.html
তথ্যসূত্র
(9)
Data deposited in or computed by PubChem
The half-life and atomic mass data was provided by the Atomic Mass Data Center at the International Atomic Energy Agency.
Element data are cited from the Atomic weights of the elements (an IUPAC Technical Report). The IUPAC periodic table of elements can be found at https://iupac.org/what-we-do/periodic-table-of-elements/. Additional information can be found within IUPAC publication doi:10.1515/pac-2015-0703 Copyright © 2020 International Union of Pure and Applied Chemistry.
The information are cited from Pure Appl. Chem. 2018; 90(12): 1833-2092, https://doi.org/10.1515/pac-2015-0703.
Thomas Jefferson National Accelerator Facility (Jefferson Lab) is one of 17 national laboratories funded by the U.S. Department of Energy. The lab's primary mission is to conduct basic research of the atom's nucleus using the lab's unique particle accelerator, known as the Continuous Electron Beam Accelerator Facility (CEBAF). For more information visit https://www.jlab.org/
The periodic table at the LANL (Los Alamos National Laboratory) contains basic element information together with the history, source, properties, use, handling and more. The provenance data may be found from the link under the source name.
The periodic table contains NIST's critically-evaluated data on atomic properties of the elements. The provenance data that include data for atomic spectroscopy, X-ray and gamma ray, radiation dosimetry, nuclear physics, and condensed matter physics may be found from the link under the source name. Ref: https://www.nist.gov/pml/atomic-spectra-database
This section provides all form of data related to element Fluorine.
The element property data was retrieved from publications.